@article{HeuermannSchiek1995, author = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard}, title = {The double-LNN Calibration technique for scattering parameter measurements of microstrip devices}, series = {Conference proceedings}, journal = {Conference proceedings}, publisher = {NEXUS House}, address = {Kent}, pages = {343 -- 347}, year = {1995}, language = {en} } @article{Heuermann1995, author = {Heuermann, Holger}, title = {LZY: A Self-Calibration Approach in Competition to the LRM Method for On-Wafer Measurements}, pages = {129 -- 136}, year = {1995}, language = {en} } @article{Heuermann1996, author = {Heuermann, Holger}, title = {Sure Methods of On-Wafer Scattering Parameter Measurements with Self-Calibration Procedures}, pages = {136 -- 145}, year = {1996}, language = {en} } @article{Heuermann1997, author = {Heuermann, Holger}, title = {Microwave On-Wafer Measurements with Activ Needle Probe Tips}, pages = {208 -- 214}, year = {1997}, language = {en} } @article{HeuermannSchiek1994, author = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard}, title = {Results of Network Analyzer Measurements with Leakage Errors Corrected with the TMS-15-Term Procedure}, pages = {1361 -- 1364}, year = {1994}, language = {en} } @article{HeuermannBaumannFauthetal.1994, author = {Heuermann, Holger and Baumann, F.-M. and Fauth, G. and Albert, M.}, title = {Results of Network Analyzer Measurements with Leakage Errors Corrected with the TMS-15-Term Procedure}, series = {On-Line Moisture Analysis of Raw Coal}, journal = {On-Line Moisture Analysis of Raw Coal}, pages = {1361 -- 1364}, year = {1994}, language = {en} } @article{HeuermannSchiek1992, author = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard}, title = {LNN (Line-Network-Network): Verfahren zur Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren}, series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 36. 1992 (1992)}, journal = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 36. 1992 (1992)}, pages = {327 -- 335}, year = {1992}, language = {en} } @article{HeuermannSchiek1993, author = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard}, title = {Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen}, series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993)}, journal = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993)}, pages = {195 -- 204}, year = {1993}, language = {de} } @article{HeuermannSchiek1994, author = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard}, title = {Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren}, series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)}, journal = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)}, pages = {611 -- 622}, year = {1994}, language = {de} } @article{HeuermannGraf1996, author = {Heuermann, Holger and Graf, W.}, title = {Vergleich mehrerer Naeherungsverfahren zur Berechnung des Wellenwiderstandes von Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Ergebnissen}, series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996)}, journal = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996)}, year = {1996}, language = {de} }