@article{PoghossianWagnerSchoening2010,
  author    = {Poghossian, Arshak and Wagner, H. and Sch{\"o}ning, Michael Josef},
  title     = {Automatisiertes „wafer level"-Testsystem zur Charakterisierung von siliziumbasierten Chemo- und Biosensoren},
  series = {Sensoren und Messsysteme 2010 [Elektronische Ressource] : Vortr{\"a}ge der 15. ITG/GMA-Fachtagung vom 18. bis 19. Mai 2010 in N{\"u}rnberg / Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG); VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA)},
  journal   = {Sensoren und Messsysteme 2010 [Elektronische Ressource] : Vortr{\"a}ge der 15. ITG/GMA-Fachtagung vom 18. bis 19. Mai 2010 in N{\"u}rnberg / Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG); VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA)},
  publisher = {VDE Verlag},
  address   = {Berlin},
  isbn      = {978-3-8007-3260-9},
  pages     = {89 -- 92},
  year      = {2010},
  language  = {de}
}