@article{Heuermann1997,
  author    = {Heuermann, Holger},
  title     = {Microwave On-Wafer Measurements with Activ Needle Probe Tips},
  pages     = {208 -- 214},
  year      = {1997},
  language  = {en}
}
@article{HeuermannSchiek1992,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {The In-Fixture Calibration Procedure Line-Network-Network-LNN},
  series = {Conference proceedings : monday 6th to thursday 9th september 1993, Palacio de Congresos, Madrid, Spain ; [the international conference and exhibition designed for the Microwave Community]},
  journal   = {Conference proceedings : monday 6th to thursday 9th september 1993, Palacio de Congresos, Madrid, Spain ; [the international conference and exhibition designed for the Microwave Community]},
  publisher = {Reed Exhibition Companies},
  address   = {Tunbridge Wells},
  isbn      = {0-946821-23-2},
  pages     = {500 -- 505},
  year      = {1992},
  language  = {en}
}
@article{HeuermannSchiek1994,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {Scattering Parameter Measurements of Microstrip Devices using the Double-LNN Calibration Technique},
  series = {Conference proceedings : [Palais des Festivals et des Congr{\`e}s Cannes, France, 5 - 8 September 1994]},
  journal   = {Conference proceedings : [Palais des Festivals et des Congr{\`e}s Cannes, France, 5 - 8 September 1994]},
  publisher = {Nexus Business Communications},
  address   = {Swanley},
  isbn      = {0-9518032-5-5},
  year      = {1994},
  language  = {en}
}
@article{HeuermannSchiek1993,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {LNN( Line-Network-Network): The In-Fixture Calibration Procedure},
  pages     = {149 -- 149},
  year      = {1993},
  language  = {en}
}
@article{HeuermannSchiek1992,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {A Fast and Robust Procedure for the Determination of the Scattering Parameters for Network Analyzer Calibration},
  address   = {Paris},
  pages     = {373 -- 374},
  year      = {1992},
  language  = {en}
}
@article{HeuermannSchiek1994,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {Error Corrected Impedance Measurements with a Network Analyzer},
  pages     = {125 -- 126},
  year      = {1994},
  language  = {en}
}
@article{HeuermannSchiek1992,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {A Generalization of the Txx Network Analyzer Self-Calibration Procedure},
  series = {Conference proceedings : monday 24th to thursday 27th august 1992, Helsinki University of Technology, Espoo, Finland ; [the international conference and exhibition designed for the Microwave Community]. Vol. 2},
  journal   = {Conference proceedings : monday 24th to thursday 27th august 1992, Helsinki University of Technology, Espoo, Finland ; [the international conference and exhibition designed for the Microwave Community]. Vol. 2},
  publisher = {Microwave Exhibitions and Publishers},
  address   = {Tunbridge Wells},
  isbn      = {0-946821-77-1},
  pages     = {907 -- 912},
  year      = {1992},
  language  = {en}
}
@article{HeuermannGraf1997,
  author    = {Heuermann, Holger and Graf, W.},
  title     = {Direkte Messung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 40. 1997 (1997)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 40. 1997 (1997)},
  year      = {1997},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannGraf1998,
  author    = {Heuermann, Holger and Graf, W.},
  title     = {Direkte on-wafer-Messung des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 41. 1998 (1998)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 41. 1998 (1998)},
  year      = {1998},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannStolleSchiek1995,
  author    = {Heuermann, Holger and Stolle, Reinhard and Schiek, Burkhard},
  title     = {Neuartige Algorithmen fuer die Mikrowellen-Entfernungsmessung},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995)},
  pages     = {817 -- 834},
  year      = {1995},
  language  = {de}
}
@article{Heuermann1995,
  author    = {Heuermann, Holger},
  title     = {Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten},
  series = {Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse f{\"u}r Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]},
  journal   = {Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse f{\"u}r Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]},
  address   = {Hagenburg},
  isbn      = {3-924651-45-0},
  pages     = {23 -- 29},
  year      = {1995},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannSchiek1992,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {LNN (Line-Network-Network): Verfahren zur Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 36. 1992 (1992)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 36. 1992 (1992)},
  pages     = {327 -- 335},
  year      = {1992},
  language  = {en}
}
@article{HeuermannSchiek1993,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993)},
  pages     = {195 -- 204},
  year      = {1993},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannSchiek1994,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)},
  pages     = {611 -- 622},
  year      = {1994},
  language  = {de}
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@article{HeuermannGraf1996,
  author    = {Heuermann, Holger and Graf, W.},
  title     = {Vergleich mehrerer Naeherungsverfahren zur Berechnung des Wellenwiderstandes von Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Ergebnissen},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996)},
  year      = {1996},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannSchiek1994,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {Calibration of network analyser measurements with leakage errors},
  series = {Electronics letters. 30 (1994), H. 1},
  journal   = {Electronics letters. 30 (1994), H. 1},
  isbn      = {0013-5194},
  pages     = {52 -- 53},
  year      = {1994},
  language  = {en}
}
@article{Heuermann1997,
  author    = {Heuermann, Holger},
  title     = {Leerl{\"a}ufe als postulierte Kalibrierstandards fuer Messungen auf planaren Schaltungen},
  series = {tm - Technisches Messen. 64. 1997 (1997), H. 6},
  journal   = {tm - Technisches Messen. 64. 1997 (1997), H. 6},
  pages     = {230 -- 237},
  year      = {1997},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannStolleSchiek1995,
  author    = {Heuermann, Holger and Stolle, Reinhard and Schiek, Burkhard},
  title     = {Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich},
  series = {tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2},
  journal   = {tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2},
  pages     = {66 -- 73},
  year      = {1995},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannSchiek1991,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung f{\"u}r systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 35. 1991 (1991)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 35. 1991 (1991)},
  pages     = {555 -- 556},
  year      = {1991},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannSchiek1997,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, B.},
  title     = {15-term self-calibration methods for the error-correction of on-wafer measurements},
  series = {IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5},
  journal   = {IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5},
  isbn      = {0018-9456},
  pages     = {1105 -- 1110},
  year      = {1997},
  language  = {en}
}