TY  - JOUR
A1  - Chudoba, Rostislav
A1  - Kuhlmann, Wolfram
A1  - Butenweg, Christoph
T1  - Ein technisches Informationssystem zur Entwicklung von Textilbeton
JF  - Bauinformatik-Journal : bi-Journal; Zeitschrift für Architekten und Ingenieure
Y1  - 2001
SN  - 1436-9060
VL  - Bd. 4
IS  - H. 6
SP  - 15
EP  - 20
ER  - 
TY  - CHAP
A1  - Chudoba, Rostislav
A1  - Kuhlmann, Wolfram
A1  - Butenweg, Christoph
T1  - Ein internetbasiertes technisches Informationssystem zur Koordination und Präsentation des Sonderforschungsbereichs 532
T2  - Forum Bauinformatik 2001 - Junge Wissenschaftler Forschen / Richard Romberg .̤ (Hrsg.) (Fortschrittberichte VDI : Reihe 4, Bauingenieurwesen ; Nr. 169)
Y1  - 2001
SN  - 3-18-316904-5
SP  - 94
EP  - 101
PB  - VDI-Verlag
CY  - Düsseldorf
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Reisgen, Uwe
A1  - Schleser, Markus
A1  - Jerabek, Jakub
A1  - Chudoba, Rostislav
T1  - Messung der Strahlqualität einer Elektronenstrahlanlage in Umgebungsatmosphäre
JF  - Materialwissenschaft und Werkstofftechnik
N2  - In den letzten Jahrzehnten hat das Elektronenstrahlschweißen, das bereits im größeren Maßstab verwendet wird, seine Fähigkeit als qualitatives Werkzeug für die Verbindung verschiedener Materialen nachgewiesen. Das Non Vacuum Electron Beam Welding (NV-EBW) hat zahlreiche Vorteile im Vergleich zum Elektronenstrahlschweißen im Vakuum, da man unter normalem Atmosphärendruck arbeiten kann. Im Hinblick auf die reproduzierbare Qualität, insbesondere im Bereich der Massen-Fertigung, ist die Kontrolle der Strahlparameter sowie deren Einfluss auf das Schweißergebnis von großer Bedeutung. Durch eine genaue Kenntnis der Strahlkenngrößen wie des Strahldurchmessers und der Leistungsdichteverteilung kann eine Aussage über die sich ausbildende Schweißnaht sowie die Schweißbaddynamik getroffen werden. Messungen der Strahlkenngrößen im Prozess erlauben insbesondere die Untersuchung von Humping-Effekten. In diesem Beitrag wird der Prozess der Elektronenstrahlvermessung unter atmosphärischen Bedingungen beschrieben. Es wird zudem die Abhängigkeit der Elektronenstrahlcharakteristika von den verschiedenen Prozessparametern dargestellt.
Y1  - 2010
SN  - 1521-4052
VL  - 41
IS  - 1
SP  - 45
EP  - 52
PB  - Wiley-VCH
CY  - Weinheim
ER  -