TY  - JOUR
A1  - Benkner, Thorsten
T1  - Statistisches Multiplexen von Sprache und Daten in TDMA-Mobilfunksystemen der dritten Generation
JF  - 40. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium : 18. - 21.09.1995 / Technische Universität Ilmenau, Thüringen. [Hrsg. Dagmar Schipanski]
Y1  - 1995
N1  - Technische Universität ; (Ilmenau) ; Internationales Wissenschaftliches Kolloquium ; (40 : ; 1995.09.18-21 : ; Ilmenau)
CY  - Ilmenau
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Biener, Ernst
A1  - Wemhoff, T.
A1  - Bethke, H.
T1  - Stability and settlement problems based on the example of the Blockland landfill in Bremen
JF  - Sardinia 95 : Fifth International Landfill Symposium ; (2 - 6 October 1995, S. Margheritadi Pula - Cagliari, Sardinia, Italy) ; proceedings / coord.: Thomas H. Christensen ... - Bd. 2 : Siting, lining, drainage & landfill mechanics
Y1  - 1995
N1  - International Landfill Symposium <5, 1995, Santa Margherita, Pula>
SP  - 843
EP  - 853
PB  - CISA, Environmental Sanitary Engineering Centre
CY  - Cagliari
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Rath, Walter
A1  - Dzierzynski, Elmar
T1  - Solvent-free contact adhesive = Lösungsmittelfreier Kontaktklebstoff / Rath, Walter ; Dzierzynski, Elmar [Erfinder]
Y1  - 1995
N1  - EP0436347 06.04.1995 Veröffentlichungstag im Patentblatt ; Volltext recherchierbar über:
PB  - Europäisches Patentamt
CY  - München
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Pietsch, Wolfram
T1  - Software quality management III : [... held in Seville in April 1995] / [Third International Conference on Software Quality Management]. Ed.: M. Ross
Y1  - 1995
SN  - 1853123099
N1  - International Conference on Software Quality Management ; (3, 1995, Sevilla)
PB  - Computational Mechanics Publ.
CY  - Southampton [u.a.]
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Pietschmann, Bernd P.
T1  - Sitzungsverhalten von Managern. Entwicklung und Anwendung einer Methode zur Ermittlung sitzungsbeeinflussender Faktoren
Y1  - 1995
SN  - 3-8244-6225-7
N1  - Zugl: Hohenheim, Univ., Diss., 1995
PB  - Dt. Univ.-Verl.
CY  - Wiesbaden
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kämper, Klaus-Peter
A1  - Döpper, J.
A1  - Ehrfeld, W.
A1  - Hagemann, B.
T1  - Simulation supported design of LIGA Microsystems. Kämper, K.-P.; Döpper, J.; Ehrfeld, W.; Hagemann, B.; Hill, S.D.J.; Lehr, H.
JF  - Simulation and design of microsystems and microstructures : [... contains the papers presented at the First International Conference on the Simulation and Design of Microsystems and Microstructures, MicroSIM '95, which was held in Southampton, UK, in September 1995] / [organised by: Wessex Institute of Technology, UK]. Ed.: R. A. Adey
Y1  - 1995
SN  - 1-85312-390-0
SP  - 3
EP  - 10
PB  - Computational Mechanics Publ.
CY  - Southampton [u.a.]
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Hillen, Walter
A1  - Schmitt, W.
A1  - Bockemühl, J.
T1  - Signal-to-Noise Performance of a digital dental X-ray Detector
JF  - Computer  assisted  radiology : proceedings of the International Symposium on Computer and Communication Systems for Image Guided Diagnosis and Therapy / CAR '95 Berlin, June 21 - 24, 1995. Ed. by H. U. Lemke
Y1  - 1995
SN  - 3-540-59177-X
N1  - CAR <6, 1995, Berlin>
PB  - Springer
CY  - Berlin [u.a.]
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Kordos, P.
A1  - Betko, J.
T1  - Semi-insulating GaAs layers grown by molecular-beam epitaxy /  P. Kordos ; A. Förster ; J. Betko ...
JF  - Applied physics letters. 67 (1995), H. 7
Y1  - 1995
SN  - 0003-6951
N1  - ISSN der E-Ausg.: 1077-3118
SP  - 983
EP  - 985
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten
JF  - Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]
Y1  - 1995
SN  - 3-924651-45-0
N1  - MIOP ; (8, 1995, Sindelfingen)
SP  - 23
EP  - 29
CY  - Hagenburg
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Starke, Günther
A1  - Strunz, U.
A1  - Spieß, C.
T1  - Schweißprozeßparameteroptimierung mit Fuzzy-Logik
JF  - Schweißen und Schneiden. 47 (1995), H. 6
Y1  - 1995
SN  - 0036-7184
SP  - 494
EP  - 503
ER  -