Ein Testbarkeitsanalysemaß für den testfreundlichen Entwurf integrierter Schaltkreise auf Register-Transfer-Niveau

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Metadaten
Author:Franz Wosnitza
Parent Title (German):ITG-Fachberichte. 98 (1987)
Document Type:Article
Language:German
Year of Completion:1987
Date of the Publication (Server):2012/12/18
First Page:291
Last Page:295
Note:
ITG-Fachtagung vom 16. bis 18. März 1987 in Baden-Baden über Grossintegration
Institutes:FH Aachen / Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik