@article{Helsper2003,
  author    = {Helsper, Christoph},
  title     = {Messverfahren zur Charakterisierung der Abscheidung luftgetragener Partikel in Filtern},
  series = {Schutzmaßnahmen vor mikrobiellen Belastungen des Innenraumes / VII. L{\"u}becker Fachtagung f{\"u}r Umwelthygiene. [Hrsg.:] Reinhard Keller ...},
  journal   = {Schutzmaßnahmen vor mikrobiellen Belastungen des Innenraumes / VII. L{\"u}becker Fachtagung f{\"u}r Umwelthygiene. [Hrsg.:] Reinhard Keller ...},
  publisher = {Inst. f. Medizinische Mikrobiologie u. Hygiene d. Med. Univ.},
  address   = {L{\"u}beck},
  pages     = {35 -- 61},
  year      = {2003},
  language  = {de}
}
@article{Foerster2003,
  author    = {F{\"o}rster, Arnold},
  title     = {Layer Deposition I},
  series = {Fundamentals of nanoelectronics / Stefan Bl{\"u}gel ... (ed.). - (Lecture manuscripts of the ... Spring School of the Department of Solid State Research ; 34). - (Schriften des Forschungszentrums J{\"u}lich : Materie und Material ; 14 ; 34)},
  journal   = {Fundamentals of nanoelectronics / Stefan Bl{\"u}gel ... (ed.). - (Lecture manuscripts of the ... Spring School of the Department of Solid State Research ; 34). - (Schriften des Forschungszentrums J{\"u}lich : Materie und Material ; 14 ; 34)},
  publisher = {Forschungszentrum, Zentralbibliothek},
  address   = {J{\"u}lich},
  isbn      = {3-89336-319-X},
  pages     = {C2.1 -- C2.13},
  year      = {2003},
  language  = {en}
}
@article{FoersterKiesslichWackeretal.2003,
  author    = {F{\"o}rster, Arnold and Kiesslich, G. and Wacker, A. and Scholl, E.},
  title     = {Nonlinear charging effect of quantum dots in a p-i-n diode. Kiesslich, G.; Wacker, A.; Scholl, E.; Vitusevich, S.A.; Belyaev, A.E.; Danylyuk, S.V.; Forster, A.; Klein, N.; Henini, M.},
  series = {Physical Review B. 68 (2003)},
  journal   = {Physical Review B. 68 (2003)},
  isbn      = {1550-235X},
  year      = {2003},
  language  = {en}
}
@article{SchwarzerSilva2003,
  author    = {Schwarzer, Klemens and Silva, Maria Eug{\^e}nia Vieira da},
  title     = {Solar cooking system with or without heat storage for families and institutions},
  series = {Solar energy. 75 (2003), H. 1},
  journal   = {Solar energy. 75 (2003), H. 1},
  isbn      = {0038-092x},
  pages     = {34 -- 41},
  year      = {2003},
  language  = {en}
}
@book{SchwarzerMueller2003,
  author    = {Schwarzer, Klemens and M{\"u}ller, C.},
  title     = {Entwicklung und Optimierung einer Geb{\"a}udeheizung f{\"u}r den Einsatz in Hochgebirgsregionen mit hoher solarer Einstrahlung : Abschlussbericht},
  publisher = {Solar-Institut Juelich, Fachhochschule Aachen},
  address   = {J{\"u}lich},
  pages     = {118 S.},
  year      = {2003},
  language  = {de}
}
@article{DielmannCudinaMehlkopf2003,
  author    = {Dielmann, Klaus-Peter and Cudina, Boris and Mehlkopf, Marcus},
  title     = {Einfluss der Brennstoffdaten auf die CO2-Inventarisierung : Handel mit Emissionsrechten},
  series = {Euroheat and power : Kraft-W{\"a}rme-Kopplung, Nah-/Fernw{\"a}rme, Contracting},
  volume    = {32},
  journal   = {Euroheat and power : Kraft-W{\"a}rme-Kopplung, Nah-/Fernw{\"a}rme, Contracting},
  number    = {9},
  isbn      = {0949-166X},
  pages     = {22 -- 25},
  year      = {2003},
  language  = {de}
}
@article{HoffschmidtFendJorgensenetal.2003,
  author    = {Hoffschmidt, Bernhard and Fend, Thomas and Jorgensen, Gary and K{\"u}ster, Harald},
  title     = {Comparative assessment of solar concentrator materials / Fend, Thomas ; Hoffschmidt, Bernhard ; Jorgensen, Gary ; K{\"u}ster, Harald ; Kr{\"u}ger, Dirk ; Pitz-Paal, Robert ; Riebrock, Peter ; Riffelmann, Klaus-J{\"u}rgen},
  series = {Solar energy. 74 (2003), H. 2},
  journal   = {Solar energy. 74 (2003), H. 2},
  isbn      = {0038-092X},
  pages     = {149 -- 155},
  year      = {2003},
  language  = {en}
}
@article{HoffschmidtTellezValverdeetal.2003,
  author    = {Hoffschmidt, Bernhard and T{\´e}llez, F{\´e}lix M. and Valverde, Antonio and Fernandez, Valerio and Fernandez, Jesus},
  title     = {Performance evaluation of the 200-kWth HiTRec-II open volumetric air receiver},
  series = {Journal of solar energy engineering},
  volume    = {Vol. 125},
  journal   = {Journal of solar energy engineering},
  number    = {Iss. 1},
  pages     = {87 -- 94},
  year      = {2003},
  language  = {en}
}
@article{MaezawaFoerster2003,
  author    = {Maezawa, Koichi and F{\"o}rster, Arnold},
  title     = {Quantum transport devices based on resonant tunneling},
  series = {Nanoelectronics and information technology : advanced electronic materials and novel devices / Rainer Waser (ed.).},
  journal   = {Nanoelectronics and information technology : advanced electronic materials and novel devices / Rainer Waser (ed.).},
  publisher = {Wiley-VCH},
  address   = {Weinheim},
  isbn      = {3-527-40363-9},
  pages     = {407 -- 424},
  year      = {2003},
  language  = {en}
}
@inproceedings{Kern2003,
  author    = {Kern, Alexander},
  title     = {Absch{\"a}tzung des Blitzschadensrisikos f{\"u}r bauliche Anlagen - Die neue Bestimmung DIN V VDE V 0185 Teil 2 : 2002 - Allgemeines, Absch{\"a}tzungsverfahren, Berechnungsbeispiele},
  year      = {2003},
  abstract  = {Ein vorausschauendes Risikomanagement beinhaltet, Risiken f{\"u}r das Unternehmen zu kalkulieren. Es liefert Entscheidungsgrundlagen, um diese Risiken zu begrenzen und es macht transparent, welche Risiken sinnvollerweise {\"u}ber Versicherungen abgedeckt werden sollten. Beim Versicherungsmanagement ist jedoch zu bedenken, dass zur Erreichung bestimmter Ziele Versicherungen nicht immer geeignet sind (z.B. Erhaltung der Lieferf{\"a}higkeit). Eintrittswahrscheinlichkeiten bestimmter Risiken lassen sich durch Versicherungen nicht ver{\"a}ndern. Bei Unternehmen, die mit umfangreichen elektronischen Einrichtungen produzieren oder Dienstleistungen erbringen (und das sind heutzutage wohl die meisten), muss auch das Risiko durch Blitzeinwirkungen besondere Ber{\"u}cksichtigung finden. Dabei ist zu beachten, dass der Schaden aufgrund der Nicht-Verf{\"u}gbarkeit der elektronischen Einrichtungen und damit der Produktion bzw. der Dienstleistung und ggf. der Verlust von Daten den Hardware-Schaden an der betroffenen Anlage oft bei weitem {\"u}bersteigt. Im Blitzschutz gewinnt innovatives Denken in Schadensrisiken langsam an Bedeutung. Risikoanalysen haben die Objektivierung und Quantifizierung der Gef{\"a}hrdung von baulichen Anlagen und ihrer Inhalte durch direkte und indirekte Blitzeinschl{\"a}ge zum Ziel. Seinen Niederschlag hat dieses neue Denken in der neuen deutschen Vornorm DIN V 0185-2 VDE V 0185 Teil 2 [1] gefunden. Die hier vorgegebene Risikoanalyse gew{\"a}hrleistet, dass ein f{\"u}r alle Beteiligten nachvollziehbares Blitzschutz-Konzept erstellt werden kann, das technisch und wirtschaftlich optimiert ist, d.h. bei m{\"o}glichst geringem Aufwand den notwendigen Schutz gew{\"a}hrleisten kann. Die sich aus der Risikoanalyse ergebenden Schutzmaßnahmen sind dann in den weiteren Normenteilen der neuen Reihe VDE V 0185 [2, 3] detailliert beschrieben.},
  language  = {de}
}