TY - BOOK A1 - Thielemann, Frank A1 - Bachem, Claus T1 - Überlegungen zur Evaluation von Technologieförderprogrammen Y1 - 2002 SN - 3-933628-42-3 N1 - Institut für Wirtschaftswissenschaften der Technischen Universität Braunschweig ; 02/02 PB - nst. für Wirtschaftswiss. CY - Braunschweig ER - TY - JOUR A1 - Faber, Christian A1 - Fritzsche, Ulrich A1 - Schwarzer, Klemens T1 - Vergleich der Ergebnisse des quasidynamischen und stationären Kollektortests nach En 12975-2 / Fritzsche, Ulrich ; Faber, Christian ; Schwarzer, Klemens JF - Zwölftes Symposium Thermische Solarenergie : 24. bis 26. April 2002 / [wiss. Gesamtleitung: Volker Wittwer. Veranst.: OTTI-Energie-Kolleg. Mitveranst.: Arbeitsgemeinschaft Kommunaler Versorgungsunternehmen zur Sparsamen Ernergie- und Wasserverwendung (ASEW), Köln ...] Y1 - 2002 SN - 3-934681-20-4 N1 - Symposium Thermische Solarenergie <12, 2002, Kloster Banz> ; Energie-Kolleg SP - 135 EP - 139 PB - OTTI-Energie-Kolleg CY - Regensburg ER - TY - JOUR A1 - Fritzsche, Ulrich A1 - Faber, Christian A1 - Schwarzer, Klemens T1 - Vergleich der Ergebnisse des quasidynamischen und stationären Kollektortests nach En 12975-2 JF - Zwölftes Symposium Thermische Solarenergie : 24. bis 26. April 2002 / [wiss. Gesamtleitung: Volker Wittwer. Veranst.: OTTI-Energie-Kolleg. Mitveranst.: Arbeitsgemeinschaft Kommunaler Versorgungsunternehmen zur Sparsamen Ernergie- und Wasserverwendung (ASEW), Köln ...] Y1 - 2002 SN - 3-934681-20-4 N1 - Symposium Thermische Solarenergie <12, 2002, Kloster Banz> ; Energie-Kolleg SP - 135 EP - 139 PB - OTTI-Energie-Kolleg CY - Regensburg ER - TY - JOUR A1 - Förster, Arnold A1 - Darmo, J. A1 - Schafer, F. A1 - Kordos, P. T1 - Thermal resistance of the semiconductor structures for a photomixing device. Darmo, J.; Schafer, F.; Forster, A.; Kordos, P.; Gusten, R JF - Conference proceedings : Smolenice Castle, Slovakia, October 14 - 16, 2002 / [organizers: Microelectronics Department, Faculty of Electrical Engineering and Information Technology, Slovak University of Technology, Bratislava]. Ed. by Juraj Breza Y1 - 2002 SN - 0-7803-7276-X N1 - International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems ; (4, 2002, Smolenice). ASDAM '02 ; (4 : ; 2002.10.14-16 : ; Smolenice) SP - 87 EP - 90 PB - IEEE Operations Center CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Chudoba, Rostislav A1 - Butenweg, Christoph A1 - Kuhlmann, Wolfram T1 - Technical information system for collaborative material research T2 - Sixth International Conference on Computational Structures Technology : [Prague, Czech Republic, 4 - 6 September 2002] Y1 - 2002 SP - 1 EP - 11 ER - TY - BOOK A1 - Goldbach, Daniel T1 - Steuerung und Regelung der aktiven Anhängerkupplung eines Farhzeuggespanns Y1 - 2002 N1 - Fulda, Fachhochsch., Dipl.-Arbeit, 2002 ER - TY - CHAP A1 - Wagner, R. A1 - Noh, S.-Y. A1 - Butenweg, Christoph A1 - Meskouris, Konstantin T1 - Seismic excited granular material silos T2 - Structural dynamics - EURODYN 2002 : proceedings of the 4th [i.e. 5th] International Conference on Structural Dynamics, Munich, Germany, 2 - 5 September 2002 / ed. by H. Grundmann ... Y1 - 2002 SN - 90-5809-511-8 SP - 253 EP - 258 PB - Balkema CY - Lisse ER - TY - CHAP A1 - El-Deib, Khaled A1 - Chudoba, Rostislav A1 - Butenweg, Christoph A1 - Meskouris, Konstantin A1 - Könke, Carsten A1 - Bettzieche, Volker T1 - Safety assessment of rockfill and masonry dams T2 - Structural dynamics - EURODYN 2002 : proceedings of the 4th [i.e. 5th] International Conference on Structural Dynamics, Munich, Germany, 2 - 5 September 2002 / ed. by H. Grundmann ... Vol. 1 Y1 - 2002 SN - 90-5809-510-X SP - 237 EP - 242 PB - Balkema CY - Lisse ER - TY - CHAP A1 - Kern, Alexander T1 - Risikomanagement : Abschätzung des Schadensrisikos für bauliche Anlagen - Die neue Vornorm DIN V VDE V 0185 Teil 2 : 2002 N2 - Alle Unternehmen sind vielfältigen Risiken ausgesetzt, die Finanz- und Betriebsbereiche einschließlich Dienstleistungen betreffen können. Die Firmen müssen üblicherweise Risiken eingehen, um im Wettbewerb bestehen zu können. Entscheidend ist, dass man sich über die Risiken bewusst ist, diese einschätzen und kontrollieren kann. Falsche Einschätzungen, Versäumnisse und Fehlentscheidungen können empfindliche finanzielle Schäden bis hin zum Totalverlust nach sich ziehen. Ein effektives Risikomanagement ist heute als wichtiger Sicherheitsfaktor anzusehen und sollte zur strategischen Unternehmensführung gehören. Ein vorausschauendes Risikomanagement beinhaltet, Risiken für das Unternehmen zu kalkulieren. Es liefert Entscheidungsgrundlagen, um diese Risiken zu begrenzen und es macht transparent, welche Risiken sinnvollerweise über Versicherungen abgedeckt werden sollten. Beim Versicherungsmanagement ist jedoch zu bedenken, dass zur Erreichung bestimmter Ziele Versicherungen nicht geeignet sind (z.B. Erhaltung der Lieferfähigkeit). Eintrittswahrscheinlichkeiten bestimmter Risiken lassen sich durch Versicherungen nicht verändern. Bei Unternehmen, die mit umfangreichen elektronischen Einrichtungen produzieren oder Dienstleistungen erbringen (und das sind heutzutage wohl die meisten), muss auch das Risiko durch Blitzeinwirkungen besondere Berücksichtigung finden. Dabei ist zu beachten, dass der Schaden aufgrund der Nicht-Verfügbarkeit der elektronischen Einrichtungen und damit der Produktion bzw. der Dienstleistung und ggf. der Verlust von Daten den Hardware-Schaden an der betroffenen Anlage oft bei weitem übersteigt. Im Blitzschutz gewinnt innovatives Denken in Schadensrisiken langsam an Bedeutung. Risikoanalysen haben die Objektivierung und Quantifizierung der Gefährdung von baulichen Anlagen und ihrer Inhalte durch direkte und indirekte Blitzeinschläge zum Ziel. Seinen Niederschlag hat dieses neue Denken in der neuen deutschen Norm DIN V 0185-2 VDE V 0185 Teil 2 gefunden. Die hier vorgegebene Risikoanalyse gewährleistet, dass ein für alle Beteiligten nachvollziehbares Blitzschutz-Konzept erstellt werden kann, das technisch und wirtschaftlich optimiert ist, d.h. bei möglichst geringem Aufwand den notwendigen Schutz gewährleisten kann. Die sich aus der Risikoanalyse ergebenden Schutzmaßnahmen sind dann in den weiteren Normenteilen der neuen Reihe VDE V 0185 detailliert beschrieben. KW - Blitzschutz KW - Risikomanagement KW - Risikoabschätzung KW - Versicherung KW - Lightning protection KW - Risk management KW - Risk assessment ; Insurance Y1 - 2002 ER - TY - JOUR A1 - Förster, Arnold A1 - Vitusevich, S. A. A1 - Belyaev, A. E. A1 - Sheka, D. I. T1 - Resonant tunneling effect in a periodically modulated electrical field. Vitusevich, S.A.; Forster, A.; Belyaev, A.E.; Sheka, D.I.; Luth, H.; Klein, N.; Danylyuk, S.V.; Konakova, R. JF - Proceedings of the Tenth International Conference on Modulated Semiconductor Structures : held at the Johannes Kepler University, Linz, Austria, July 23 - 27, 2001 / MSS 10. Guest ed.: Günther Bauer ... Y1 - 2002 N1 - International Conference on Modulated Semiconductor Structures ; (10, 2001, Linz). Zugleich: Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures. 13(2002)2-4. ISSN 1386-9477 SP - 811 EP - 813 PB - Elsevier CY - Amsterdam [u.a.] ER -