TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Darmo, J.
A1  - Dubecký, F.
A1  - Kordos, P.
T1  - Deep-level states and electrical properties of GaAs grown at 250 °C / J. Darmo ; F. Dubecký ; P. Kordos ; A. Förster ...
JF  - Materials science and engineering B: Solid– state materials for advanced technology. 28 (1994), H. 1-3
Y1  - 1994
SN  - 0921-5107
SP  - 393
EP  - 396
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Betko, J.
A1  - Kordos, P.
A1  - Kuklovsky, S.
T1  - Electrical properties of molecular beam epitaxial GaAs layers grown at low temperature / J. Betko ; P. Kordos ; S. Kuklovsky ; A. Förster ...
JF  - Materials science and engineering B: Solid– state materials for advanced technology. 28 (1994), H. 1-3
Y1  - 1994
SN  - 0921-5107
SP  - 147
EP  - 150
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Novak, J.
A1  - Kucera, M.
A1  - Morvic, M.
T1  - Characterization of low-temperature GaAs by galvanomagnetic an photoluminescence measurements / J. Novák ; M. Kucera ; M. Morvic ... A. Förster ...
JF  - Materials science and engineering B: Solid– state materials for advanced technology. 44 (1997), H. 1-3
Y1  - 1997
SN  - 0921-5107
SP  - 341
EP  - 344
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Rose, D.
A1  - Pietsch, U.
A1  - Metzger, H.
T1  - Depth resolved investigation of the relaxation behaviour in strained GaInAs/GaAs superlattices / Rose, D. ; Pietsch, U. ; Förster, A. ; Metzger, H....
JF  - Physica B: condensed matter. 198 (1994), H. 1-3
Y1  - 1994
SN  - 0921-4526
SP  - 256
EP  - 258
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Klemradt, U.
A1  - Funke, M.
A1  - Fromm, M
T1  - Growth-induced interface roughness of GaAs/AlAs-layers studied by X-ray scattering under grazing angles / U. Klemradt ; M. Funke ; M. Fromm ... A Förster
JF  - Physica B: condensed matter. 221 (1996), H. 1-4
Y1  - 1996
SN  - 0921-4526
SP  - 27
EP  - 33
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Brugger, H.
A1  - Meiners, U.
A1  - Diniz, R.
T1  - Hydrostatic pressure sensors based on solid state tunneling devices / H. Brugger; U. Meiners ; R. Diniz ... A. Förster ...
JF  - Solid state electronics. 37 (1994), H. 4-6
Y1  - 1994
SN  - 0038-1101
SP  - 801
EP  - 804
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Schönhut, J.
A1  - Metzner, C.
T1  - Optical investigation of impurity bands in a delta-doped n-layer / J. Schönhut ; C. Metzner ; S. Müller ... A. Förster ...
JF  - Solid state electronics. 40 (1996), H. 1-8
Y1  - 1996
SN  - 0038-1101
SP  - 701
EP  - 705
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Schmidt, T.
A1  - Tewordt, M.
T1  - Single-electron-tunneling spectroscopy of asymmetric laterally confined double-barrier heterostructures / T. Schmidt ; M. Tewordt ; R. J. Haug ... A. Förster ...
JF  - Solid state electronics. 40 (1996), H. 1-8
Y1  - 1996
SN  - 0038-1101
SP  - 15
EP  - 19
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Tillmann, K.
A1  - Gerthsen, D.
T1  - Growth morphology and misfit relaxation of MBE-grown In0.6 G0.4 As on GaAs(001) / K. Tillmann ; D. Gerthsen ; A. Förster ...
JF  - Thin solid films. 261 (1995), H. 1-2
Y1  - 1995
SN  - 0040-6090
SP  - 139
EP  - 147
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Ohler, C.
A1  - Daniels, C.
T1  - Barrier height at clean Au/InAs(100) interfaces / C. Ohler ; C. Daniels ; A. Förster ...
JF  - Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures. 15 (1997), H. 3
Y1  - 1997
SN  - 0169-4332
SP  - 702
EP  - 706
ER  -