TY - CHAP A1 - Staat, Manfred A1 - Heitzer, Michael T1 - Direkte FEM-Berechnung der Tragfähigkeit hochbeanspruchter passiver Komponenten T1 - Direct FEM-computation of load carrying capacity of highly loaded passive components N2 - Genaue Kenntnis der Spannungen und Verformungen in passiven Komponenten gewinnt man mit detailierten inelastischen FEM Analysen. Die lokale Beanspruchung läßt sich aber nicht direkt mit einer Beanspruchbarkeit im strukturmechanischen Sinne vergleichen. Konzentriert man sich auf die Frage nach der Tragfähigkeit, dann vereinfacht sich die Analyse. Im Rahmen der Plastizitätstheorie berechnen Traglast- und Einspielanalyse die tragbaren Lasten direkt und exakt. In diesem Beitrag wird eine Implementierung der Traglast- und Einspielsätze in ein allgemeines FEM Programm vorgestellt, mit der die Tragfähigkeit passiver Komponenten direkt berechnet wird. Die benutzten Konzepte werden in Bezug auf die übliche Strukturanalyse erläutert. Beispiele mit lokal hoher Beanspruchung verdeutlichen die Anwendung der FEM basierten Traglast- und Einspielanalysen. Die berechneten Interaktionsdiagramme geben einen guten Überblick über die möglichen Betriebsbereiche passiver Komponenten. Die Traglastanalyse bietet auch einen strukturmechanischen Zugang zur Kollapslast rißbehafteter Komponenten aus hochzähem Material. KW - Finite-Elemente-Methode KW - Tragfähigkeit KW - FEM-Programm KW - FEM-computation KW - load carrying capacity Y1 - 1997 ER - TY - CHAP A1 - Staat, Manfred A1 - Heitzer, Michael T1 - Limit and shakedown analysis for plastic design N2 - Limit and shakedown theorems are exact theories of classical plasticity for the direct computation of safety factors or of the load carrying capacity under constant and varying loads. Simple versions of limit and shakedown analysis are the basis of all design codes for pressure vessels and pipings. Using Finite Element Methods more realistic modeling can be used for a more rational design. The methods can be extended to yield optimum plastic design. In this paper we present a first implementation in FE of limit and shakedown analyses for perfectly plastic material. Limit and shakedown analyses are done of a pipe–junction and a interaction diagram is calculated. The results are in good correspondence with the analytic solution we give in the appendix. KW - Einspielen KW - Traglast KW - Finite-Elemente-Methode KW - Traglastanalyse KW - Einspielanalyse KW - FEM KW - limit analysis KW - shakedown analysis Y1 - 1997 ER - TY - CHAP A1 - Weßling, Matthias T1 - Plädoyer für eigenverantwortliches Lernen und Arbeiten im Hochschulstudium : Bedeutung und Folgerungen für Studierende und Lehrende T2 - Effektiver lernen - Zeit gewinnen N2 - Inhaltsverzeichnis: I. Lern- und Arbeitstechniken im 1. und im 10. Semester II. Lern- und Arbeitstechniken als persönliches Selbstmanagement III. Diskussionsfragen und -thesen IV. Was heißt: Eigenverantwortung im Studium? V. Eigenverantwortung als gelebte Freiheit von Studierenden VI. Warum es unmöglich ist, Verantwortung an Studierende zu delegieren VII. Erziehungsauftrag: Studierende in ihrer Eigenverantwortung belassen VIII. Folgerungen für Lehrende IX. Folgerungen für Studierende KW - Lernstil KW - Selbstorganisation KW - Effektives Lernen Y1 - 1997 SN - 3-87575-012-8 SP - 70 EP - 82 PB - Neinhaus CY - Stuttgart ER - TY - JOUR A1 - Lohr, Jürgen T1 - XAPI - eine universelle Kommunikationsplattform T1 - XAPI - a universal communication platform N2 - zuerst erschienen in Telekom-Praxis Ausgabe 1997. Von Jürgen Lohr, Jahrgang 1962, beschäftigt mit Softwareentwicklung im Projekt "Interaktive Multimedia" bei der Deutschen Telekom AG, Entwicklungszentrum Berlin. 26 S. Der Beitrag befaßt sich mit dem Thema der universellen Kommunikationsplattform für neue, interaktive, multimediale Dienste und Anwendungen. Ausgehend von den Diensten wird ein Referenzmodell für offene Kommunikation und die Kommunikationsplattform kurz vorgestellt. Desweiteren wird die XAPI mit den Grundbegriffen, den Phasen der Kommunikation und dem Status Modell dargelegt. Ebenfalls werden die realisierten Service Provider erläutert. Abschließend werden zukünftige Vorhaben aus den Standardisierungsprojekten ITU und DAVIC sowie weitere Realisierungen aufgezeigt. KW - Multimediamarkt Y1 - 1997 ER - TY - JOUR A1 - Bogoyavlenskiy, A. P. A1 - Digel, Ilya A1 - Berezin, V. E. T1 - Assessment of dot-blot ELISA sensitivity on membrane sorbent using various peroxidase substrates N2 - The sensitivity of the peroxidase reaction in dot-blot ELISA significantly depends on the substrate. The highest sensitivity is observed using benzidine and diamine- phenol combinations as the substrates due to the reaction of the coupled oxidation (NADI) KW - Enzyme-linked immunosorbent assay KW - Peroxidase KW - ELISA KW - phenols KW - naphtols KW - aromatic amines Y1 - 1997 ER - TY - JOUR A1 - Schulte-Zurhausen, Manfred T1 - [Mehrere Beiträge] JF - Lexikon Informatik und Datenverarbeitung Y1 - 1997 SN - 3-486-22875-7 PB - Oldenbourg CY - München [u.a.] ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - Praezise Streuparametermessungen sind der Schluessel zur Modellierung elektrischer Schaltungen JF - Neues von Rohde & Schwarz (1997) Y1 - 1997 SP - 22 EP - 23 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, B. T1 - Results of network analyzer measurements with leakage errors-corrected with direct calibration techniques JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5 Y1 - 1997 SN - 0018-9456 SP - 1120 EP - 1127 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, B. T1 - 15-term self-calibration methods for the error-correction of on-wafer measurements JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5 Y1 - 1997 SN - 0018-9456 SP - 1105 EP - 1110 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Line Network Network (LNN): an alternative in-fixture calibration procedure JF - IEEE transactions on microwave theory and techniques : MTT ; a publication of the IEEE Microwave Theory and Techniques Society. 45 (1997), H. 3 Y1 - 1997 SN - 0018-9480 SP - 408 EP - 413 ER -