@incollection{StroetmannLohse2012,
  author    = {Stroetmann, Richard and Lohse, Wolfram},
  title     = {Stahlbau},
  series = {Wendehorst Beispiele aus der Baupraxis. - 4. Aufl.},
  booktitle = {Wendehorst Beispiele aus der Baupraxis. - 4. Aufl.},
  publisher = {Springer Vieweg},
  address   = {Wiesbaden},
  isbn      = {978-3-8348-0999-5 ; 978-3-8348-8229-5},
  doi       = {10.1007/978-3-8348-8229-5_10},
  pages     = {263 -- 361},
  year      = {2012},
  language  = {de}
}
@inproceedings{StaatHeitzerHicken1998,
  author    = {Staat, Manfred and Heitzer, M. and Hicken, E. F.},
  title     = {LISA, ein europ{\"a}isches Projekt zur direkten Berechnung der Tragf{\"a}higkeit duktiler Strukturen},
  year      = {1998},
  abstract  = {Traglast- und Einspielanalysen sind vereinfachte doch exakte Verfahren der Plastizit{\"a}t, die neben ausreichender Verformbarkeit keine einschr{\"a}nkenden Voraussetzungen beinhalten. Die Vereinfachungen betreffen die Beschaffung der Daten und Modelle f{\"u}r Details der Lastgeschichte und des Stoffverhaltens. Anders als die klassische Behandlung nichtlinearer Probleme der Strukturmechanik f{\"u}hrt die Methode auf Optimierungsprobleme. Diese sind bei realistischen FEM-Modellen sehr groß. Das hat die industrielle Anwendung der Traglast- und Einspielanalysen stark verz{\"o}gert. Diese Situation wird durch das Brite-EuRam Projekt LISA grundlegend ge{\"a}ndert. Die Autoren m{\"o}chten der Europ{\"a}ischen Kommission an dieser Stelle f{\"u}r die F{\"o}rderung ausdr{\"u}cklich danken. In LISA entsteht auf der Basis des industriellen FEM-Programms PERMAS ein Verfahren zur direkten Berechnung der Tragf{\"a}higkeit duktiler Strukturen. Damit kann der Betriebsbereich von Komponenten und Bauwerken auf den plastischen Bereich erweitert werden, ohne den Aufwand gegen{\"u}ber elastischen Analysen wesentlich zu erh{\"o}hen. Die beachtlichen Rechenzeitgewinne erlauben Parameterstudien und die Berechnung von Interaktionsdiagrammen, die einen schnellen {\"U}berblick {\"u}ber m{\"o}gliche Betriebsbereiche vermitteln. Es zeigt sich, daß abh{\"a}ngig von der Komponente und ihren Belastungen teilweise entscheidende Sicherheitsgewinne zur Erweiterung der Betriebsbereiche erzielt werden k{\"o}nnen. Das Vorgehen erfordert vom Anwender oft ein gewisses Umdenken. Es werden keine Spannungen berechnet, um damit Sicherheit und Lebensdauer zu interpretieren. Statt dessen berechnet man direkt die gesuchte Sicherheit. Der Post-Prozessor wird nur noch zur Modell- und Rechenkontrolle ben{\"o}tigt. Das Vorgehen ist {\"a}nhlich der Stabilit{\"a}tsanalyse (Knicken, Beulen). Durch namhafte industrielle Projektpartner werden Validierung und die Anwendbarkeit auf eine breite Palette technischer Probleme garantiert. Die ebenfalls in LISA geplante Zuverl{\"a}ssigkeitsanalyse ist erst auf der Basis direkter Verfahren effektiv m{\"o}glich. Ohne Traglast- und Einspielanalyse ist plastische Strukturoptimierung auch heute kaum durchf{\"u}hrbar.},
  subject      = {Finite-Elemente-Methode},
  language  = {de}
}
@inproceedings{PlatenPoghossianSchoening2006,
  author    = {Platen, Johannes and Poghossian, Arshak and Sch{\"o}ning, Michael Josef},
  title     = {Microstructured Nanostructures - nanostructuring by means of conventional photolithography and layer-expansion technique},
  url       = {http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hbz:a96-opus-1477},
  year      = {2006},
  abstract  = {A new and simple method for nanostructuring using conventional photolithography and layer expansion or pattern-size reduction technique is presented, which can further be applied for the fabrication of different nanostructures and nano-devices. The method is based on the conversion of a photolithographically patterned metal layer to a metal-oxide mask with improved pattern-size resolution using thermal oxidation. With this technique, the pattern size can be scaled down to several nanometer dimensions. The proposed method is experimentally demonstrated by preparing nanostructures with different configurations and layouts, like circles, rectangles, trapezoids, "fluidic-channel"-, "cantilever"- and meander-type structures.},
  subject      = {Biosensor},
  language  = {en}
}
@incollection{KrauseUlke2024,
  author    = {Krause, Thomas and Ulke, Bernd},
  title     = {Bauabrechnung und Mengenermittlung},
  series = {Zahlentafeln f{\"u}r den Baubetrieb},
  booktitle = {Zahlentafeln f{\"u}r den Baubetrieb},
  editor    = {Krause, Thomas and Ulke, Bernd and Ferger, Martin},
  publisher = {Springer Vieweg},
  address   = {Wiesbaden},
  isbn      = {978-3-658-41329-3 (Print)},
  doi       = {10.1007/978-3-658-41330-9_7},
  pages     = {333 -- 397},
  year      = {2024},
  abstract  = {n diesem Kapitel werden die Abrechnungsvorschriften wichtiger ATV kurz, aber umfassend zusammengestellt. Einigen Abrechnungsbestimmungen f{\"u}r Einzelleistungen, die keine Nebenleistungen sind ((siehe DIN 18299 und Abschnitt 4 der jeweiligen ATV), sind mit aufgenommen worden; die ATV enthalten jedoch weitergehende Festlegungen {\"u}ber Nebenleistungen und Besondere Leistungen. Im Anschluss folgen Hinweise zu den Toleranzen im Hochbau sowie im Straßenbau.},
  language  = {de}
}
@article{KloockPoghossianSchumacheretal.2006,
  author    = {Kloock, Joachim P. and Poghossian, Arshak and Schumacher, K. and Rosenkranz, C. and Schultze, J. W. and M{\"u}ller-Veggian, Mattea and Sch{\"o}ning, Michael Josef},
  title     = {Funktionspr{\"u}fung und Charakterisierung von ionensensitiven Feldeffekttransistoren (ISFETs) auf Waferebene mittels Mikrotropfenzelle f{\"u}r den zuk{\"u}nftigen Einsatz in der Sensorproduktion},
  series = {Sensoren und Messsysteme 2006 : Vortr{\"a}ge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14. M{\"a}rz 2006 in Freiburg/Breisgau / Veranst.: Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG) ; VDE/VDI-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA). Wiss. Tagungsleitung: L. M. Reindl},
  journal   = {Sensoren und Messsysteme 2006 : Vortr{\"a}ge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14. M{\"a}rz 2006 in Freiburg/Breisgau / Veranst.: Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG) ; VDE/VDI-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA). Wiss. Tagungsleitung: L. M. Reindl},
  publisher = {VDE-Verl.},
  address   = {Berlin},
  isbn      = {3-8007-2939-3},
  pages     = {257 -- 260},
  year      = {2006},
  language  = {de}
}
@incollection{HerrmannKearneyRoegeretal.2017,
  author    = {Herrmann, Ulf and Kearney, D. and R{\"o}ger, M. and Prahl, C.},
  title     = {System performance measurements},
  series = {The Performance of Concentrated Solar Power (CSP) Systems : Modelling, Measurement and Assessment},
  booktitle = {The Performance of Concentrated Solar Power (CSP) Systems : Modelling, Measurement and Assessment},
  publisher = {Woodhead Publishing},
  address   = {Duxford},
  isbn      = {978-0-08-100448-7},
  doi       = {https://doi.org/10.1016/B978-0-08-100447-0.00005-5},
  pages     = {115 -- 165},
  year      = {2017},
  abstract  = {This chapter introduces performance and acceptance testing and describes state-of-the-art tools, methods, and instruments to assess the plant performance or realize plant acceptance testing. The status of the development of standards for performance assessment is given.},
  language  = {en}
}
@incollection{SchoeningWagnerPoghossianetal.2018,
  author    = {Sch{\"o}ning, Michael Josef and Wagner, Torsten and Poghossian, Arshak and Miyamoto, K.I. and Werner, C.F. and Krause, S. and Yoshinobu, T.},
  title     = {Light-addressable potentiometric sensors for (bio-)chemical sensing and imaging},
  series = {Encyclopedia of Interfacial Chemistry: Surface Science and Electrochemistry. Vol. 7},
  booktitle = {Encyclopedia of Interfacial Chemistry: Surface Science and Electrochemistry. Vol. 7},
  publisher = {Elsevier},
  address   = {Amsterdam},
  isbn      = {9780128097397},
  pages     = {295 -- 308},
  year      = {2018},
  language  = {en}
}
@article{PoghossianYoshinobuSimonisetal.2001,
  author    = {Poghossian, Arshak and Yoshinobu, Tatsuo and Simonis, A. and Ecken, H. and L{\"u}th, Hans and Sch{\"o}ning, Michael Josef},
  title     = {Penicillin detection by means of field-effect based sensors: EnFET, capacitive EIS sensor or LAPS?},
  series = {Sensors and Actuators B. 78 (2001), H. 1-3},
  journal   = {Sensors and Actuators B. 78 (2001), H. 1-3},
  isbn      = {0925-4005},
  pages     = {237 -- 242},
  year      = {2001},
  language  = {en}
}
@inproceedings{SchoeningAbouzarHanetal.2006,
  author    = {Sch{\"o}ning, Michael Josef and Abouzar, Maryam H. and Han, Y. and Ingebrandt, S. and Offenh{\"a}usser, A. and Poghossian, Arshak},
  title     = {Markierungsfreie DNA-Detektion mit Silizium-Feldeffektsensoren - Messeffekte oder Artefakte?},
  series = {Sensoren und Mess-Systeme 2006 : Vortr{\"a}ge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14.3.2006 in Freiburg/Breisgau},
  booktitle = {Sensoren und Mess-Systeme 2006 : Vortr{\"a}ge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14.3.2006 in Freiburg/Breisgau},
  publisher = {VDE Verl.},
  address   = {Berlin},
  isbn      = {3-8007-2939-3},
  pages     = {443 -- 446},
  year      = {2006},
  language  = {de}
}
@article{FerreinSteinbauerMcPhillipsetal.2007,
  author    = {Ferrein, Alexander and Steinbauer, Gerald and McPhillips, Graeme and Potgieter, Anet},
  title     = {Establishing the RoboCup Standard League in Africa - applying for the RoboCup Standard League with a German-Austrian-South African Research Project},
  pages     = {1 -- 5},
  year      = {2007},
  language  = {en}
}