@article{LaackCasser1989,
  author    = {Laack, Walter van and Casser, H.-R.},
  title     = {Arthroskopische Behandlung der Osteochondrosis dissecans an der medialen Femurrolle},
  series = {Arthroskopie. 2 (1989), H. 1},
  journal   = {Arthroskopie. 2 (1989), H. 1},
  isbn      = {0933-7946},
  pages     = {16 -- 18},
  year      = {1989},
  language  = {de}
}
@inproceedings{StaatHeitzerHicken1998,
  author    = {Staat, Manfred and Heitzer, M. and Hicken, E. F.},
  title     = {LISA, ein europ{\"a}isches Projekt zur direkten Berechnung der Tragf{\"a}higkeit duktiler Strukturen},
  year      = {1998},
  abstract  = {Traglast- und Einspielanalysen sind vereinfachte doch exakte Verfahren der Plastizit{\"a}t, die neben ausreichender Verformbarkeit keine einschr{\"a}nkenden Voraussetzungen beinhalten. Die Vereinfachungen betreffen die Beschaffung der Daten und Modelle f{\"u}r Details der Lastgeschichte und des Stoffverhaltens. Anders als die klassische Behandlung nichtlinearer Probleme der Strukturmechanik f{\"u}hrt die Methode auf Optimierungsprobleme. Diese sind bei realistischen FEM-Modellen sehr groß. Das hat die industrielle Anwendung der Traglast- und Einspielanalysen stark verz{\"o}gert. Diese Situation wird durch das Brite-EuRam Projekt LISA grundlegend ge{\"a}ndert. Die Autoren m{\"o}chten der Europ{\"a}ischen Kommission an dieser Stelle f{\"u}r die F{\"o}rderung ausdr{\"u}cklich danken. In LISA entsteht auf der Basis des industriellen FEM-Programms PERMAS ein Verfahren zur direkten Berechnung der Tragf{\"a}higkeit duktiler Strukturen. Damit kann der Betriebsbereich von Komponenten und Bauwerken auf den plastischen Bereich erweitert werden, ohne den Aufwand gegen{\"u}ber elastischen Analysen wesentlich zu erh{\"o}hen. Die beachtlichen Rechenzeitgewinne erlauben Parameterstudien und die Berechnung von Interaktionsdiagrammen, die einen schnellen {\"U}berblick {\"u}ber m{\"o}gliche Betriebsbereiche vermitteln. Es zeigt sich, daß abh{\"a}ngig von der Komponente und ihren Belastungen teilweise entscheidende Sicherheitsgewinne zur Erweiterung der Betriebsbereiche erzielt werden k{\"o}nnen. Das Vorgehen erfordert vom Anwender oft ein gewisses Umdenken. Es werden keine Spannungen berechnet, um damit Sicherheit und Lebensdauer zu interpretieren. Statt dessen berechnet man direkt die gesuchte Sicherheit. Der Post-Prozessor wird nur noch zur Modell- und Rechenkontrolle ben{\"o}tigt. Das Vorgehen ist {\"a}nhlich der Stabilit{\"a}tsanalyse (Knicken, Beulen). Durch namhafte industrielle Projektpartner werden Validierung und die Anwendbarkeit auf eine breite Palette technischer Probleme garantiert. Die ebenfalls in LISA geplante Zuverl{\"a}ssigkeitsanalyse ist erst auf der Basis direkter Verfahren effektiv m{\"o}glich. Ohne Traglast- und Einspielanalyse ist plastische Strukturoptimierung auch heute kaum durchf{\"u}hrbar.},
  subject      = {Finite-Elemente-Methode},
  language  = {de}
}
@article{KloockPoghossianSchumacheretal.2006,
  author    = {Kloock, Joachim P. and Poghossian, Arshak and Schumacher, K. and Rosenkranz, C. and Schultze, J. W. and M{\"u}ller-Veggian, Mattea and Sch{\"o}ning, Michael Josef},
  title     = {Funktionspr{\"u}fung und Charakterisierung von ionensensitiven Feldeffekttransistoren (ISFETs) auf Waferebene mittels Mikrotropfenzelle f{\"u}r den zuk{\"u}nftigen Einsatz in der Sensorproduktion},
  series = {Sensoren und Messsysteme 2006 : Vortr{\"a}ge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14. M{\"a}rz 2006 in Freiburg/Breisgau / Veranst.: Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG) ; VDE/VDI-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA). Wiss. Tagungsleitung: L. M. Reindl},
  journal   = {Sensoren und Messsysteme 2006 : Vortr{\"a}ge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14. M{\"a}rz 2006 in Freiburg/Breisgau / Veranst.: Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG) ; VDE/VDI-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA). Wiss. Tagungsleitung: L. M. Reindl},
  publisher = {VDE-Verl.},
  address   = {Berlin},
  isbn      = {3-8007-2939-3},
  pages     = {257 -- 260},
  year      = {2006},
  language  = {de}
}
@inproceedings{SchoeningAbouzarHanetal.2006,
  author    = {Sch{\"o}ning, Michael Josef and Abouzar, Maryam H. and Han, Y. and Ingebrandt, S. and Offenh{\"a}usser, A. and Poghossian, Arshak},
  title     = {Markierungsfreie DNA-Detektion mit Silizium-Feldeffektsensoren - Messeffekte oder Artefakte?},
  series = {Sensoren und Mess-Systeme 2006 : Vortr{\"a}ge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14.3.2006 in Freiburg/Breisgau},
  booktitle = {Sensoren und Mess-Systeme 2006 : Vortr{\"a}ge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14.3.2006 in Freiburg/Breisgau},
  publisher = {VDE Verl.},
  address   = {Berlin},
  isbn      = {3-8007-2939-3},
  pages     = {443 -- 446},
  year      = {2006},
  language  = {de}
}
@article{AbouzarSchoeningPoghossianetal.2008,
  author    = {Abouzar, Maryam H. and Sch{\"o}ning, Michael Josef and Poghossian, Arshak and Christiaens, P. and Williams, O. A. and Wagner, P. and Haenen, K.},
  title     = {Feldeffektsensor auf nanokristalliner Diamantbasis},
  series = {Sensoren und Messsysteme 2008 : 14. Fachtagung Ludwigsburg, 11. und 12. M{\"a}rz 2008 / VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik},
  journal   = {Sensoren und Messsysteme 2008 : 14. Fachtagung Ludwigsburg, 11. und 12. M{\"a}rz 2008 / VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik},
  publisher = {VDI-Verl.},
  address   = {D{\"u}sseldorf},
  isbn      = {978-3-18-092011-5},
  pages     = {549 -- 558},
  year      = {2008},
  language  = {de}
}