@book{OPUS4-4303,
  title     = {Ingenieurfreunde FH Aachen : 75 Jahre F{\"o}rderverein; Elektrotechnik und Informationstechnik, Luft- und Raumfahrttechnik, Maschinenbau und Mechatronik / [Hrsg.: Ingenieurfreunde FH Aachen e. V. ; Red.: H. J. Raatschen]},
  editor    = {Raatschen, Hans-J{\"u}rgen},
  publisher = {Klinkenberg},
  address   = {Aachen},
  isbn      = {978-3-941704-03-9},
  pages     = {112 S. : Ill., graph. Darst.},
  year      = {2010},
  language  = {de}
}
@incollection{ReisgenSchleserStieglitz2010,
  author    = {Reisgen, Uwe and Schleser, Markus and Stieglitz, Anja},
  title     = {Kleben in anspruchsvollen Anwendungsbereichen},
  series = {Jahrbuch Schweißtechnik 2011},
  booktitle = {Jahrbuch Schweißtechnik 2011},
  publisher = {DVS},
  address   = {D{\"u}sseldorf},
  isbn      = {0935-0292},
  pages     = {226 -- 235},
  year      = {2010},
  language  = {de}
}
@inproceedings{ReisgenSchleserHarmsetal.2010,
  author    = {Reisgen, Uwe and Schleser, Markus and Harms, Alexander and Schiebahn, Alexander},
  title     = {Konduktiv unterst{\"u}tztes R{\"u}hrreibschweißen an Stahl- und Aluminiumwerkstoffen},
  series = {DVS congress 2010 : Große Schweißtechnische Tagung ; Studentenkongress ; Statusseminar "Schneidtechnik" ; Abschlusskolloquium zum AiF-Forschungscluster "Integration des R{\"u}hrreibschweißens in Fertigungsprozessketten" ; Vortr{\"a}ge der Veranstaltung in N{\"u}rnberg am 27. und 28. September 2010. (DVS-Berichte ; 267)},
  booktitle = {DVS congress 2010 : Große Schweißtechnische Tagung ; Studentenkongress ; Statusseminar "Schneidtechnik" ; Abschlusskolloquium zum AiF-Forschungscluster "Integration des R{\"u}hrreibschweißens in Fertigungsprozessketten" ; Vortr{\"a}ge der Veranstaltung in N{\"u}rnberg am 27. und 28. September 2010. (DVS-Berichte ; 267)},
  publisher = {DVS Media},
  address   = {D{\"u}sseldorf},
  organization    = {Deutscher Verband f{\"u}r Schweißen und Verwandte Verfahren ; Große Schweißtechnische Tagung <2010, N{\"u}rnberg>},
  isbn      = {978-3-87155-592-3},
  pages     = {394 -- 398},
  year      = {2010},
  language  = {de}
}
@techreport{Wollert2010,
  author    = {Wollert, J{\"o}rg},
  title     = {MAUS - Mobile Ad-hoc Netzwerke f{\"u}r Userspezifische Systeme : Abschlussbericht (BMBF-Forschungsbericht)},
  publisher = {BMBF},
  address   = {Berlin},
  pages     = {67 S.},
  year      = {2010},
  language  = {de}
}
@article{ReisgenSchleserJerabeketal.2010,
  author    = {Reisgen, Uwe and Schleser, Markus and Jerabek, Jakub and Chudoba, Rostislav},
  title     = {Messung der Strahlqualit{\"a}t einer Elektronenstrahlanlage in Umgebungsatmosph{\"a}re},
  series = {Materialwissenschaft und Werkstofftechnik},
  volume    = {41},
  journal   = {Materialwissenschaft und Werkstofftechnik},
  number    = {1},
  publisher = {Wiley-VCH},
  address   = {Weinheim},
  issn      = {1521-4052},
  pages     = {45 -- 52},
  year      = {2010},
  abstract  = {In den letzten Jahrzehnten hat das Elektronenstrahlschweißen, das bereits im gr{\"o}ßeren Maßstab verwendet wird, seine F{\"a}higkeit als qualitatives Werkzeug f{\"u}r die Verbindung verschiedener Materialen nachgewiesen. Das Non Vacuum Electron Beam Welding (NV-EBW) hat zahlreiche Vorteile im Vergleich zum Elektronenstrahlschweißen im Vakuum, da man unter normalem Atmosph{\"a}rendruck arbeiten kann. Im Hinblick auf die reproduzierbare Qualit{\"a}t, insbesondere im Bereich der Massen-Fertigung, ist die Kontrolle der Strahlparameter sowie deren Einfluss auf das Schweißergebnis von großer Bedeutung. Durch eine genaue Kenntnis der Strahlkenngr{\"o}ßen wie des Strahldurchmessers und der Leistungsdichteverteilung kann eine Aussage {\"u}ber die sich ausbildende Schweißnaht sowie die Schweißbaddynamik getroffen werden. Messungen der Strahlkenngr{\"o}ßen im Prozess erlauben insbesondere die Untersuchung von Humping-Effekten. In diesem Beitrag wird der Prozess der Elektronenstrahlvermessung unter atmosph{\"a}rischen Bedingungen beschrieben. Es wird zudem die Abh{\"a}ngigkeit der Elektronenstrahlcharakteristika von den verschiedenen Prozessparametern dargestellt.},
  language  = {de}
}
@misc{Wollert2010,
  author    = {Wollert, J{\"o}rg},
  title     = {Neue Wege in der Kommunikation - Wireless Technologie f{\"u}r Automatisierungsl{\"o}sungen},
  organization    = {Fachforum Automatisierung <2010, Lemgo>},
  pages     = {1 -- 17},
  year      = {2010},
  language  = {de}
}
@book{Thomas2010,
  author    = {Thomas, Axel},
  title     = {Rhetorische Knallfr{\"o}sche : Zitatensammlung f{\"u}r Politik und Wirtschaft},
  publisher = {Neck + Heyn},
  address   = {Aachen},
  isbn      = {978-3-00-033037-7},
  pages     = {145 S. : Ill.},
  year      = {2010},
  language  = {de}
}
@incollection{Raatschen2010,
  author    = {Raatschen, Hans-J{\"u}rgen},
  title     = {Von der K{\"o}niglichen H{\"o}heren Maschinenbauschule Aachen zu den Ingenieurfachbereichen der FH Aachen},
  series = {Ingenieurfreunde FH Aachen : 75 Jahre F{\"o}rderverein; Elektrotechnik und Informationstechnik, Luft- und Raumfahrttechnik, Maschinenbau und Mechatronik},
  booktitle = {Ingenieurfreunde FH Aachen : 75 Jahre F{\"o}rderverein; Elektrotechnik und Informationstechnik, Luft- und Raumfahrttechnik, Maschinenbau und Mechatronik},
  publisher = {Klinkenberg},
  address   = {Aachen},
  isbn      = {978-3-941704-03-9},
  pages     = {13 -- 18},
  year      = {2010},
  subject      = {Geschichte},
  language  = {de}
}
@book{Wollert2010,
  author    = {Wollert, J{\"o}rg},
  title     = {Wireless Technologies : 12. Kongress, 22. - 23. September 2010, Bochum ; von der Technologie zur Anwendung / J{\"o}rg F. Wollert (Hrsg.) (Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 10, Informatik, Kommunikation ; 810)},
  publisher = {VDI-Verl.},
  address   = {D{\"u}sseldorf},
  isbn      = {978-3-18-381010-9},
  pages     = {XI, 373 S.},
  year      = {2010},
  language  = {de}
}