TY - JOUR A1 - Schöning, Michael Josef A1 - Bäcker, Matthias T1 - Chip-basierte Sensoren für die Biotechnik Y1 - 2012 SN - 1611-0854 N1 - 4 Seiten VL - 13 IS - 2 PB - BIOCOM CY - Berlin ER - TY - JOUR A1 - Spelthahn, Heiko A1 - Schubert, Jürgen A1 - Schöning, Michael Josef T1 - Dünnschichtsensoren für die Schwermetallanalytik : Mikroelektroden auf Chalkogenidglasbasis JF - GIT Labor-Fachzeitschrift N2 - Die Detektion von Schadstoffen repräsentiert in der Umweltanalytik eine wichtige Aufgabenstellung. Gerade die Abwasser- bzw. Brauchwasseranalytik sowie die Prozesskontrolle haben einen hohen Stellenwert. Siliziumbasierte Dünnschichtsensoren bieten eine kostengünstige Möglichkeit, „online“-Messungen bzw. Vor-Ort-Messungen zeitnah durchzuführen. In dieser Arbeit wird ein potentiometrisches Sensorarray auf der Basis von Chalkogenidgläsern zur Detektion von Schwermetallen in wässrigen Medien vorgestellt. Y1 - 2012 IS - 4 SP - 285 EP - 287 PB - Wiley-VCH CY - Weinheim ER - TY - JOUR A1 - Miyamoto, Ko-ichiro A1 - Yu, Bing A1 - Isoda, Hiroko A1 - Wagner, Torsten A1 - Schöning, Michael Josef A1 - Yoshinobu, Tatsuo T1 - Visualization of the recovery process of defects in a cultured cell layer by chemical imaging sensor JF - Sensors and Actuators B: Chemical N2 - The chemical imaging sensor is a field-effect sensor which is able to visualize both the distribution of ions (in LAPS mode) and the distribution of impedance (in SPIM mode) in the sample. In this study, a novel cell assay is proposed, in which the chemical imaging sensor operated in SPIM mode is applied to monitor the recovery of defects in a cell layer brought into proximity of the sensing surface. A reduced impedance at a defect formed artificially in a cell layer was successfully visualized in a photocurrent image. The cell layer was cultured over two weeks, during which the temporal change of the photocurrent distribution corresponding to the recovery of the defect was observed. Y1 - 2016 U6 - https://doi.org/10.1016/j.snb.2016.04.018 SN - 0925-4005 VL - 236 SP - 965 EP - 969 PB - Elsevier CY - Amsterdam ER - TY - JOUR A1 - Scheele, S. A1 - Bongaerts, Johannes A1 - Maurer, K.-H. A1 - Freudl, R. T1 - Sekretion einer Kofaktor-haltigen Oxidase durch Corynebacterium glutamicum JF - Chemie - Ingenieur - Technik (CIT) Y1 - 2009 SN - 1522-2640 (E-Journal); 0009-286X (Print) VL - Vol. 81 IS - Iss. 8 SP - 1309 ER - TY - JOUR A1 - Pinkenburg, Olaf A1 - Schiffels, Johannes A1 - Selmer, Thorsten T1 - Das CoLibry-Konzept – ein Werkzeugkasten für die Synthetische Biologie: Bioproduktion JF - BIOspektrum N2 - Regardless of size or destination, synthetic biology starts with com-parably small information units, which need to be combined and properly arranged in order to achieve a certain goal. This may be the de novo synthesis of individual genes from oligonucleotides, a shuffling of protein domains in order to create novel biocatalysts, the assembly of multiple enzyme encoding genes in metabolic pathway design, or strain development at the production stage. The CoLibry concept has been designed in order to close the gap between recombinant production of individual genes and genome editing. Y1 - 2016 U6 - https://doi.org/10.1007/s12268-016-0734-8 VL - 22 IS - 6 SP - 593 EP - 595 PB - Springer CY - Berlin ER - TY - JOUR A1 - Bäcker, M. A1 - Rakowski, D. A1 - Krappen, E. A1 - Schöning, Michael Josef T1 - Reinigungsprozesse in der Lebensmittelindustrie. Entwicklung eines Demonstrators zur Überwachung JF - GIT Labor-Fachzeitschrift Y1 - 2017 SN - 0016-3538 VL - 61 IS - 8 SP - 26 EP - 28 PB - Wiley-VCH CY - Weinheim ER - TY - JOUR A1 - Biselli, Manfred A1 - Bäcker, Matthias A1 - Poghossian, Arshak A1 - Schöning, Michael Josef A1 - Schnitzler, Thomas A1 - Zang, Werner A1 - Wagner, P. T1 - Entwicklung eines modularen festkörperbasierten Sensorsystems für die Überwachung von Zellkulturfermenationen JF - Sensoren und Messsysteme 2010 [Elektronische Ressource] : Vorträge der 15. ITG/GMA-Fachtagung vom 18. bis 19. Mai 2010 in Nürnberg / Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG); VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA) Y1 - 2010 SN - 978-3-8007-3260-9 N1 - Fachtagung Sensoren und Messsysteme 15, 2010, Nürnberg ; Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik SP - 688 EP - 691 PB - VDE Verlag CY - Berlin ER - TY - JOUR A1 - Abouzar, Maryam H. A1 - Schöning, Michael Josef A1 - Poghossian, Arshak A1 - Christiaens, P. A1 - Williams, O. A. A1 - Wagner, P. A1 - Haenen, K. T1 - Feldeffektsensor auf nanokristalliner Diamantbasis JF - Sensoren und Messsysteme 2008 : 14. Fachtagung Ludwigsburg, 11. und 12. März 2008 / VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik Y1 - 2008 SN - 978-3-18-092011-5 N1 - VDI-Berichte ; 2011 ; Sensoren und Messsysteme 2008, 14. GMA/ITG-Fachtagung, VDI/VDE- Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik, + CD-ROM, Ludwigsburg, DE, 11.-12. Mar, 2008 SP - 549 EP - 558 PB - VDI-Verl. CY - Düsseldorf ER - TY - JOUR A1 - Kloock, Joachim P. A1 - Poghossian, Arshak A1 - Schumacher, K. A1 - Rosenkranz, C. A1 - Schultze, J. W. A1 - Müller-Veggian, Mattea A1 - Schöning, Michael Josef T1 - Funktionsprüfung und Charakterisierung von ionensensitiven Feldeffekttransistoren (ISFETs) auf Waferebene mittels Mikrotropfenzelle für den zukünftigen Einsatz in der Sensorproduktion JF - Sensoren und Messsysteme 2006 : Vorträge der 13. ITG/GMA-Fachtagung vom 13. bis 14. März 2006 in Freiburg/Breisgau / Veranst.: Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG) ; VDE/VDI-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA). Wiss. Tagungsleitung: L. M. Reindl Y1 - 2006 SN - 3-8007-2939-3 N1 - Fachtagung Sensoren und Messsysteme <13, 2006, Freiburg, Breisgau> SP - 257 EP - 260 PB - VDE-Verl. CY - Berlin ER - TY - JOUR A1 - Knobbe, D.-T. A1 - Schöning, Michael Josef A1 - Poghossian, Arshak A1 - Mourzina, Y. T1 - Charakterisierung von kapazitiven EMISSensoren mittels Impedanzspektroskopie, Kapazitäts-Spannungs- und Konstant-Kapazitäts-Messung JF - Sensoren und Messsysteme 2004 : Tagung Ludwigsburg, 15. und 16. März 2004 / VDI-VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik Y1 - 2004 SN - 3-18-091829-2 N1 - Auch erschienen als: VDI-Berichte ; 1829 SP - 851 EP - 854 PB - VDI CY - Düsseldorf ER -