TY  - JOUR
A1  - Lohr, Jürgen
T1  - XAPI - eine universelle Kommunikationsplattform
T1  - XAPI - a universal communication platform
N2  - zuerst erschienen in Telekom-Praxis Ausgabe 1997. Von Jürgen Lohr, Jahrgang 1962, beschäftigt mit Softwareentwicklung im Projekt "Interaktive Multimedia" bei der Deutschen Telekom AG, Entwicklungszentrum Berlin. 26 S. Der Beitrag befaßt sich mit dem Thema der universellen Kommunikationsplattform für neue, interaktive, multimediale Dienste und Anwendungen. Ausgehend von den Diensten wird ein Referenzmodell für offene Kommunikation und die Kommunikationsplattform kurz vorgestellt. Desweiteren wird die XAPI mit den Grundbegriffen, den Phasen der Kommunikation und dem Status Modell dargelegt. Ebenfalls werden die realisierten Service Provider erläutert. Abschließend werden zukünftige Vorhaben aus den Standardisierungsprojekten ITU und DAVIC sowie weitere Realisierungen aufgezeigt.
KW  - Multimediamarkt
Y1  - 1997
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Bogoyavlenskiy, A. P.
A1  - Digel, Ilya
A1  - Berezin, V. E.
T1  - Assessment of dot-blot ELISA sensitivity on membrane sorbent using various peroxidase substrates
N2  - The sensitivity of the peroxidase reaction in dot-blot ELISA significantly depends on the substrate. The highest sensitivity is observed using benzidine and diamine- phenol combinations as the substrates due to the reaction of the coupled oxidation (NADI)
KW  - Enzyme-linked immunosorbent assay
KW  - Peroxidase
KW  - ELISA
KW  - phenols
KW  - naphtols
KW  - aromatic amines
Y1  - 1997
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Schulte-Zurhausen, Manfred
T1  - [Mehrere Beiträge]
JF  - Lexikon Informatik und Datenverarbeitung
Y1  - 1997
SN  - 3-486-22875-7
PB  - Oldenbourg
CY  - München [u.a.]
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Praezise Streuparametermessungen sind der Schluessel zur Modellierung elektrischer Schaltungen
JF  - Neues von Rohde & Schwarz (1997)
Y1  - 1997
SP  - 22
EP  - 23
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - Results of network analyzer measurements with leakage errors-corrected with direct calibration techniques
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5
Y1  - 1997
SN  - 0018-9456
SP  - 1120
EP  - 1127
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - 15-term self-calibration methods for the error-correction of on-wafer measurements
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5
Y1  - 1997
SN  - 0018-9456
SP  - 1105
EP  - 1110
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Line Network Network (LNN): an alternative in-fixture calibration procedure
JF  - IEEE transactions on microwave theory and techniques : MTT ; a publication of the IEEE Microwave Theory and Techniques Society. 45 (1997), H. 3
Y1  - 1997
SN  - 0018-9480
SP  - 408
EP  - 413
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Leerläufe als postulierte Kalibrierstandards fuer Messungen auf planaren Schaltungen
JF  - tm - Technisches Messen. 64. 1997 (1997), H. 6
Y1  - 1997
SP  - 230
EP  - 237
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Direkte Messung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 40. 1997 (1997)
Y1  - 1997
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Microwave On-Wafer Measurements with Activ Needle Probe Tips
Y1  - 1997
N1  - 47th ARFTG Conference digest : June 20 - 21, 1996, Moscone Convention Center, San Francisco, California / Automatic RF Techniques Group. [Publication chair: Ed Godshalk
SP  - 208
EP  - 214
ER  -