TY  - JOUR
A1  - Tillmann, K.
A1  - Förster, Arnold
T1  - Critical dimensions for the formation of interfacial misfit dislocations of In0.6Ga0.4As islands on GaAs(001)
JF  - Thin Solid Films. 368 (2000), H. 1
Y1  - 2000
SN  - 0040-6090
SP  - 93
EP  - 104
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Vitusevich, S. A.
A1  - Förster, Arnold
A1  - Reetz, W.
A1  - Lüth, H.
A1  - Belyaev, A. E.
A1  - Danylyuk, S. V.
T1  - Spectral Responsivity of single-quantum-well photodetectors
JF  - Applied Physics Letters. 77 (2000), H. 1
Y1  - 2000
SN  - 1077-3118
SP  - 16
EP  - 18
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Rosenauer, A.
A1  - Oberst, W.
A1  - Gerthsen, D.
T1  - Atomic scale analysis of the indium distribution in InGaAs/GaAs (001) heterostructures: segregation, lateral indium redistribution and the effect of growth interruptions. Rosenauer, A. ; Oberst, W. ; Gerthsen, D. ; Förster, A.
JF  - Thin Solid Films. 357 (1999)
Y1  - 1999
SN  - 0040-6090
SP  - 18
EP  - 21
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Darmo, J.
A1  - Dubecky, F.
A1  - Kordos, P.
T1  - Annealing effect on concentration of EL6-like deep-level state in low-temperature-grown molecular beam epitaxial GaAs. Darmo, J.; Dubecky, F.; Kordos, P.; Förster, A.
JF  - Applied Physics Letters. 72 (1998), H. 5
Y1  - 1998
SN  - 1077-3118
SP  - 590
EP  - 592
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Lachenmann, S. G.
A1  - Fridrich, I.
A1  - Schäpers, T.
T1  - Supression of the surface-inversion layer of p-type InAs. Lachenmann, S. G.; Fridrich, I.; Förster, A.; Schäpers, Th.
JF  - Journal of Applied Physics. 85 (1999), H. 12
Y1  - 1999
SN  - 1089-7550
SP  - 8242
EP  - 8246
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Zamdmer, N.
A1  - Hu, Qing
A1  - McIntosh, K. A.
T1  - On-chip frequency domain submillimeter-wave transceiver. Zamdmer, N.; Hu, Qing ;  McIntosh K. A. ; Verghise, S. ; Förster, A.
JF  - Applied Physics Letters. 75 (1999), H. 24
Y1  - 1999
SN  - 1077-3118
SP  - 3877
EP  - 3879
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Griebel, M.
A1  - Indlekofer, K. M.
A1  - Lüth, H.
T1  - Transport properties of gated resonant tunneling diodes in the single electron regime. Griebel, M.; Indlekofer,  K. M.; Förster, A.; Lüth, H.
JF  - Journal of Applied Physics. 84 (1998), H. 12
Y1  - 1998
SN  - 1089-7550
SP  - 6719
EP  - 6724
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Lachenmann, S. G.
A1  - Kastalsky, A.
A1  - Uhlisch, D.
T1  - Hybrid superconductor/semiconductor step junction with three terminals. Lachenmann, S. G.; Kastalsky, A.; Förster A.; Uhlisch, D.; Neurohr, K.; Schäpers, Th.
JF  - Journal of Applied Physics. 83 (1998), H. 12
Y1  - 1998
SN  - 1089-7550
SP  - 8077
EP  - 8079
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
T1  - Ultrahigh frequency measurements of magnetic penetration length and surface impedance of YBa2Cu3O7–x microstriplines on Si and GaAs substrates . Rüders, F; Hollricher, O.;  Copetti, C. A. ; Förster,  A. ; Buchal, Ch. ; Prusseit, W.  ; Kinder, H.
JF  - Journal of Applied Physics. 77 (1995), H. 10
Y1  - 1995
SN  - 1089-7550
SP  - 5282
EP  - 5286
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Hauke, M.
A1  - Jakumeit, J.
A1  - Krafft, B.
T1  - DX Centers in Al0.3Ga0.7As/GaAs Analyzed by Point Contact Measurements. Hauke, M.; Jakumeit, J.; Krafft, B.; Nimtz, G.; Förster, A.; Lüth, H.
JF  - Journal of Applied Physics. 84 (1998), H. 4
Y1  - 1998
SN  - 1089-7550
SP  - 2034
EP  - 2039
ER  -