Dokument-ID Dokumenttyp Verfasser/Autoren Herausgeber Haupttitel Abstract Auflage Verlagsort Verlag Erscheinungsjahr Seitenzahl Schriftenreihe Titel Schriftenreihe Bandzahl ISBN Quelle der Hochschulschrift Konferenzname Bemerkung Quelle:Titel Quelle:Jahrgang Quelle:Heftnummer Quelle:Erste Seite Quelle:Letzte Seite URN DOI Zugriffsart Link Abteilungen OPUS4-447 Wissenschaftlicher Artikel Heuermann, Holger, heuermann@fh-aachen.de; Schiek, Burkhard, Calibration of network analyser measurements with leakage errors 1994 1 Electronics letters. 30 (1994), H. 1 0013-5194 52 53 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik OPUS4-461 Wissenschaftlicher Artikel Heuermann, Holger, heuermann@fh-aachen.de; Schiek, Burkhard, Error Corrected Impedance Measurements with a Network Analyzer 1994 1 1994 Conference on Precision Electromagnetic Measurements digest : 27 June - 1 July 1994, Boulder, Colorado, USA / Organized by National Institute of Standards and Technology. Ed. by Edie DeWeese 125 126 campus http://dx.doi.org/10.1109/CPEM.1994.333421 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik OPUS4-464 Wissenschaftlicher Artikel Heuermann, Holger, heuermann@fh-aachen.de; Schiek, Burkhard, Scattering Parameter Measurements of Microstrip Devices using the Double-LNN Calibration Technique Swanley Nexus Business Communications 1994 Conference proceedings : [Palais des Festivals et des Congrès Cannes, France, 5 - 8 September 1994] 0-9518032-5-5 European Microwave Conference <24, 1994, Cannes> Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik OPUS4-469 Wissenschaftlicher Artikel Heuermann, Holger, heuermann@fh-aachen.de; Schiek, Burkhard, Results of Network Analyzer Measurements with Leakage Errors Corrected with the TMS-15-Term Procedure 1994 3 1994 IEEE MTT-S International Microwave Symposium digest : May 23 - 27, 1994, San Diego Convention Center, San Diego, California / H. J. Kuno, ed. 1361 1364 campus http://dx.doi.org/10.1109/MWSYM.1994.335297 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik