TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, B. T1 - Procedures for the Determination of the Scattering Parameters for Network Analyzer Calibration JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 42 (1993), H. 2 Y1 - 1993 SN - 0018-9456 SP - 528 EP - 531 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Stolle, Reinhard A1 - Schiek, Burkhard T1 - Novel Algorithms for FMCW Range Finding with Microwaves. Stolle, R.; Heuermann, H.; Schiek, B. Y1 - 1995 N1 - Conference proceedings / IEEE NTC '95, the Microwave Systems Conference; NTC <1995, Orlando, Fla.> SP - 129 EP - 132 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - Praezise Streuparametermessungen sind der Schluessel zur Modellierung elektrischer Schaltungen JF - Neues von Rohde & Schwarz (1997) Y1 - 1997 SP - 22 EP - 23 ER - TY - BOOK A1 - Heuermann, Holger T1 - Sichere Verfahren zur Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren fuer koaxiale und planare Leitungssysteme Y1 - 1996 SN - 3-8265-1495-5 N1 - Zugl.: Bochum, Univ., Diss., 1995 PB - Shaker CY - Aachen ER - TY - BOOK A1 - Heuermann, Holger T1 - Hochfrequenztechnik : Lineare Komponenten hochintegrierter Hochfrequenzschaltungen Y1 - 2005 SN - 3-528-03980-9 PB - Vieweg CY - Wiesbaden ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, B. T1 - Robust Algorithms for Txx Network Analyzer Self-Calibration Procedures JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 43 (1994), H. 1 Y1 - 1994 SN - 0018-9456 SP - 18 EP - 23 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, B. T1 - Error corrected impedance measurements with a network analyzer JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 44 (1995), H. 2 Y1 - 1995 SN - 0018-9456 SP - 295 EP - 299 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, B. T1 - Results of network analyzer measurements with leakage errors-corrected with direct calibration techniques JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5 Y1 - 1997 SN - 0018-9456 SP - 1120 EP - 1127 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, B. T1 - 15-term self-calibration methods for the error-correction of on-wafer measurements JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5 Y1 - 1997 SN - 0018-9456 SP - 1105 EP - 1110 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Line Network Network (LNN): an alternative in-fixture calibration procedure JF - IEEE transactions on microwave theory and techniques : MTT ; a publication of the IEEE Microwave Theory and Techniques Society. 45 (1997), H. 3 Y1 - 1997 SN - 0018-9480 SP - 408 EP - 413 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - Calibration procedures with series impedances and unknown lines simplify on-wafer measurements JF - IEEE transactions on microwave theory and techniques : MTT ; a publication of the IEEE Microwave Theory and Techniques Society. 47 (1999), H. 1 Y1 - 1999 SN - 0018-9480 SP - 1 EP - 5 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Calibration of network analyser measurements with leakage errors JF - Electronics letters. 30 (1994), H. 1 Y1 - 1994 SN - 0013-5194 SP - 52 EP - 53 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - Leerläufe als postulierte Kalibrierstandards fuer Messungen auf planaren Schaltungen JF - tm - Technisches Messen. 64. 1997 (1997), H. 6 Y1 - 1997 SP - 230 EP - 237 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Stolle, Reinhard A1 - Schiek, Burkhard T1 - Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich JF - tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2 Y1 - 1995 SP - 66 EP - 73 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung für systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 35. 1991 (1991) Y1 - 1991 SP - 555 EP - 556 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - LNN (Line-Network-Network): Verfahren zur Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 36. 1992 (1992) Y1 - 1992 SP - 327 EP - 335 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993) Y1 - 1993 SP - 195 EP - 204 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994) Y1 - 1994 SP - 611 EP - 622 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Graf, W. T1 - Vergleich mehrerer Naeherungsverfahren zur Berechnung des Wellenwiderstandes von Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Ergebnissen JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996) Y1 - 1996 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Graf, W. T1 - Direkte Messung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 40. 1997 (1997) Y1 - 1997 ER -