TY  - JOUR
A1  - Kloock, Joachim P.
A1  - Poghossian, Arshak
A1  - Schumacher, K.
A1  - Rosenkranz, C.
A1  - Schultze, J. W.
A1  - Müller-Veggian, Mattea
A1  - Schöning, Michael Josef
T1  - Funktionsprüfung und Charakterisierung von ionensensitiven Feldeffekttransistoren (ISFETs) auf Waferebene mittels Mikrotropfenzelle für den zukünftigen Einsatz in der Sensorproduktion
JF  - Sensoren und Messsysteme 2006 : Vorträge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14. März 2006 in Freiburg/Breisgau / Veranst.: Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG) ; VDE/VDI-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA). Wiss. Tagungsleitung: L. M. Reindl
Y1  - 2006
SN  - 3-8007-2939-3
N1  - Fachtagung Sensoren und Messsysteme <13, 2006, Freiburg, Breisgau>
SP  - 257
EP  - 260
PB  - VDE-Verl.
CY  - Berlin
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Knobbe, D.-T.
A1  - Schöning, Michael Josef
A1  - Poghossian, Arshak
A1  - Mourzina, Y.
T1  - Charakterisierung von kapazitiven EMISSensoren mittels Impedanzspektroskopie, Kapazitäts-Spannungs- und Konstant-Kapazitäts-Messung
JF  - Sensoren und Messsysteme 2004 : Tagung Ludwigsburg, 15. und 16. März 2004 / VDI-VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik
Y1  - 2004
SN  - 3-18-091829-2
N1  - Auch erschienen als: VDI-Berichte ; 1829
SP  - 851
EP  - 854
PB  - VDI
CY  - Düsseldorf
ER  -