TY - JOUR A1 - Förster, Arnold A1 - Ohler, C. A1 - Moers, J. T1 - Strain dependence of the valence-band offset in arsenide compound heterojunctions determined by photoelectron spectroscopy / C. Ohler ; J. Moers ; A. Förster ... JF - Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures. 13 (1993), H. 4 Y1 - 1993 SN - 1071-1023 N1 - ISSN der E-Ausg.: 0734-211X SP - 1728 EP - 1735 ER - TY - JOUR A1 - Förster, Arnold A1 - Resch, U. A1 - Scholz, S. M. T1 - Thermal desorption of amorphous arsenic caps from GaAs(100) monitored by reflection anisotropy spectroscopy / U. Resch ; S. M. Scholz ; U. Rossow ... A. Förter ... JF - Applied Surface Science. 63 (1993), H. 1-4 Y1 - 1993 SN - 0169-4332 N1 - ISSN der E-Ausg.: 0169-4332 SP - 106 EP - 110 ER - TY - JOUR A1 - Thielemann, Frank A1 - Schaffner, M. T1 - Wie beurteilen die Führungskräfte der Branche den derzeitigen und zukünftigen Innovationsdruck? Expertenmeinung zum Thema Innovationen in der Druckindustrie: M. Schaffner, F. Thielemann JF - Management im innovatorischen Wandel : Arbeit und Technik in der Druckindustrie / Heinz-Reiner Treichel ; Kurt-Georg Ciesinger Y1 - 1993 SN - 3-87641-262-5 N1 - Inhaltsverzeichnis SP - 21 EP - 26 PB - Polygraph-Verl. CY - Frankfurt am Main ER -