TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Hauke, M.
A1  - Jakumeit, J.
A1  - Krafft, B.
T1  - DX Centers in Al0.3Ga0.7As/GaAs Analyzed by Point Contact Measurements. Hauke, M.; Jakumeit, J.; Krafft, B.; Nimtz, G.; Förster, A.; Lüth, H.
JF  - Journal of Applied Physics. 84 (1998), H. 4
Y1  - 1998
SN  - 1089-7550
SP  - 2034
EP  - 2039
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Griebel, M.
A1  - Indlekofer, K. M.
A1  - Lüth, H.
T1  - Transport properties of gated resonant tunneling diodes in the single electron regime. Griebel, M.; Indlekofer,  K. M.; Förster, A.; Lüth, H.
JF  - Journal of Applied Physics. 84 (1998), H. 12
Y1  - 1998
SN  - 1089-7550
SP  - 6719
EP  - 6724
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Lachenmann, S. G.
A1  - Kastalsky, A.
A1  - Uhlisch, D.
T1  - Hybrid superconductor/semiconductor step junction with three terminals. Lachenmann, S. G.; Kastalsky, A.; Förster A.; Uhlisch, D.; Neurohr, K.; Schäpers, Th.
JF  - Journal of Applied Physics. 83 (1998), H. 12
Y1  - 1998
SN  - 1089-7550
SP  - 8077
EP  - 8079
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Darmo, J.
A1  - Dubecky, F.
A1  - Kordos, P.
T1  - Annealing effect on concentration of EL6-like deep-level state in low-temperature-grown molecular beam epitaxial GaAs. Darmo, J.; Dubecky, F.; Kordos, P.; Förster, A.
JF  - Applied Physics Letters. 72 (1998), H. 5
Y1  - 1998
SN  - 1077-3118
SP  - 590
EP  - 592
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Lachenmann, S. G.
A1  - Fridrich, I.
A1  - Schäpers, T.
T1  - Supression of the surface-inversion layer of p-type InAs. Lachenmann, S. G.; Fridrich, I.; Förster, A.; Schäpers, Th.
JF  - Journal of Applied Physics. 85 (1999), H. 12
Y1  - 1999
SN  - 1089-7550
SP  - 8242
EP  - 8246
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Zamdmer, N.
A1  - Hu, Qing
A1  - McIntosh, K. A.
T1  - On-chip frequency domain submillimeter-wave transceiver. Zamdmer, N.; Hu, Qing ;  McIntosh K. A. ; Verghise, S. ; Förster, A.
JF  - Applied Physics Letters. 75 (1999), H. 24
Y1  - 1999
SN  - 1077-3118
SP  - 3877
EP  - 3879
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Darmo, J.
A1  - Dubecký, F.
A1  - Kordos, P.
T1  - Deep-level states and electrical properties of GaAs grown at 250 °C / J. Darmo ; F. Dubecký ; P. Kordos ; A. Förster ...
JF  - Materials science and engineering B: Solid– state materials for advanced technology. 28 (1994), H. 1-3
Y1  - 1994
SN  - 0921-5107
SP  - 393
EP  - 396
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Betko, J.
A1  - Kordos, P.
A1  - Kuklovsky, S.
T1  - Electrical properties of molecular beam epitaxial GaAs layers grown at low temperature / J. Betko ; P. Kordos ; S. Kuklovsky ; A. Förster ...
JF  - Materials science and engineering B: Solid– state materials for advanced technology. 28 (1994), H. 1-3
Y1  - 1994
SN  - 0921-5107
SP  - 147
EP  - 150
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Novak, J.
A1  - Kucera, M.
A1  - Morvic, M.
T1  - Characterization of low-temperature GaAs by galvanomagnetic an photoluminescence measurements / J. Novák ; M. Kucera ; M. Morvic ... A. Förster ...
JF  - Materials science and engineering B: Solid– state materials for advanced technology. 44 (1997), H. 1-3
Y1  - 1997
SN  - 0921-5107
SP  - 341
EP  - 344
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Rose, D.
A1  - Pietsch, U.
A1  - Metzger, H.
T1  - Depth resolved investigation of the relaxation behaviour in strained GaInAs/GaAs superlattices / Rose, D. ; Pietsch, U. ; Förster, A. ; Metzger, H....
JF  - Physica B: condensed matter. 198 (1994), H. 1-3
Y1  - 1994
SN  - 0921-4526
SP  - 256
EP  - 258
ER  -