TY  - BOOK
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Sichere Verfahren zur Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren fuer koaxiale und planare Leitungssysteme
Y1  - 1996
SN  - 3-8265-1495-5
N1  - Zugl.: Bochum, Univ., Diss., 1995
PB  - Shaker
CY  - Aachen
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Hochfrequenztechnik : Lineare Komponenten hochintegrierter Hochfrequenzschaltungen
Y1  - 2005
SN  - 3-528-03980-9
PB  - Vieweg
CY  - Wiesbaden
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Ritz, Thomas
A1  - Stender, Michael
ED  - Weisbecker, Anette
T1  - Ad-hoc Anwendungsintegration mit mobilen CRM-Systement
JF  - Electronic Business : Innovationen, Anwendungen und Technologien
Y1  - 2004
SN  - 3-8167-6621-8
SP  - 92
EP  - 97
PB  - Fraunhofer-IRB-Verl.
CY  - Stuttgart
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Praezise Streuparametermessungen sind der Schluessel zur Modellierung elektrischer Schaltungen
JF  - Neues von Rohde & Schwarz (1997)
Y1  - 1997
SP  - 22
EP  - 23
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Direkte Messung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 40. 1997 (1997)
Y1  - 1997
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Direkte on-wafer-Messung des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 41. 1998 (1998)
Y1  - 1998
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Neuartige Algorithmen fuer die Mikrowellen-Entfernungsmessung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995)
Y1  - 1995
SP  - 817
EP  - 834
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten
JF  - Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]
Y1  - 1995
SN  - 3-924651-45-0
N1  - MIOP ; (8, 1995, Sindelfingen)
SP  - 23
EP  - 29
CY  - Hagenburg
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993)
Y1  - 1993
SP  - 195
EP  - 204
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)
Y1  - 1994
SP  - 611
EP  - 622
ER  -