@article{Heuermann1995,
  author    = {Heuermann, Holger},
  title     = {Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten},
  series = {Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse f{\"u}r Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]},
  journal   = {Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse f{\"u}r Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]},
  address   = {Hagenburg},
  isbn      = {3-924651-45-0},
  pages     = {23 -- 29},
  year      = {1995},
  language  = {de}
}
@article{Heuermann1995,
  author    = {Heuermann, Holger},
  title     = {LZY: A Self-Calibration Approach in Competition to the LRM Method for On-Wafer Measurements},
  pages     = {129 -- 136},
  year      = {1995},
  language  = {en}
}
@article{HeuermannStolleSchiek1995,
  author    = {Heuermann, Holger and Stolle, Reinhard and Schiek, Burkhard},
  title     = {Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich},
  series = {tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2},
  journal   = {tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2},
  pages     = {66 -- 73},
  year      = {1995},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannSchiek1995,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, B.},
  title     = {Error corrected impedance measurements with a network analyzer},
  series = {IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 44 (1995), H. 2},
  journal   = {IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 44 (1995), H. 2},
  isbn      = {0018-9456},
  pages     = {295 -- 299},
  year      = {1995},
  language  = {en}
}