@article{BaeckerKowollikSchnitzleretal.2009,
  author    = {B{\"a}cker, Matthias and Kowollik, Silvia and Schnitzler, Thomas and Wang, J. and Poghossian, Arshak and Zang, Werner and Biselli, Manfred and Wagner, P. and Sch{\"o}ning, Michael Josef},
  title     = {Entwicklung eines festk{\"o}rperbasierten Sensorsystems f{\"u}r die Bioprozessautomatisierung},
  series = {9. Dresdner Sensor-Symposium : Dresden, 07.-09. Dezember 2009 / Gerlach, Gerald ; Hauptmann, Peter [Hrsg.]},
  journal   = {9. Dresdner Sensor-Symposium : Dresden, 07.-09. Dezember 2009 / Gerlach, Gerald ; Hauptmann, Peter [Hrsg.]},
  publisher = {TUDpress},
  address   = {Dresden},
  isbn      = {978-3-941298-44-6},
  pages     = {197 -- 200},
  year      = {2009},
  language  = {de}
}
@article{BaeckerSchusserPoghossianetal.2013,
  author    = {B{\"a}cker, Matthias and Schusser, Sebastian and Poghossian, Arshak and Sch{\"o}ning, Michael Josef},
  title     = {Degradationsverhalten bioabbaubarer Polymere : siliziumbasierte Sensorik zur {\"U}berwachung},
  series = {GIT Labor-Fachzeitschrift},
  journal   = {GIT Labor-Fachzeitschrift},
  publisher = {Wiley-VCH},
  address   = {Weinheim},
  issn      = {0016-3538},
  pages     = {32 -- 33},
  year      = {2013},
  language  = {de}
}
@article{KnobbeSchoeningPoghossianetal.2004,
  author    = {Knobbe, D.-T. and Sch{\"o}ning, Michael Josef and Poghossian, Arshak and Mourzina, Y.},
  title     = {Charakterisierung von kapazitiven EMISSensoren mittels Impedanzspektroskopie, Kapazit{\"a}ts-Spannungs- und Konstant-Kapazit{\"a}ts-Messung},
  series = {Sensoren und Messsysteme 2004 : Tagung Ludwigsburg, 15. und 16. M{\"a}rz 2004 / VDI-VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik},
  journal   = {Sensoren und Messsysteme 2004 : Tagung Ludwigsburg, 15. und 16. M{\"a}rz 2004 / VDI-VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik},
  publisher = {VDI},
  address   = {D{\"u}sseldorf},
  isbn      = {3-18-091829-2},
  pages     = {851 -- 854},
  year      = {2004},
  language  = {de}
}
@article{PoghossianWagnerSchoening2010,
  author    = {Poghossian, Arshak and Wagner, H. and Sch{\"o}ning, Michael Josef},
  title     = {Automatisiertes „wafer level"-Testsystem zur Charakterisierung von siliziumbasierten Chemo- und Biosensoren},
  series = {Sensoren und Messsysteme 2010 [Elektronische Ressource] : Vortr{\"a}ge der 15. ITG/GMA-Fachtagung vom 18. bis 19. Mai 2010 in N{\"u}rnberg / Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG); VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA)},
  journal   = {Sensoren und Messsysteme 2010 [Elektronische Ressource] : Vortr{\"a}ge der 15. ITG/GMA-Fachtagung vom 18. bis 19. Mai 2010 in N{\"u}rnberg / Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG); VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA)},
  publisher = {VDE Verlag},
  address   = {Berlin},
  isbn      = {978-3-8007-3260-9},
  pages     = {89 -- 92},
  year      = {2010},
  language  = {de}
}