@article{HeuermannStolleSchiek1995,
  author    = {Heuermann, Holger and Stolle, Reinhard and Schiek, Burkhard},
  title     = {Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich},
  series = {tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2},
  journal   = {tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2},
  pages     = {66 -- 73},
  year      = {1995},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannStolleSchiek1995,
  author    = {Heuermann, Holger and Stolle, Reinhard and Schiek, Burkhard},
  title     = {Neuartige Algorithmen fuer die Mikrowellen-Entfernungsmessung},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995)},
  pages     = {817 -- 834},
  year      = {1995},
  language  = {de}
}
@article{Heuermann1995,
  author    = {Heuermann, Holger},
  title     = {Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten},
  series = {Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse f{\"u}r Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]},
  journal   = {Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse f{\"u}r Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]},
  address   = {Hagenburg},
  isbn      = {3-924651-45-0},
  pages     = {23 -- 29},
  year      = {1995},
  language  = {de}
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@article{HeuermannSchiek1995,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {The double-LNN Calibration technique for scattering parameter measurements of microstrip devices},
  series = {Conference proceedings},
  journal   = {Conference proceedings},
  publisher = {NEXUS House},
  address   = {Kent},
  pages     = {343 -- 347},
  year      = {1995},
  language  = {en}
}
@article{Heuermann1995,
  author    = {Heuermann, Holger},
  title     = {LZY: A Self-Calibration Approach in Competition to the LRM Method for On-Wafer Measurements},
  pages     = {129 -- 136},
  year      = {1995},
  language  = {en}
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@article{HeuermannSchiek1994,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, B.},
  title     = {Robust Algorithms for Txx Network Analyzer Self-Calibration Procedures},
  series = {IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 43 (1994), H. 1},
  journal   = {IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 43 (1994), H. 1},
  isbn      = {0018-9456},
  pages     = {18 -- 23},
  year      = {1994},
  language  = {en}
}
@article{HeuermannSchiek1994,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {Calibration of network analyser measurements with leakage errors},
  series = {Electronics letters. 30 (1994), H. 1},
  journal   = {Electronics letters. 30 (1994), H. 1},
  isbn      = {0013-5194},
  pages     = {52 -- 53},
  year      = {1994},
  language  = {en}
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@article{HeuermannSchiek1994,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)},
  pages     = {611 -- 622},
  year      = {1994},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannSchiek1994,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {Error Corrected Impedance Measurements with a Network Analyzer},
  pages     = {125 -- 126},
  year      = {1994},
  language  = {en}
}
@article{HeuermannSchiek1994,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {Scattering Parameter Measurements of Microstrip Devices using the Double-LNN Calibration Technique},
  series = {Conference proceedings : [Palais des Festivals et des Congr{\`e}s Cannes, France, 5 - 8 September 1994]},
  journal   = {Conference proceedings : [Palais des Festivals et des Congr{\`e}s Cannes, France, 5 - 8 September 1994]},
  publisher = {Nexus Business Communications},
  address   = {Swanley},
  isbn      = {0-9518032-5-5},
  year      = {1994},
  language  = {en}
}