TY - JOUR A1 - Srnanek, R. A1 - Geurts, J. A1 - Lentze, M. A1 - Irmer, G. A1 - Donoval, D. A1 - Brdecka, P. A1 - Kordos, P. A1 - Förster, Arnold A1 - Sciana, B. A1 - Radziewicz, D. A1 - Tlaczala, M. T1 - Study of d-doped GaAs layers by micro-Raman spectroscopy on bevelled samples JF - Applied surface science . 230 (2004), H. 1 -4 Y1 - 2004 SN - 0169-4332 N1 - ISSN der E-Ausg.: 0169-4332 SP - 379 EP - 385 ER -