TY  - JOUR
A1  - Prume, Klaus
A1  - Tiedke, S.
A1  - Schmitz, T.
A1  - Roelofs, A.
T1  - Direct hysteresis measurements of single nanosized ferroelectric capacitors contacted with an atomic force microscope / Tiedke, S. ; Schmitz, T. ; Prume, K. ; Roelofs, A. ; Schneller, T. ; Kall, U. ; Waser, R. ; Ganpule, C. S. ; Nagarajan, V. ; Stanishevs
JF  - Applied Physics Letters. 79 (2001), H. 22
Y1  - 2001
SN  - 0003-6951
SP  - 3678
EP  - 3680
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Prume, Klaus
T1  - Modellierung und Simulation der elektrisch-thermisch-mechanisch gekoppelten Eigenschaften keramischer Vielschichtstrukturen
Y1  - 2001
SN  - 3-8265-8309-4
N1  - Zugl.: Aachen, Techn. Hochschul., Diss., 2001; Berichte aus der Elektrotechnik
PB  - Shaker
CY  - Aachen
ER  -