TY  - JOUR
A1  - Ritz, Thomas
T1  - Mobile CRM-Systeme : Customer Relationship Management zur Unterstützung des Vertriebsaußendienstes
JF  - Zeitschrift für wirtschaftlichen Fabrikbetrieb : ZWF ; Organ des VDI-Kompetenzfeldes Informationstechnik (VDI-KfIT)
Y1  - 2003
SN  - 0932-0482 (Print)
SN  - 0947-0085 (Online)
VL  - 99
IS  - 12
SP  - 699
EP  - 702
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Ritz, Thomas
A1  - Stender, Michael
ED  - Weisbecker, Anette
T1  - Ad-hoc Anwendungsintegration mit mobilen CRM-Systement
JF  - Electronic Business : Innovationen, Anwendungen und Technologien
Y1  - 2004
SN  - 3-8167-6621-8
SP  - 92
EP  - 97
PB  - Fraunhofer-IRB-Verl.
CY  - Stuttgart
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Praezise Streuparametermessungen sind der Schluessel zur Modellierung elektrischer Schaltungen
JF  - Neues von Rohde & Schwarz (1997)
Y1  - 1997
SP  - 22
EP  - 23
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Direkte Messung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 40. 1997 (1997)
Y1  - 1997
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Direkte on-wafer-Messung des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 41. 1998 (1998)
Y1  - 1998
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Neuartige Algorithmen fuer die Mikrowellen-Entfernungsmessung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995)
Y1  - 1995
SP  - 817
EP  - 834
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten
JF  - Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]
Y1  - 1995
SN  - 3-924651-45-0
N1  - MIOP ; (8, 1995, Sindelfingen)
SP  - 23
EP  - 29
CY  - Hagenburg
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993)
Y1  - 1993
SP  - 195
EP  - 204
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)
Y1  - 1994
SP  - 611
EP  - 622
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Vergleich mehrerer Naeherungsverfahren zur Berechnung des Wellenwiderstandes von Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Ergebnissen
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996)
Y1  - 1996
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Leerläufe als postulierte Kalibrierstandards fuer Messungen auf planaren Schaltungen
JF  - tm - Technisches Messen. 64. 1997 (1997), H. 6
Y1  - 1997
SP  - 230
EP  - 237
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich
JF  - tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2
Y1  - 1995
SP  - 66
EP  - 73
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung für systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 35. 1991 (1991)
Y1  - 1991
SP  - 555
EP  - 556
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Benkner, Thorsten
T1  - Ein spektrumneutrales Mikrozellsystem mit Makro-Schirmzellen
JF  - Mobile Kommunikation : Vorträge der ITG-Fachtagung vom 26. bis 28. September 1995 in Neu-Ulm / Veranst.: Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG), ITG-Fachbereiche 1 "Kommunikationssysteme" ... Wiss. Tagungsleitung: Bernhard Walke
Y1  - 1995
SN  - 3-8007-2129-5
N1  - ITG-Fachbericht ; 135
PB  - VDE-Verl.
CY  - Berlin [u.a.]
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Benkner, Thorsten
T1  - Statistisches Multiplexen von Sprache und Daten in TDMA-Mobilfunksystemen der dritten Generation
JF  - 40. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium : 18. - 21.09.1995 / Technische Universität Ilmenau, Thüringen. [Hrsg. Dagmar Schipanski]
Y1  - 1995
N1  - Technische Universität ; (Ilmenau) ; Internationales Wissenschaftliches Kolloquium ; (40 : ; 1995.09.18-21 : ; Ilmenau)
CY  - Ilmenau
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Benkner, Thorsten
T1  - Mobile Breitband-Zugangstechniken für ATM-Netze
JF  - Konvergenz im Bereich der Telekommunikation. Beiträge der Invited Speakers und aus dem Call for Papers der gleichnamigen Tagung an der TU Graz
Y1  - 2000
SN  - 3-85133-021-8
N1  - Schriftenreihe des ÖVE, Bd. 25
PB  - Eigenverl. d. Österr. Verb. für Elektrotechnik
CY  - Wien
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Benkner, Thorsten
T1  - Einsatz der UMTS-Paketdatendienste für Telematikanwendungen
JF  - Telematik 2003 : Tagung Siegen, 17. u. 18. Juni 2003 / VDI-VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik
Y1  - 2003
SN  - 3-18-091785-7
N1  - VDI-Berichte ; 1785
SP  - 35
EP  - 52
PB  - VDI-Verl.
CY  - Düsseldorf
ER  -