@book{GollandKoglin2018,
  author    = {Golland, Alexander and Koglin, Olaf},
  title     = {Kirchliches Datenschutzrecht: Datenschutz-Grundverordnung, Datenschutzvorschriften der Kirchen in Deutschland und Durchf{\"u}hrungsverordnungen / herausgegeben von Alexander Golland und Olaf Koglin},
  edition   = {1. Auflage},
  publisher = {Createspace Independent Publishing Platform},
  address   = {North Charleston},
  isbn      = {978-1-7210-2406-3},
  pages     = {312 Seiten},
  year      = {2018},
  abstract  = {Textsammlung mit allen f{\"u}r den Datenschutz in Kirchen maßgeblichen Regelwerken: DSGVO, KDG, KDR-OG und DSG-EKD sowie begleitende Verordnungen KDO-DVO und ITSVO-EKD. Die vorliegende Textsammlung enth{\"a}lt neben dem zentralen Regelwerk, der Datenschutz-Grundverordnung (DSGVO) in ihrer letzten korrigierten Fassung vom 19. April 2018, die Normen des kirchlichen Rechts, die aufgrund der DSGVO neu erlassen wurden. Auf Seiten der katholischen Kirche sind dies das Gesetz {\"u}ber den Kirchlichen Datenschutz (KDG) und die Kirchliche Datenschutzregelung der Ordensgemeinschaft p{\"a}pstlichen Rechts (KDR-OG); zudem findet die Verordnung zur Durchf{\"u}hrung der Anordnung {\"u}ber den kirchlichen Datenschutz (KDO-DVO) weiterhin entsprechende Anwendung. Die evangelische Kirche novellierte das Kirchengesetz {\"u}ber den Datenschutz der Evangelischen Kirche in Deutschland (DSG-EKD) und hielt an der Verordnung zur Sicherheit der Informationstechnik (ITSVO-EKD) fest. Erg{\"a}nzt wird das Werk durch Verweise auf maßgebliche Ver{\"o}ffentlichungen der Artikel-29-Datenschutzgruppe und der weltlichen und kirchlichen Datenschutzaufsichtsbeh{\"o}rden. Damit richtet sich das vorliegende Werk vor allem an kirchliche Gemeinden sowie Unternehmen in kirchlicher Tr{\"a}gerschaft und ihre Datenschutzbeauftragten wie gleichermaßen an private Unternehmen, Kanzleien und Berater mit kirchlicher Kundschaft bzw. Mandantschaft.},
  language  = {de}
}
@article{MolinnusPoghossianKeusgenetal.2017,
  author    = {Molinnus, Denise and Poghossian, Arshak and Keusgen, Michael and Katz, Evgeny and Sch{\"o}ning, Michael Josef},
  title     = {Coupling of Biomolecular Logic Gates with Electronic Transducers: From Single Enzyme Logic Gates to Sense/Act/Treat Chips},
  series = {Electroanalysis},
  volume    = {29},
  journal   = {Electroanalysis},
  number    = {8},
  publisher = {Wiley},
  address   = {Weinheim},
  issn      = {1521-4109},
  doi       = {10.1002/elan.201700208},
  pages     = {1840 -- 1849},
  year      = {2017},
  abstract  = {The integration of biomolecular logic principles with electronic transducers allows designing novel digital biosensors with direct electrical output, logically triggered drug-release, and closed-loop sense/act/treat systems. This opens new opportunities for advanced personalized medicine in the context of theranostics. In the present work, we will discuss selected examples of recent developments in the field of interfacing enzyme logic gates with electrodes and semiconductor field-effect devices. Special attention is given to an enzyme OR/Reset logic gate based on a capacitive field-effect electrolyte-insulator-semiconductor sensor modified with a multi-enzyme membrane. Further examples are a digital adrenaline biosensor based on an AND logic gate with binary YES/NO output and an integrated closed-loop sense/act/treat system comprising an amperometric glucose sensor, a hydrogel actuator, and an insulin (drug) sensor.},
  language  = {en}
}
@article{HeuermannHillebrandSadeghfam2008,
  author    = {Heuermann, Holger and Hillebrand, J{\"u}rgen and Sadeghfam, Arash},
  title     = {Novel Concept of a Digital SigmaDelta-PLL-Phase-Shift-Modulator / Hillebrand, J{\"u}rgen ; Sadeghfam, Arash ; Heuermann, Holger},
  isbn      = {978-3-8007-3086-5},
  pages     = {123 -- 126},
  year      = {2008},
  language  = {en}
}
@article{AbouzarSchoeningPoghossianetal.2008,
  author    = {Abouzar, Maryam H. and Sch{\"o}ning, Michael Josef and Poghossian, Arshak and Christiaens, P. and Williams, O. A. and Wagner, P. and Haenen, K.},
  title     = {Feldeffektsensor auf nanokristalliner Diamantbasis},
  series = {Sensoren und Messsysteme 2008 : 14. Fachtagung Ludwigsburg, 11. und 12. M{\"a}rz 2008 / VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik},
  journal   = {Sensoren und Messsysteme 2008 : 14. Fachtagung Ludwigsburg, 11. und 12. M{\"a}rz 2008 / VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik},
  publisher = {VDI-Verl.},
  address   = {D{\"u}sseldorf},
  isbn      = {978-3-18-092011-5},
  pages     = {549 -- 558},
  year      = {2008},
  language  = {de}
}
@incollection{StroetmannLohse2012,
  author    = {Stroetmann, Richard and Lohse, Wolfram},
  title     = {Stahlbau},
  series = {Wendehorst Beispiele aus der Baupraxis. - 4. Aufl.},
  booktitle = {Wendehorst Beispiele aus der Baupraxis. - 4. Aufl.},
  publisher = {Springer Vieweg},
  address   = {Wiesbaden},
  isbn      = {978-3-8348-0999-5 ; 978-3-8348-8229-5},
  doi       = {10.1007/978-3-8348-8229-5_10},
  pages     = {263 -- 361},
  year      = {2012},
  language  = {de}
}
@inproceedings{StaatHeitzerHicken1998,
  author    = {Staat, Manfred and Heitzer, M. and Hicken, E. F.},
  title     = {LISA, ein europ{\"a}isches Projekt zur direkten Berechnung der Tragf{\"a}higkeit duktiler Strukturen},
  year      = {1998},
  abstract  = {Traglast- und Einspielanalysen sind vereinfachte doch exakte Verfahren der Plastizit{\"a}t, die neben ausreichender Verformbarkeit keine einschr{\"a}nkenden Voraussetzungen beinhalten. Die Vereinfachungen betreffen die Beschaffung der Daten und Modelle f{\"u}r Details der Lastgeschichte und des Stoffverhaltens. Anders als die klassische Behandlung nichtlinearer Probleme der Strukturmechanik f{\"u}hrt die Methode auf Optimierungsprobleme. Diese sind bei realistischen FEM-Modellen sehr groß. Das hat die industrielle Anwendung der Traglast- und Einspielanalysen stark verz{\"o}gert. Diese Situation wird durch das Brite-EuRam Projekt LISA grundlegend ge{\"a}ndert. Die Autoren m{\"o}chten der Europ{\"a}ischen Kommission an dieser Stelle f{\"u}r die F{\"o}rderung ausdr{\"u}cklich danken. In LISA entsteht auf der Basis des industriellen FEM-Programms PERMAS ein Verfahren zur direkten Berechnung der Tragf{\"a}higkeit duktiler Strukturen. Damit kann der Betriebsbereich von Komponenten und Bauwerken auf den plastischen Bereich erweitert werden, ohne den Aufwand gegen{\"u}ber elastischen Analysen wesentlich zu erh{\"o}hen. Die beachtlichen Rechenzeitgewinne erlauben Parameterstudien und die Berechnung von Interaktionsdiagrammen, die einen schnellen {\"U}berblick {\"u}ber m{\"o}gliche Betriebsbereiche vermitteln. Es zeigt sich, daß abh{\"a}ngig von der Komponente und ihren Belastungen teilweise entscheidende Sicherheitsgewinne zur Erweiterung der Betriebsbereiche erzielt werden k{\"o}nnen. Das Vorgehen erfordert vom Anwender oft ein gewisses Umdenken. Es werden keine Spannungen berechnet, um damit Sicherheit und Lebensdauer zu interpretieren. Statt dessen berechnet man direkt die gesuchte Sicherheit. Der Post-Prozessor wird nur noch zur Modell- und Rechenkontrolle ben{\"o}tigt. Das Vorgehen ist {\"a}nhlich der Stabilit{\"a}tsanalyse (Knicken, Beulen). Durch namhafte industrielle Projektpartner werden Validierung und die Anwendbarkeit auf eine breite Palette technischer Probleme garantiert. Die ebenfalls in LISA geplante Zuverl{\"a}ssigkeitsanalyse ist erst auf der Basis direkter Verfahren effektiv m{\"o}glich. Ohne Traglast- und Einspielanalyse ist plastische Strukturoptimierung auch heute kaum durchf{\"u}hrbar.},
  subject      = {Finite-Elemente-Methode},
  language  = {de}
}
@inproceedings{PlatenPoghossianSchoening2006,
  author    = {Platen, Johannes and Poghossian, Arshak and Sch{\"o}ning, Michael Josef},
  title     = {Microstructured Nanostructures - nanostructuring by means of conventional photolithography and layer-expansion technique},
  url       = {http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hbz:a96-opus-1477},
  year      = {2006},
  abstract  = {A new and simple method for nanostructuring using conventional photolithography and layer expansion or pattern-size reduction technique is presented, which can further be applied for the fabrication of different nanostructures and nano-devices. The method is based on the conversion of a photolithographically patterned metal layer to a metal-oxide mask with improved pattern-size resolution using thermal oxidation. With this technique, the pattern size can be scaled down to several nanometer dimensions. The proposed method is experimentally demonstrated by preparing nanostructures with different configurations and layouts, like circles, rectangles, trapezoids, "fluidic-channel"-, "cantilever"- and meander-type structures.},
  subject      = {Biosensor},
  language  = {en}
}
@incollection{KrauseUlke2024,
  author    = {Krause, Thomas and Ulke, Bernd},
  title     = {Bauabrechnung und Mengenermittlung},
  series = {Zahlentafeln f{\"u}r den Baubetrieb},
  booktitle = {Zahlentafeln f{\"u}r den Baubetrieb},
  editor    = {Krause, Thomas and Ulke, Bernd and Ferger, Martin},
  publisher = {Springer Vieweg},
  address   = {Wiesbaden},
  isbn      = {978-3-658-41329-3 (Print)},
  doi       = {10.1007/978-3-658-41330-9_7},
  pages     = {333 -- 397},
  year      = {2024},
  abstract  = {n diesem Kapitel werden die Abrechnungsvorschriften wichtiger ATV kurz, aber umfassend zusammengestellt. Einigen Abrechnungsbestimmungen f{\"u}r Einzelleistungen, die keine Nebenleistungen sind ((siehe DIN 18299 und Abschnitt 4 der jeweiligen ATV), sind mit aufgenommen worden; die ATV enthalten jedoch weitergehende Festlegungen {\"u}ber Nebenleistungen und Besondere Leistungen. Im Anschluss folgen Hinweise zu den Toleranzen im Hochbau sowie im Straßenbau.},
  language  = {de}
}
@article{KloockPoghossianSchumacheretal.2006,
  author    = {Kloock, Joachim P. and Poghossian, Arshak and Schumacher, K. and Rosenkranz, C. and Schultze, J. W. and M{\"u}ller-Veggian, Mattea and Sch{\"o}ning, Michael Josef},
  title     = {Funktionspr{\"u}fung und Charakterisierung von ionensensitiven Feldeffekttransistoren (ISFETs) auf Waferebene mittels Mikrotropfenzelle f{\"u}r den zuk{\"u}nftigen Einsatz in der Sensorproduktion},
  series = {Sensoren und Messsysteme 2006 : Vortr{\"a}ge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14. M{\"a}rz 2006 in Freiburg/Breisgau / Veranst.: Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG) ; VDE/VDI-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA). Wiss. Tagungsleitung: L. M. Reindl},
  journal   = {Sensoren und Messsysteme 2006 : Vortr{\"a}ge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14. M{\"a}rz 2006 in Freiburg/Breisgau / Veranst.: Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG) ; VDE/VDI-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA). Wiss. Tagungsleitung: L. M. Reindl},
  publisher = {VDE-Verl.},
  address   = {Berlin},
  isbn      = {3-8007-2939-3},
  pages     = {257 -- 260},
  year      = {2006},
  language  = {de}
}
@incollection{HerrmannKearneyRoegeretal.2017,
  author    = {Herrmann, Ulf and Kearney, D. and R{\"o}ger, M. and Prahl, C.},
  title     = {System performance measurements},
  series = {The Performance of Concentrated Solar Power (CSP) Systems : Modelling, Measurement and Assessment},
  booktitle = {The Performance of Concentrated Solar Power (CSP) Systems : Modelling, Measurement and Assessment},
  publisher = {Woodhead Publishing},
  address   = {Duxford},
  isbn      = {978-0-08-100448-7},
  doi       = {https://doi.org/10.1016/B978-0-08-100447-0.00005-5},
  pages     = {115 -- 165},
  year      = {2017},
  abstract  = {This chapter introduces performance and acceptance testing and describes state-of-the-art tools, methods, and instruments to assess the plant performance or realize plant acceptance testing. The status of the development of standards for performance assessment is given.},
  language  = {en}
}