TY  - JOUR
A1  - Kämper, Klaus-Peter
A1  - Merten, Sabine
A1  - Brill, Manfred
A1  - Picard, Antoni (u.a.)
T1  - Vom virtuellen Wafer zum realen Drucksensor: Information – Communication – Knowledge engineering education today
JF  - Schriftenreihe Ingenieurpädagogik : Hochschule für Bildungswissenschaften in Klagenfurt ; Band 49
Y1  - 2003
N1  - Referate des 32. Symposiums der Internationalen Gesellschaft für Ingenieurpädagogik,
SP  - 318
EP  - 321
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kämper, Klaus-Peter
A1  - Merten, Sabine
A1  - Brill, Manfred
A1  - Picard, Antoni (u.a.)
T1  - Vom virtuellen Wafer zum realen Drucksensor: Bildungsnetzwerke verbessern die Ausbildung in Hochtechnologien.
JF  - Kooperation und Arbeit in vernetzten Welten : Tagungsband der GFA-Herbstkonferenz 2003, Aachen, 29. September - 01. Oktober 2003 / Holger Luczak (Hrsg.)
Y1  - 2003
SN  - 3-935089-71-6
N1  - Konferenz-Einzelbericht: GfA Herbstkonf, HerbstKonf. der Gesellschaft für Arbeitswissenschaft
SP  - 238
EP  - 241
PB  - Ergonomia-Verl.
CY  - Stuttgart
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kämper, Klaus-Peter
A1  - Merten, Sabine
A1  - Brill, Manfred
A1  - Cassel, Detlev (u.a.)
T1  - Virtuelle Sensor-Fertigung: Hightech mit LabVIEW
JF  - Virtuelle Instrumente in der Praxis : Messtechnik, Automatisierung ; Begleitband zum Kongress VIP 2003 / Rahman Jamal ; Hans Jaschinski (Hrsg.)
Y1  - 2003
SN  - 3-7785-2908-0
N1  - Konferenz-Einzelbericht: Praxiswissen Elektronik-Industrie: Messtechnik -Automatisierung
SP  - 465
EP  - 470
PB  - Hüthig
CY  - Heidelberg
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kämper, Klaus-Peter
A1  - Schmitt, W.
A1  - Wesner, D. A.
A1  - Güntherodt, G.
T1  - Thickness dependence of the spin- and angle-resolved photoemission of ultrathin, epitaxial Ni(111)/W(110) layers
JF  - Applied Physics A: Materials Science and Processing. 49 (1989), H. 6
Y1  - 1989
SN  - 1432-0630
SP  - 573
EP  - 578
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kämper, Klaus-Peter
A1  - Schmitt, W.
A1  - Güntherodt, G.
T1  - Thickness dependence of the electronic structure of ultrathin, epitaxial Ni(111)/W(110) layers.
JF  - Physical Review B. 38 (1988), H. 14
Y1  - 1988
SN  - 1095-3795
SP  - 9451
EP  - 9456
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kämper, Klaus-Peter
A1  - Picard, Antoni
A1  - Brill, Manfred
A1  - Cassel, Detlef (u.a.)
T1  - The Virtual Cleanroom – a new tool in teaching MST process technologies
JF  - mst news International newsletter on micro - nano Integration (2003)
Y1  - 2003
SN  - 0948-3128
SP  - 35
EP  - 36
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kämper, Klaus-Peter
A1  - Picard, Antoni
A1  - Brill, Manfred
A1  - Cassel, Detlev
A1  - Jentsch, Andreas
A1  - Merten, Sabine
A1  - Rollwa, Markus
T1  - The Virtual Clean Room - a new tool in teaching MST process technologies
N2  - The Virtual Clean Room - a new tool in teaching MST process technologies University education in high-technology fields like MST is not complete without intensive laboratory sessions. Students cannot fully grasp the complexity and the special problems related to the manufacturing of microsystems without a thorough hands-on experience in a MST clean room.
KW  - Virtuelle Maschine
KW  - VM
KW  - Mikrosystemtechnik
KW  - MST
KW  - virtual clean room
Y1  - 2003
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kämper, Klaus-Peter
A1  - Schmitt, W.
A1  - Güntherodt, G.
T1  - The influence of adsorbates on the spin-resolved photoemission of Ni(110). Schmitt, W.; Kämper, K.-P.; Güntherodt, G.
JF  - Surface Science. 189/190 (1987)
Y1  - 1987
SN  - 0039-6028
N1  - Proceedings of the Ninth European Conference on Surface Science
SP  - 741
EP  - 507
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kämper, Klaus-Peter
A1  - Schmitt, W.
A1  - Güntherodt, G.
T1  - Temperature dependence of the exchange splitting of Ni along the -L line
JF  - Journal de physique. 49 (1988), H. 12. Supplement, Colloque C8
Y1  - 1988
N1  - Proceedings of the International conference on Magnetism. Part 1. ICM 88, Paris, France, Juli 25-29, 1988
SP  - 39
EP  - 40
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kämper, Klaus-Peter
A1  - Schmitt, W.
A1  - Güntherodt, G.
T1  - Temperature and wave-vector dependence of the spin-split band structure of Ni(111) along the Γ-L line
JF  - Physical Review B. 42 (1990), H. 16
Y1  - 1990
SN  - 1095-3795
SP  - 10696
EP  - 10705
ER  -