TY  - JOUR
A1  - Knobbe, D.-T.
A1  - Schöning, Michael Josef
A1  - Poghossian, Arshak
A1  - Mourzina, Y.
T1  - Charakterisierung von kapazitiven EMISSensoren mittels Impedanzspektroskopie, Kapazitäts-Spannungs- und Konstant-Kapazitäts-Messung
JF  - Sensoren und Messsysteme 2004 : Tagung Ludwigsburg, 15. und 16. März 2004 / VDI-VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik
Y1  - 2004
SN  - 3-18-091829-2
N1  - Auch erschienen als: VDI-Berichte ; 1829
SP  - 851
EP  - 854
PB  - VDI
CY  - Düsseldorf
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Poghossian, Arshak
A1  - Wagner, H.
A1  - Schöning, Michael Josef
T1  - Automatisiertes „wafer level“-Testsystem zur Charakterisierung von siliziumbasierten Chemo- und Biosensoren
JF  - Sensoren und Messsysteme 2010 [Elektronische Ressource] : Vorträge der 15. ITG/GMA-Fachtagung vom 18. bis 19. Mai 2010 in Nürnberg / Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG); VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA)
Y1  - 2010
SN  - 978-3-8007-3260-9
N1  - Fachtagung Sensoren und Messsysteme 15, 2010, Nürnberg ; Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik
SP  - 89
EP  - 92
PB  - VDE Verlag
CY  - Berlin
ER  -