@article{FuchsRitz2011,
  author    = {Fuchs, Britta and Ritz, Thomas},
  title     = {Absatzkan{\"a}le kaum verkn{\"u}pft},
  series = {IT-Mittelstand : IT-Business im Mittelstand},
  volume    = {2011},
  journal   = {IT-Mittelstand : IT-Business im Mittelstand},
  number    = {9},
  publisher = {Medienhaus-Verlag},
  address   = {Bergisch-Gladbach},
  pages     = {16},
  year      = {2011},
  language  = {de}
}
@article{HagebeukerLangeRingbeck2004,
  author    = {Hagebeuker, Bianca and Lange, Robert and Ringbeck, Thorsten},
  title     = {Bildverarbeitung mit der dritten Dimension : wenn die Pixel auch Laufzeiten auswerten},
  series = {Sensor-Report : Sensorik, Messtechnik, Bildverarbeitung, Fabrikautomation. - 2004, H. 2},
  journal   = {Sensor-Report : Sensorik, Messtechnik, Bildverarbeitung, Fabrikautomation. - 2004, H. 2},
  publisher = {Rek \& Thomas},
  address   = {St. Gallen},
  issn      = {0179-9592},
  pages     = {11 -- 17},
  year      = {2004},
  language  = {de}
}
@article{Hagemann2003,
  author    = {Hagemann, Hans-J{\"u}rgen},
  title     = {INGMEDIA - Lernsoftware f{\"u}r technische und physikalische Praktika in Ingenieurstudieng{\"a}ngen},
  series = {E-Learning : Tagungsband ; NMB-Projekte in den Ingenieurwissenschaften ; Workshop der ingenieurwissenschaftlichen Projekte im bmb+f-F{\"o}rderprogramm "Neue Medien in der Bildung" am 25. und 26. Juni 2003 an der Hochschule Anhalt in Dessau / Hrsg.: Stephan Pi},
  journal   = {E-Learning : Tagungsband ; NMB-Projekte in den Ingenieurwissenschaften ; Workshop der ingenieurwissenschaftlichen Projekte im bmb+f-F{\"o}rderprogramm "Neue Medien in der Bildung" am 25. und 26. Juni 2003 an der Hochschule Anhalt in Dessau / Hrsg.: Stephan Pi},
  publisher = {Hochschule Anhalt},
  address   = {Dessau},
  pages     = {64 -- 69},
  year      = {2003},
  language  = {de}
}
@article{Hagemann2004,
  author    = {Hagemann, Hans-J{\"u}rgen},
  title     = {INGMEDIA - E-Learning f{\"u}r Laborpraktika},
  series = {Evaluation von E-Learning : Zielrichtungen, methodologische Aspekte, Zukunftsperspektiven / Dorothee M. Meister ... (Hrsg.)},
  journal   = {Evaluation von E-Learning : Zielrichtungen, methodologische Aspekte, Zukunftsperspektiven / Dorothee M. Meister ... (Hrsg.)},
  publisher = {Waxmann},
  address   = {M{\"u}nster [u.a.]},
  isbn      = {3-8309-1311-7},
  pages     = {217 -- 222},
  year      = {2004},
  language  = {de}
}
@article{Hagemann1989,
  author    = {Hagemann, Hans-J{\"u}rgen},
  title     = {St{\"o}rstellengleichgewichte in eisendotierten Titanaten. Hagemann, H. J.},
  series = {Philips - Unsere Forschung in Deutschland / Hrsg.: Philips Forschungslaboratorium GmbH Aachen und Hamburg. 4 (1989)},
  journal   = {Philips - Unsere Forschung in Deutschland / Hrsg.: Philips Forschungslaboratorium GmbH Aachen und Hamburg. 4 (1989)},
  pages     = {170 -- 172},
  year      = {1989},
  language  = {de}
}
@article{HagemannGeittnerMayretal.1993,
  author    = {Hagemann, Hans-J{\"u}rgen and Geittner, P. and Mayr, W. and Opitz, J. F. A.},
  title     = {Folientechnologie f{\"u}r zuk{\"u}nftige keramische Vielschichtkondensatoren. Geittner, P.; Hagemann, H.-J.;Mayr, W. ; Opitz, J.F.A. ; Schmidl, B.; Warnier, J.},
  series = {Ceramic forum international : cfi ; Berichte der Deutschen Keramischen Gesellschaft. 8 (1993), H. 5},
  journal   = {Ceramic forum international : cfi ; Berichte der Deutschen Keramischen Gesellschaft. 8 (1993), H. 5},
  isbn      = {0173-9913},
  pages     = {5 -- 15},
  year      = {1993},
  language  = {de}
}
@article{HagemannGeittnerSchnittkeretal.1989,
  author    = {Hagemann, Hans-J{\"u}rgen and Geittner, P. and Schnittker, W. and Warnier, J.},
  title     = {Abscheidegeschwindigkeiten und Prozeßausbeuten im PCVD-Verfahren. Geittner, P.; Hagemann, H. J.; Schnittker, W.; Warnier, J.; Weling, F.; Wilson, H.},
  series = {Philips - Unsere Forschung in Deutschland / Hrsg.: Philips Forschungslaboratorium GmbH Aachen und Hamburg. 4 (1989)},
  journal   = {Philips - Unsere Forschung in Deutschland / Hrsg.: Philips Forschungslaboratorium GmbH Aachen und Hamburg. 4 (1989)},
  pages     = {140 -- 143},
  year      = {1989},
  language  = {de}
}
@article{HagemannHenningsWernicke1984,
  author    = {Hagemann, Hans-J{\"u}rgen and Hennings, D. and Wernicke, R.},
  title     = {Keramische Vielschichtkondensatoren. Hagemann, H. J.; Hennings, D.; Wernicke, R.},
  series = {Sprechsaal : internat. ceramics \& glass magazine. 117 (1984)},
  journal   = {Sprechsaal : internat. ceramics \& glass magazine. 117 (1984)},
  isbn      = {0341-0439},
  pages     = {924 -- 931},
  year      = {1984},
  language  = {de}
}
@article{HagemannIhrig1980,
  author    = {Hagemann, Hans-J{\"u}rgen and Ihrig, H.},
  title     = {BaTiO3 dotiert mit 3d-Ionen: Valenzen, Leerstellen und ihre Auswirkungen. Hagemann, H. J.; Ihrig, H.},
  series = {Philips - Unsere Forschung in Deutschland / Hrsg.: Philips Forschungslaboratorium GmbH Aachen und Hamburg. 3 (1980)},
  journal   = {Philips - Unsere Forschung in Deutschland / Hrsg.: Philips Forschungslaboratorium GmbH Aachen und Hamburg. 3 (1980)},
  pages     = {249 -- 252},
  year      = {1980},
  language  = {de}
}
@article{HartungHorn1995,
  author    = {Hartung, Frank and Horn, U.},
  title     = {Codierung digitaler Videosignale nach dem MPEG-Standard / Hartung, F. ; Horn, U.},
  series = {Mikroelektronik + Mikrosystemtechnik. 9 (1995)},
  journal   = {Mikroelektronik + Mikrosystemtechnik. 9 (1995)},
  pages     = {18 -- 23},
  year      = {1995},
  language  = {de}
}
@article{Heuermann1997,
  author    = {Heuermann, Holger},
  title     = {Praezise Streuparametermessungen sind der Schluessel zur Modellierung elektrischer Schaltungen},
  series = {Neues von Rohde \& Schwarz (1997)},
  journal   = {Neues von Rohde \& Schwarz (1997)},
  pages     = {22 -- 23},
  year      = {1997},
  language  = {de}
}
@article{Heuermann1997,
  author    = {Heuermann, Holger},
  title     = {Leerl{\"a}ufe als postulierte Kalibrierstandards fuer Messungen auf planaren Schaltungen},
  series = {tm - Technisches Messen. 64. 1997 (1997), H. 6},
  journal   = {tm - Technisches Messen. 64. 1997 (1997), H. 6},
  pages     = {230 -- 237},
  year      = {1997},
  language  = {de}
}
@article{Heuermann1995,
  author    = {Heuermann, Holger},
  title     = {Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten},
  series = {Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse f{\"u}r Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]},
  journal   = {Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse f{\"u}r Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]},
  address   = {Hagenburg},
  isbn      = {3-924651-45-0},
  pages     = {23 -- 29},
  year      = {1995},
  language  = {de}
}
@article{Heuermann2008,
  author    = {Heuermann, Holger},
  title     = {Fehlerkorrigierte Mehrtormessungen f{\"u}r frequenzumsetzende Komponenten mit NonLin-S},
  series = {HF-Report : Hochfrequenztechnik, Optoelektronik, Mikrowellentechnik, Kommunikationstechnik. 22 (2008), H. 4},
  journal   = {HF-Report : Hochfrequenztechnik, Optoelektronik, Mikrowellentechnik, Kommunikationstechnik. 22 (2008), H. 4},
  isbn      = {1431-827X},
  pages     = {39 -- 44},
  year      = {2008},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannErkens2005,
  author    = {Heuermann, Holger and Erkens, H.},
  title     = {EVM- und BER-optimierter differentieller Einseitenbandmodulator / Erkens, H., Heuermann, H.},
  series = {German Microwave Conference - GeMiC 2005 - : conference proceedings ; University of Ulm, April 5 - 7, 2005 [Elektronische Ressource] / ed.: Wolfgang Menzel. IMA, VDE ...},
  journal   = {German Microwave Conference - GeMiC 2005 - : conference proceedings ; University of Ulm, April 5 - 7, 2005 [Elektronische Ressource] / ed.: Wolfgang Menzel. IMA, VDE ...},
  publisher = {Univ},
  address   = {Ulm},
  isbn      = {3-00-015423-X},
  pages     = {1 CD-ROM},
  year      = {2005},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannGraf1996,
  author    = {Heuermann, Holger and Graf, W.},
  title     = {Vergleich mehrerer Naeherungsverfahren zur Berechnung des Wellenwiderstandes von Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Ergebnissen},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996)},
  year      = {1996},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannGraf1997,
  author    = {Heuermann, Holger and Graf, W.},
  title     = {Direkte Messung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 40. 1997 (1997)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 40. 1997 (1997)},
  year      = {1997},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannGraf1998,
  author    = {Heuermann, Holger and Graf, W.},
  title     = {Direkte on-wafer-Messung des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 41. 1998 (1998)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 41. 1998 (1998)},
  year      = {1998},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannSchiek1991,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung f{\"u}r systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 35. 1991 (1991)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 35. 1991 (1991)},
  pages     = {555 -- 556},
  year      = {1991},
  language  = {de}
}
@article{HeuermannSchiek1993,
  author    = {Heuermann, Holger and Schiek, Burkhard},
  title     = {Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen},
  series = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993)},
  journal   = {Kleinheubacher Berichte : Vortr{\"a}ge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993)},
  pages     = {195 -- 204},
  year      = {1993},
  language  = {de}
}