@incollection{ReisgenSchleserStieglitz2010,
  author    = {Reisgen, Uwe and Schleser, Markus and Stieglitz, Anja},
  title     = {Kleben in anspruchsvollen Anwendungsbereichen},
  series = {Jahrbuch Schweißtechnik 2011},
  booktitle = {Jahrbuch Schweißtechnik 2011},
  publisher = {DVS},
  address   = {D{\"u}sseldorf},
  isbn      = {0935-0292},
  pages     = {226 -- 235},
  year      = {2010},
  language  = {de}
}
@inproceedings{ReisgenSchleserMokrovetal.2010,
  author    = {Reisgen, Uwe and Schleser, Markus and Mokrov, Oleg and Schmidt, A. and Rossiter, E. and Loose, T.},
  title     = {Durchg{\"a}ngige Schweißsimulation der Eigenspannung und des Gef{\"u}gezustands auf Basis realer Schweißstromquellenparameter},
  series = {DVS congress 2010 : Große Schweißtechnische Tagung ; Studentenkongress ; Statusseminar "Schneidtechnik" ; Abschlusskolloquium zum AiF-Forschungscluster "Integration des R{\"u}hrreibschweißens in Fertigungsprozessketten" ; Vortr{\"a}ge der Veranstaltung in N{\"u}rnberg am 27. und 28. September 2010. (DVS-Berichte ; 267)},
  booktitle = {DVS congress 2010 : Große Schweißtechnische Tagung ; Studentenkongress ; Statusseminar "Schneidtechnik" ; Abschlusskolloquium zum AiF-Forschungscluster "Integration des R{\"u}hrreibschweißens in Fertigungsprozessketten" ; Vortr{\"a}ge der Veranstaltung in N{\"u}rnberg am 27. und 28. September 2010. (DVS-Berichte ; 267)},
  publisher = {DVS Media},
  address   = {D{\"u}sseldorf},
  organization    = {Deutscher Verband f{\"u}r Schweißen und Verwandte Verfahren ; Große Schweißtechnische Tagung <2010, N{\"u}rnberg>},
  isbn      = {978-3-87155-592-3},
  pages     = {37 -- 42},
  year      = {2010},
  language  = {de}
}
@article{ReisgenSchleserJerabeketal.2010,
  author    = {Reisgen, Uwe and Schleser, Markus and Jerabek, Jakub and Chudoba, Rostislav},
  title     = {Messung der Strahlqualit{\"a}t einer Elektronenstrahlanlage in Umgebungsatmosph{\"a}re},
  series = {Materialwissenschaft und Werkstofftechnik},
  volume    = {41},
  journal   = {Materialwissenschaft und Werkstofftechnik},
  number    = {1},
  publisher = {Wiley-VCH},
  address   = {Weinheim},
  issn      = {1521-4052},
  pages     = {45 -- 52},
  year      = {2010},
  abstract  = {In den letzten Jahrzehnten hat das Elektronenstrahlschweißen, das bereits im gr{\"o}ßeren Maßstab verwendet wird, seine F{\"a}higkeit als qualitatives Werkzeug f{\"u}r die Verbindung verschiedener Materialen nachgewiesen. Das Non Vacuum Electron Beam Welding (NV-EBW) hat zahlreiche Vorteile im Vergleich zum Elektronenstrahlschweißen im Vakuum, da man unter normalem Atmosph{\"a}rendruck arbeiten kann. Im Hinblick auf die reproduzierbare Qualit{\"a}t, insbesondere im Bereich der Massen-Fertigung, ist die Kontrolle der Strahlparameter sowie deren Einfluss auf das Schweißergebnis von großer Bedeutung. Durch eine genaue Kenntnis der Strahlkenngr{\"o}ßen wie des Strahldurchmessers und der Leistungsdichteverteilung kann eine Aussage {\"u}ber die sich ausbildende Schweißnaht sowie die Schweißbaddynamik getroffen werden. Messungen der Strahlkenngr{\"o}ßen im Prozess erlauben insbesondere die Untersuchung von Humping-Effekten. In diesem Beitrag wird der Prozess der Elektronenstrahlvermessung unter atmosph{\"a}rischen Bedingungen beschrieben. Es wird zudem die Abh{\"a}ngigkeit der Elektronenstrahlcharakteristika von den verschiedenen Prozessparametern dargestellt.},
  language  = {de}
}