TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - The double-LNN Calibration technique for scattering parameter measurements of microstrip devices JF - Conference proceedings Y1 - 1995 N1 - European Microwave Conference <25, 1995, Bologna> SP - 343 EP - 347 PB - NEXUS House CY - Kent ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - LZY: A Self-Calibration Approach in Competition to the LRM Method for On-Wafer Measurements Y1 - 1995 N1 - 45th ARFTG Conference digest, Spring 1995 : [conference topic: Testing and design of RFIC'S], May 19, 1995, Orange County Convention Center, Orlando, Florida / Automatic RF Techniques Group. Publications chairman: Ed Godshalk; ARFTG Conference digest ; 4 SP - 129 EP - 136 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - Sure Methods of On-Wafer Scattering Parameter Measurements with Self-Calibration Procedures Y1 - 1996 N1 - 46th ARFTG conference digest : November 30 - December 1. 1995, Safari Resort, Scottsdale, Arizona / Automatic RF Techniques Group. [Publ. chairman: Ed. Godshalk] SP - 136 EP - 145 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - Microwave On-Wafer Measurements with Activ Needle Probe Tips Y1 - 1997 N1 - 47th ARFTG Conference digest : June 20 - 21, 1996, Moscone Convention Center, San Francisco, California / Automatic RF Techniques Group. [Publication chair: Ed Godshalk SP - 208 EP - 214 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Results of Network Analyzer Measurements with Leakage Errors Corrected with the TMS-15-Term Procedure Y1 - 1994 N1 - 1994 IEEE MTT-S International Microwave Symposium digest : May 23 - 27, 1994, San Diego Convention Center, San Diego, California / H. J. Kuno, ed. SP - 1361 EP - 1364 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Baumann, F.-M. A1 - Fauth, G. A1 - Albert, M. T1 - Results of Network Analyzer Measurements with Leakage Errors Corrected with the TMS-15-Term Procedure JF - On-Line Moisture Analysis of Raw Coal Y1 - 1994 N1 - 1993 International Symposium on On-Line Analysis of Coal : Vienna ; [proceedings]. SP - 1361 EP - 1364 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - LNN (Line-Network-Network): Verfahren zur Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 36. 1992 (1992) Y1 - 1992 SP - 327 EP - 335 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993) Y1 - 1993 SP - 195 EP - 204 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994) Y1 - 1994 SP - 611 EP - 622 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Graf, W. T1 - Vergleich mehrerer Naeherungsverfahren zur Berechnung des Wellenwiderstandes von Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Ergebnissen JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996) Y1 - 1996 ER -