TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - Calibration of a Network Analyzer Without a Thru Connection for Nonlinear and Multiport Measurements JF - IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. 56 (2008), H. 11, 1 Y1 - 2008 SN - 0018-9480 SP - 2505 EP - 2510 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - Dual mode radio: A new tranceiver architecture for UWB and 60 GHz-applications JF - European Conference on Wireless Technology, 2008. EuWiT 2008. Y1 - 2008 SN - 978-2-87487-008-8 SP - 147 EP - 150 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - A 14 W SPST Switch with Four PIN-Diodes In a 0402-SMD-Package Y1 - 2008 SN - 978-3-8007-3086-5 N1 - Microwave Conference (GeMIC), 2008 German SP - 318 EP - 321 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Hillebrand, Jürgen A1 - Sadeghfam, Arash T1 - Novel Concept of a Digital SigmaDelta-PLL-Phase-Shift-Modulator / Hillebrand, Jürgen ; Sadeghfam, Arash ; Heuermann, Holger Y1 - 2008 SN - 978-3-8007-3086-5 N1 - Microwave Conference (GeMIC), 2008 German SP - 123 EP - 126 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Ibrahim, Irfan T1 - Novel theory and architecture of a vector signal generator implemented with two PLLs / Ibrahim, Irfan ; Heuermann, Holger JF - European Conference on Wireless Technology, 2008. EuWiT 2008. Y1 - 2008 SN - 978-2-87487-008-8 SP - 85 EP - 88 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Sadeghfam, Arash T1 - Electrically tunable bandpass filter with integrated carrier suppression for UHF RFID systems / Sadeghfam, Arash ; Heuermann, Holger JF - European Microwave Conference, 2008, EuMC 2008, 38th Y1 - 2008 SN - 978-2-87487-006-4 SP - 1727 EP - 1730 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Sadeghfam, Arash T1 - Electrically tunable bandpass filter with integrated carrier suppression for UHF RFID systems / Sadeghfam, Arash ; Heuermann, Holger JF - European Conference on Wireless Technology, 2008. EuWiT 2008. Y1 - 2008 SN - 978-2-87487-008-8 SP - 306 EP - 309 ER - TY - JOUR A1 - Hillgärtner, Michael A1 - Peier, Dirk T1 - Nutzbarkeit bestehender, geschirmter Labore als Modenverwirbelungskammer JF - Elektromagnetische Verträglichkeit : EMV 2008, Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, 19. - 21. Februar 2008, Messe Düsseldorf / Gonschorek, Karl-Heinz Y1 - 2008 SN - 978-3-8007-3075-9 N1 - EMV <2008, Stuttgart> ; Mesago-Messe-Frankfurt <2008, Stuttgart> SP - 579 EP - 586 PB - VDE-Verl. CY - Berlin [u.a.] ER - TY - JOUR A1 - Hoffmann, Ulrich T1 - Neue Wege in die Hochschule – Beispiel des berufsbegleitenden Studienganges Prozesstechnik der FH Aachen und der Rhein-Erft Akademie JF - HIS: Forum Hochschule. 2008 (2008), H. F14 Y1 - 2008 SN - 1863-5563 SP - 130 EP - 138 ER - TY - JOUR A1 - Hüning, Felix T1 - Die Anforderungen steigen : Entwicklungstrends bei MOSFETs für den Automobilbereich JF - Elektronik-Industrie. 39 (2008), H. 5 Y1 - 2008 SN - 0174-5522 SP - 74 EP - 76 PB - - ER -