TY  - JOUR
A1  - Thielemann, Frank
A1  - Schaffner, M.
T1  - Innovationswiderstände bei der Einführung  neuer Tech­nologien. Schaffner, M.; Thielemann, F.
JF  - Deutscher Drucker. 1992/93 (1993), H. 42
Y1  - 1993
SN  - 0012-1096
SP  - g15
EP  - ff
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Thielemann, Frank
A1  - Schaffner, M.
T1  - Wie beurteilen die Führungskräfte der Branche den derzeitigen und zukünftigen Innovationsdruck? Expertenmeinung zum Thema Innovationen in der Druckindustrie: M. Schaffner, F. Thielemann
JF  - Management im innovatorischen Wandel : Arbeit und Technik in der Druckindustrie / Heinz-Reiner Treichel ; Kurt-Georg Ciesinger
Y1  - 1993
SN  - 3-87641-262-5
N1  - <a href="http://okeanos-www.hbz-nrw.de/F?func=service&doc_library=HBZ01&doc_number=002307432&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA">Inhaltsverzeichnis</a>
SP  - 21
EP  - 26
PB  - Polygraph-Verl.
CY  - Frankfurt am Main
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Walther, T.
A1  - Gerthsen, D.
A1  - Carius, Reinhard
A1  - Förster, Arnold
T1  - AlAs/GaAs Quantum well structures: Interface properties investigated by high-resolution transmission electron microscopy and photoluminescence spectroscopy / T. Walther ; D. Gerthsen ; R. Carius ; A. Förster ...
JF  - Microscopy of semiconducting materials 1993 : proceedings of the Royal Microscopical Society Conference held at Oxford University, 5 - 8 April 1993 / ed. by A. G. Cullis ... - (Conference series / Institute of Physics ; 134)
Y1  - 1993
SN  - 0-7503-0290-9
N1  - Royal Microscopical Society Conference on Microscopy of Semiconducting Materials <8, 1993, Oxford> ; MSM <8, 1993, Oxford>
SP  - 449
EP  - ff.
PB  - Institute of Physics
CY  - Bristol [u.a.]
ER  -