TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung für systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 35. 1991 (1991) Y1 - 1991 SP - 555 EP - 556 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - LNN (Line-Network-Network): Verfahren zur Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 36. 1992 (1992) Y1 - 1992 SP - 327 EP - 335 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - A Fast and Robust Procedure for the Determination of the Scattering Parameters for Network Analyzer Calibration Y1 - 1992 N1 - Precision electromagnetic measurements : conference Paris, 9-12 June 1992 = Conférence sur les Mesures Electromagnétiques de Précision. SP - 373 EP - 374 CY - Paris ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - A Generalization of the Txx Network Analyzer Self-Calibration Procedure JF - Conference proceedings : monday 24th to thursday 27th august 1992, Helsinki University of Technology, Espoo, Finland ; [the international conference and exhibition designed for the Microwave Community]. Vol. 2 Y1 - 1992 SN - 0-946821-77-1 N1 - European Microwave Conference <22, 1992, Espoo> ; Teknillinen Korkeakoulu SP - 907 EP - 912 PB - Microwave Exhibitions and Publishers CY - Tunbridge Wells ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - The In-Fixture Calibration Procedure Line-Network-Network-LNN JF - Conference proceedings : monday 6th to thursday 9th september 1993, Palacio de Congresos, Madrid, Spain ; [the international conference and exhibition designed for the Microwave Community] Y1 - 1992 SN - 0-946821-23-2 N1 - European Microwave Conference <23, 1993, Madrid> SP - 500 EP - 505 PB - Reed Exhibition Companies CY - Tunbridge Wells ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, B. T1 - Procedures for the Determination of the Scattering Parameters for Network Analyzer Calibration JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 42 (1993), H. 2 Y1 - 1993 SN - 0018-9456 SP - 528 EP - 531 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993) Y1 - 1993 SP - 195 EP - 204 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - LNN( Line-Network-Network): The In-Fixture Calibration Procedure Y1 - 1993 N1 - XXIVth General Assembly of the International URSI, Kyoto SP - 149 EP - 149 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, B. T1 - Robust Algorithms for Txx Network Analyzer Self-Calibration Procedures JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 43 (1994), H. 1 Y1 - 1994 SN - 0018-9456 SP - 18 EP - 23 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Calibration of network analyser measurements with leakage errors JF - Electronics letters. 30 (1994), H. 1 Y1 - 1994 SN - 0013-5194 SP - 52 EP - 53 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994) Y1 - 1994 SP - 611 EP - 622 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Error Corrected Impedance Measurements with a Network Analyzer Y1 - 1994 N1 - 1994 Conference on Precision Electromagnetic Measurements digest : 27 June - 1 July 1994, Boulder, Colorado, USA / Organized by National Institute of Standards and Technology. Ed. by Edie DeWeese SP - 125 EP - 126 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Scattering Parameter Measurements of Microstrip Devices using the Double-LNN Calibration Technique JF - Conference proceedings : [Palais des Festivals et des Congrès Cannes, France, 5 - 8 September 1994] Y1 - 1994 SN - 0-9518032-5-5 N1 - European Microwave Conference <24, 1994, Cannes> PB - Nexus Business Communications CY - Swanley ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Results of Network Analyzer Measurements with Leakage Errors Corrected with the TMS-15-Term Procedure Y1 - 1994 N1 - 1994 IEEE MTT-S International Microwave Symposium digest : May 23 - 27, 1994, San Diego Convention Center, San Diego, California / H. J. Kuno, ed. SP - 1361 EP - 1364 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Baumann, F.-M. A1 - Fauth, G. A1 - Albert, M. T1 - Results of Network Analyzer Measurements with Leakage Errors Corrected with the TMS-15-Term Procedure JF - On-Line Moisture Analysis of Raw Coal Y1 - 1994 N1 - 1993 International Symposium on On-Line Analysis of Coal : Vienna ; [proceedings]. SP - 1361 EP - 1364 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Stolle, Reinhard A1 - Schiek, Burkhard T1 - Novel Algorithms for FMCW Range Finding with Microwaves. Stolle, R.; Heuermann, H.; Schiek, B. Y1 - 1995 N1 - Conference proceedings / IEEE NTC '95, the Microwave Systems Conference; NTC <1995, Orlando, Fla.> SP - 129 EP - 132 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, B. T1 - Error corrected impedance measurements with a network analyzer JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 44 (1995), H. 2 Y1 - 1995 SN - 0018-9456 SP - 295 EP - 299 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Stolle, Reinhard A1 - Schiek, Burkhard T1 - Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich JF - tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2 Y1 - 1995 SP - 66 EP - 73 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Stolle, Reinhard A1 - Schiek, Burkhard T1 - Neuartige Algorithmen fuer die Mikrowellen-Entfernungsmessung JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995) Y1 - 1995 SP - 817 EP - 834 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten JF - Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH] Y1 - 1995 SN - 3-924651-45-0 N1 - MIOP ; (8, 1995, Sindelfingen) SP - 23 EP - 29 CY - Hagenburg ER -