Dokument-ID Dokumenttyp Verfasser/Autoren Herausgeber Haupttitel Abstract Auflage Verlagsort Verlag Erscheinungsjahr Seitenzahl Schriftenreihe Titel Schriftenreihe Bandzahl ISBN Quelle der Hochschulschrift Konferenzname Bemerkung Quelle:Titel Quelle:Jahrgang Quelle:Heftnummer Quelle:Erste Seite Quelle:Letzte Seite URN DOI Zugriffsart Link Abteilungen OPUS4-2932 Wissenschaftlicher Artikel Srnanek, R., ; Geurts, J., ; Lentze, M., ; Irmer, G., ; Donoval, D., ; Brdecka, P., ; Kordos, P., ; Förster, Arnold, foerster@fh-aachen.de; Sciana, B., ; Radziewicz, D., ; Tlaczala, M., Study of d-doped GaAs layers by micro-Raman spectroscopy on bevelled samples 2004 6 Applied surface science . 230 (2004), H. 1 -4 0169-4332 ISSN der E-Ausg.: 0169-4332 379 385 campus http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.02.056 Fachbereich Energietechnik