TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - A Generalization of the Txx Network Analyzer Self-Calibration Procedure
JF  - Conference proceedings : monday 24th to thursday 27th august 1992, Helsinki University of Technology, Espoo, Finland ; [the international conference and exhibition designed for the Microwave Community]. Vol. 2
Y1  - 1992
SN  - 0-946821-77-1
N1  - European Microwave Conference <22, 1992, Espoo> ; Teknillinen Korkeakoulu <Helsinki>
SP  - 907
EP  - 912
PB  - Microwave Exhibitions and Publishers
CY  - Tunbridge Wells
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Direkte Messung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 40. 1997 (1997)
Y1  - 1997
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Direkte on-wafer-Messung des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 41. 1998 (1998)
Y1  - 1998
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Neuartige Algorithmen fuer die Mikrowellen-Entfernungsmessung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995)
Y1  - 1995
SP  - 817
EP  - 834
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten
JF  - Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]
Y1  - 1995
SN  - 3-924651-45-0
N1  - MIOP ; (8, 1995, Sindelfingen)
SP  - 23
EP  - 29
CY  - Hagenburg
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - LNN (Line-Network-Network): Verfahren zur Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 36. 1992 (1992)
Y1  - 1992
SP  - 327
EP  - 335
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993)
Y1  - 1993
SP  - 195
EP  - 204
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)
Y1  - 1994
SP  - 611
EP  - 622
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Vergleich mehrerer Naeherungsverfahren zur Berechnung des Wellenwiderstandes von Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Ergebnissen
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996)
Y1  - 1996
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Calibration of network analyser measurements with leakage errors
JF  - Electronics letters. 30 (1994), H. 1
Y1  - 1994
SN  - 0013-5194
SP  - 52
EP  - 53
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Leerläufe als postulierte Kalibrierstandards fuer Messungen auf planaren Schaltungen
JF  - tm - Technisches Messen. 64. 1997 (1997), H. 6
Y1  - 1997
SP  - 230
EP  - 237
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich
JF  - tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2
Y1  - 1995
SP  - 66
EP  - 73
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung für systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 35. 1991 (1991)
Y1  - 1991
SP  - 555
EP  - 556
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - 15-term self-calibration methods for the error-correction of on-wafer measurements
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5
Y1  - 1997
SN  - 0018-9456
SP  - 1105
EP  - 1110
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Line Network Network (LNN): an alternative in-fixture calibration procedure
JF  - IEEE transactions on microwave theory and techniques : MTT ; a publication of the IEEE Microwave Theory and Techniques Society. 45 (1997), H. 3
Y1  - 1997
SN  - 0018-9480
SP  - 408
EP  - 413
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Calibration procedures with series impedances and unknown lines simplify on-wafer measurements
JF  - IEEE transactions on microwave theory and techniques : MTT ; a publication of the IEEE Microwave Theory and Techniques Society. 47 (1999), H. 1
Y1  - 1999
SN  - 0018-9480
SP  - 1
EP  - 5
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - Procedures for the Determination of the Scattering Parameters for Network Analyzer Calibration
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 42 (1993), H. 2
Y1  - 1993
SN  - 0018-9456
SP  - 528
EP  - 531
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - Robust Algorithms for Txx Network Analyzer Self-Calibration Procedures
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 43 (1994), H. 1
Y1  - 1994
SN  - 0018-9456
SP  - 18
EP  - 23
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - Error corrected impedance measurements with a network analyzer
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 44 (1995), H. 2
Y1  - 1995
SN  - 0018-9456
SP  - 295
EP  - 299
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - Results of network analyzer measurements with leakage errors-corrected with direct calibration techniques
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5
Y1  - 1997
SN  - 0018-9456
SP  - 1120
EP  - 1127
ER  -