TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)
Y1  - 1994
SP  - 611
EP  - 622
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Vergleich mehrerer Naeherungsverfahren zur Berechnung des Wellenwiderstandes von Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Ergebnissen
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996)
Y1  - 1996
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Direkte Messung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 40. 1997 (1997)
Y1  - 1997
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Graf, W.
T1  - Direkte on-wafer-Messung des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 41. 1998 (1998)
Y1  - 1998
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Neuartige Algorithmen fuer die Mikrowellen-Entfernungsmessung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995)
Y1  - 1995
SP  - 817
EP  - 834
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten
JF  - Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]
Y1  - 1995
SN  - 3-924651-45-0
N1  - MIOP ; (8, 1995, Sindelfingen)
SP  - 23
EP  - 29
CY  - Hagenburg
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - LNN( Line-Network-Network): The In-Fixture Calibration Procedure
Y1  - 1993
N1  - XXIVth General Assembly of the International URSI, Kyoto
SP  - 149
EP  - 149
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - A Fast and Robust Procedure for the Determination of the Scattering Parameters for Network Analyzer Calibration
Y1  - 1992
N1  - Precision electromagnetic measurements : conference Paris, 9-12 June 1992 = Conférence sur les Mesures Electromagnétiques de Précision.
SP  - 373
EP  - 374
CY  - Paris
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Hagemann, Hans-Jürgen
A1  - Backhaus, U.
A1  - Goessner, S.
T1  - Collaborative eLearning Concepts for University Level Online Laboratory Courses in Engineering. U. Backhaus, S. Goessner, H. J. Hagemann
JF  - Proceedings Online Educa Berlin: 8th International Conference on Technology Supported Learning & Training. 2002
Y1  - 2002
N1  - Online Educa <2002, Berlin>
SP  - 62
EP  - 66
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Fruth, Bernhard
T1  - Dielectric Properties of Polyolefins Stressed by High Electrical Fields. Fruth, B. ; Krause, G.
Y1  - 1987
N1  - Fifth International Symposium on High Voltage Engineering : Proceedings; Braunschweig, Stadthalle, August, 24-28, 1987 / International Symposium on High Voltage Engineering <5, 1987, Braunschweig>
ER  -