TY  - BOOK
A1  - Wollert, Jörg F.
A1  - Fiedler, Jörg
T1  - Automatisieren mit dem PC. - 2. Aufl.
Y1  - 1998
SN  - 3-540-63271-9
PB  - Springer
CY  - Berlin [u.a.]
ET  - 2. Aufl.
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Engels, Elmar
A1  - Doege, E.
A1  - Lierath, F.
A1  - Meyer, F.
T1  - Automatisierte  Maximierung  der Produktionshubzahl  bei Schnelläuferpressen  mittels Fuzzy-Regler : [Abschlußbericht] / Verf.: Friedhelm Lierath ... ; Doege, E. ; Meyer, F. ; Engels, E.
Y1  - 1998
N1  - EFB-Forschungsbericht ; Nr. 113 ; Forschungsvorhaben EFB/AiF-Nr. 10425B.
PB  - EFB
CY  - Hannover
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Schulte-Zurhausen, Manfred
T1  - Automatisierte Kommunikation bei Verbundproduktion
JF  - CIM-Management (1995)
Y1  - 1995
SP  - 59
EP  - 63
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Gauchel, Joachim
T1  - Automatisierte Montageanlage im FB8 - Eine lohnende Investition
JF  - FH Fachblatt (2001)
Y1  - 2001
SP  - 12
EP  - 12
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Helsper, Christoph
A1  - Mölter, W.
A1  - Kaminski, S.
T1  - Automatisierter Test von Luftfiltermedien für Hochleistungsschwebstoffilter und Entstaubungsfilter / Mölter, W. ; Helsper, C. ; Kaminski, S.
JF  - Staub, Reinhaltung der Luft. 50 (1990)
Y1  - 1990
SN  - 0039-0771
SP  - 311
EP  - 317
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Starke, Günther
A1  - Drews, P.
A1  - Hackel, M.
A1  - Kremer-Wasmuht, S.
T1  - Automatisiertes Auftragschweißen zur Instandsetzung von Umformwerkzeugen
JF  - Reparatur und Herstellung von technischen Oberflächen an Werkzeugen und Maschinenbauteilen : neue Technologien für die Produktion von morgen ; Ergebnisbericht des EUREKA-FACTORY Verbundprojektes PROSURF / P. Drews ... (Hrsg.)
Y1  - 2003
SN  - 3-8322-1537-9
SP  - 19
EP  - 28
PB  - Shaker
CY  - Aachen
ER  - 
TY  - CHAP
A1  - Poghossian, Arshak
A1  - Wagner, Holger
A1  - Schöning, Michael Josef
T1  - Automatisiertes „wafer level“-Testsystem zur Charakterisierung von siliziumbasierten Chemo- und Biosensoren
T2  - Tagungsband: Sensoren und Messsysteme 2010
N2  - Es wurde ein automatisiertes, computerunterstütztes Testsystem für die Funktionsprüfung und Charakterisierung von (bio-)chemischen Sensoren auf Waferebene entwickelt und in einen konventionellen Spitzenmessplatz integriert. Das System ermöglicht die Charakterisierung und Identifizierung „funktionstauglicher“ Sensoren bereits auf Waferebene zwischen den einzelnen Herstellungsschritten, wodurch weitere, bisher übliche Verarbeitungsschritte wie das Fixieren, Bonden und Verkapseln für die defekten oder nicht funktionstauglichen Sensorstrukturen entfällt. Außerdem bietet eine speziell entworfene miniaturisierte Durchflussmesszelle die Möglichkeit, bereits auf Waferlevel die Sensitivität, Drift, Hysterese und Ansprechzeit der (bio-)chemischen Sensoren zu charakterisieren. Das System wurde exemplarisch mit kapazitiven, pH-sensitiven EIS- (Elektrolyt-Isolator-Silizium) Strukturen und ISFET- (ionensensitiver Feldeffekttransistor) Strukturen mit verschiedenen Geometrien und Gate-Layouts getestet.
Y1  - 2010
SN  - 978-3-8007-3260-9
N1  - Sensoren und Messsysteme 2010 - 15. ITG/GMA-Fachtagung, 18.05.2010 - 19.05.2010 in Nürnberg
SP  - 89
EP  - 92
PB  - VDE Verlag
CY  - Berlin
ER  - 
TY  - BOOK
A1  - Pfeiffer, Johann
T1  - Automatisierung in der Handhabungs- und Montagetechnik
Y1  - 1996
N1  - Abschlussbericht K2-Forschungsvorhaben der Fachhochschule Aachen, Fachbereich Maschinenbau und Mechatronik, Lehrgebiet Integrierte Qualitätssicherung und Automatisierungstechnik
PB  - Fachhochsch.
CY  - Aachen
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Rake, Heinrich
A1  - Schwanhäußer, Wulf
A1  - Frederich, Fritz
A1  - Enning, Manfred
T1  - Automatisierung von Ablaufanlagen mit dem Kupplungsroboter
JF  - ETR - Eisenbahntechnische Rundschau
Y1  - 1993
SN  - 0013-2845
IS  - 4
SP  - 249
EP  - 254
PB  - DVV Media Group
CY  - Hamburg
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Ferrein, Alexander
T1  - Autonome Entscheidungsfindung bei Robotern : Planwirtschaft
JF  - Linux-Magazin
Y1  - 2004
SN  - 1432-640X (Print)
IS  - 7
SP  - 50
EP  - 53
ER  -