TY  - JOUR
A1  - Srnanek, R.
A1  - Geurts, J.
A1  - Lentze, M.
A1  - Irmer, G.
A1  - Donoval, D.
A1  - Brdecka, P.
A1  - Kordos, P.
A1  - Förster, Arnold
A1  - Sciana, B.
A1  - Radziewicz, D.
A1  - Tlaczala, M.
T1  - Study of d-doped GaAs layers by micro-Raman spectroscopy on bevelled samples
JF  - Applied surface science  . 230 (2004), H. 1 -4
Y1  - 2004
SN  - 0169-4332
N1  - ISSN der E-Ausg.: 0169-4332
SP  - 379
EP  - 385
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Tillmann, K.
A1  - Gerthsen, D.
A1  - Pfundstein, P.
T1  - Structural transformations and strain relaxation mechanisms of In0.6Ga0.4As islands grown by molecular beam epitaxy on GaAs(001) substrates / Tillmann, K. ; Gerthsen, D. ; Pfundstein, P. ; Förster, A. ; Urban, K.
JF  - Journal of applied physics. 78 (1995), H. 6
Y1  - 1995
SN  - 0021-8979
SP  - 3824
EP  - 3832
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Rosenauer, A.
A1  - Oberst, W.
A1  - Litvinov, D.
A1  - Gerthsen, D.
A1  - Förster, Arnold
A1  - Schmidt, R.
T1  - Structural and Chemical Investigation of In-0.6Ga0.4As Stranski-Krastanow Layers Burried in GaAs by Transmission Electron Microscopy
JF  - Physical Review B. 61 (2000), H. 12
Y1  - 2000
SN  - 1095-3795
SP  - 8276
EP  - 8288
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Lentzen, M.
A1  - Gerthsen, D.
T1  - Strain relaxation of lattice-mismatched In0.2Ga0.8As/GaAs superlattices on GaAs(001) substrates / M. Lentzen ; D. Gerthsen ; A. Förster ...
JF  - Microscopy of semiconducting materials 1995 : proceedings of the Institute of Physics Conference held at Oxford University, 20 - 23 March 1995 / Ed. by A G Cullis ... - (Conference series / Institute of Physics ; 146)
Y1  - 1995
SN  - 0-7503-0347-6
N1  - MSM <9, 1995, Oxford> ; Institut of Physics <London>
SP  - 357
EP  - ff.
PB  - Institute of Physics
CY  - Bristol [u.a.]
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Rosenauer, A.
A1  - Remmele, T.
T1  - Strain determination in mismatched semiconductor heterostructures by the digital analysis of lattice images / A. Rosenauer ; T. Remmele ; U. Fischer ; A. Förster ...
JF  - Microscopy of semiconducting materials 1997 : proceedings of the Royal Microscopical Society Conference held at Oxford University, 7 - 10 April 1997 / ed. by A. G. Cullis ... - (Conference series / Institute of Physics ; 157)
Y1  - 1997
SN  - 0-7503-0464-2
N1  - MSM <10, 1997, Oxford> ; Conference on Microscopy of Semiconducting Materials <10, 1997, Oxford> ; Institut of Physics <London>
SP  - 39
EP  - ff.
PB  - Institute of Physics
CY  - Bristol [u.a.]
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Ohler, C.
A1  - Kohleick, R.
T1  - Strain dependence of the valence-band offset in InAs/GaAs heterojunctions determined by ultraviolet photoelectron spectroscopy / C. Ohler ; R. Kohleick ; A. Förster ...
JF  - Physical Review B . 50 (1994), H. 11
Y1  - 1994
SN  - 0163-1829
N1  - 2. ISSN: 1098-0121 ; ISSN der E-Ausg.: 1095-3795
SP  - 7833
EP  - 7837
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Ohler, C.
A1  - Moers, J.
T1  - Strain dependence of the valence-band offset in arsenide compound heterojunctions determined by photoelectron spectroscopy / C. Ohler ; J. Moers ; A. Förster ...
JF  - Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures. 13 (1993), H. 4
Y1  - 1993
SN  - 1071-1023
N1  - ISSN der E-Ausg.: 0734-211X
SP  - 1728
EP  - 1735
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Verschitz, Daniel
A1  - Butenweg, Christoph
T1  - Standsicherheitsnachweis von Behältern für Kleinkläranlagen
JF  - ACWA aktuell
N2  - Die PIA GmbH prüft seit fast 8 Jahren die Standsicherheit von Behältern für Kleinkläranlagen. Diese bestehen in der Regel aus Kunststoff oder Beton und müssen über ihre gesamte Lebensdauer den Beanspruchungen aus Handhabung, Einbau und Betrieb standhalten. Die Standsicherheit kann nach EN 12566 wahlweise durch einen rechnerischen Nachweis oder durch einen praktischen Nachweis wie die Bruchlastprüfung oder die Prüfung in der Grube erfolgen.
Y1  - 2014
IS  - 12 - 9/2014
SP  - 10
PB  - RWTH Aachen
CY  - Aachen
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Haissig, Manfred
A1  - Dören, Horst-Peter
A1  - Wilmes, S.
T1  - Stand der Entwicklung des Horizontal-Stranggießens von Edelstahl bei der Böhler AG
JF  - Stahl und Eisen. Zeitschrift für die Herstellung und Verarbeitung von Eisen und Stahl. Hrsg.: Verein Deutscher Eisenhüttenleute (VDEh) ; Wirtschaftsvereinigung Stahl. 101 (1981), H. 6
Y1  - 1981
SN  - 0340-4803
SP  - 383
EP  - 390
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Dielmann, Klaus-Peter
A1  - Bock, Alexis
A1  - Sonnek, Frederic
T1  - Stand der CO2-Allokationspläne in Europa und Durchsetzung der Monitoring-Richtlinien
JF  - VGB PowerTech : international journal for electricity and heat generation
Y1  - 2007
SN  - 1435-3199
VL  - 87
IS  - 3
SP  - 40
EP  - 46
ER  -