TY  - CHAP
A1  - Reisgen, Uwe
A1  - Schleser, Markus
A1  - Harms, Alexander
A1  - Schiebahn, Alexander
T1  - Konduktiv unterstütztes Rührreibschweißen an Stahl- und Aluminiumwerkstoffen
T2  - DVS congress 2010 : Große Schweißtechnische Tagung ; Studentenkongress ; Statusseminar "Schneidtechnik" ; Abschlusskolloquium zum AiF-Forschungscluster "Integration des Rührreibschweißens in Fertigungsprozessketten" ; Vorträge der Veranstaltung in Nürnberg am 27. und 28. September 2010. (DVS-Berichte ; 267)
Y1  - 2010
SN  - 978-3-87155-592-3
SP  - 394
EP  - 398
PB  - DVS Media
CY  - Düsseldorf
ER  - 
TY  - RPRT
A1  - Wollert, Jörg
T1  - MAUS - Mobile Ad-hoc Netzwerke für Userspezifische Systeme : Abschlussbericht (BMBF-Forschungsbericht)
Y1  - 2010
PB  - BMBF
CY  - Berlin
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Reisgen, Uwe
A1  - Schleser, Markus
A1  - Jerabek, Jakub
A1  - Chudoba, Rostislav
T1  - Messung der Strahlqualität einer Elektronenstrahlanlage in Umgebungsatmosphäre
JF  - Materialwissenschaft und Werkstofftechnik
N2  - In den letzten Jahrzehnten hat das Elektronenstrahlschweißen, das bereits im größeren Maßstab verwendet wird, seine Fähigkeit als qualitatives Werkzeug für die Verbindung verschiedener Materialen nachgewiesen. Das Non Vacuum Electron Beam Welding (NV-EBW) hat zahlreiche Vorteile im Vergleich zum Elektronenstrahlschweißen im Vakuum, da man unter normalem Atmosphärendruck arbeiten kann. Im Hinblick auf die reproduzierbare Qualität, insbesondere im Bereich der Massen-Fertigung, ist die Kontrolle der Strahlparameter sowie deren Einfluss auf das Schweißergebnis von großer Bedeutung. Durch eine genaue Kenntnis der Strahlkenngrößen wie des Strahldurchmessers und der Leistungsdichteverteilung kann eine Aussage über die sich ausbildende Schweißnaht sowie die Schweißbaddynamik getroffen werden. Messungen der Strahlkenngrößen im Prozess erlauben insbesondere die Untersuchung von Humping-Effekten. In diesem Beitrag wird der Prozess der Elektronenstrahlvermessung unter atmosphärischen Bedingungen beschrieben. Es wird zudem die Abhängigkeit der Elektronenstrahlcharakteristika von den verschiedenen Prozessparametern dargestellt.
Y1  - 2010
SN  - 1521-4052
VL  - 41
IS  - 1
SP  - 45
EP  - 52
PB  - Wiley-VCH
CY  - Weinheim
ER  - 
TY  - GEN
A1  - Wollert, Jörg
T1  - Neue Wege in der Kommunikation - Wireless Technologie für Automatisierungslösungen
Y1  - 2010
SP  - 1
EP  - 17
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Thomas, Axel
T1  - Rhetorische Knallfrösche : Zitatensammlung für Politik und Wirtschaft
Y1  - 2010
SN  - 978-3-00-033037-7
PB  - Neck + Heyn
CY  - Aachen
ER  - 
TY  - CHAP
A1  - Raatschen, Hans-Jürgen
T1  - Von der Königlichen Höheren Maschinenbauschule Aachen zu den Ingenieurfachbereichen der FH Aachen
T2  - Ingenieurfreunde FH Aachen : 75 Jahre Förderverein; Elektrotechnik und Informationstechnik, Luft- und Raumfahrttechnik, Maschinenbau und Mechatronik
KW  - Geschichte
Y1  - 2010
SN  - 978-3-941704-03-9
SP  - 13
EP  - 18
PB  - Klinkenberg
CY  - Aachen
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Wollert, Jörg
T1  - Wireless Technologies : 12. Kongress, 22. - 23. September 2010, Bochum ; von der Technologie zur Anwendung / Jörg F. Wollert (Hrsg.) (Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 10, Informatik, Kommunikation ; 810)
Y1  - 2010
SN  - 978-3-18-381010-9
PB  - VDI-Verl.
CY  - Düsseldorf
ER  -