TY  - JOUR
A1  - Ritz, Thomas
A1  - Stender, Michael
ED  - Weisbecker, Anette
T1  - Ad-hoc Anwendungsintegration mit mobilen CRM-Systement
JF  - Electronic Business : Innovationen, Anwendungen und Technologien
Y1  - 2004
SN  - 3-8167-6621-8
SP  - 92
EP  - 97
PB  - Fraunhofer-IRB-Verl.
CY  - Stuttgart
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Ritz, Thomas
A1  - Benz, Axel
ED  - Spath, Dieter
T1  - Informationserfassung im Außendienst
JF  - CRM-Systeme in produzierenden Unternehmen. - (IAO-Forum : mit Anwenderberichten)
Y1  - 2004
N1  - Fraunhofer IAO Forum 31. März 2004
VL  - 2004
PB  - IRB-Verl.
CY  - Stuttgart
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Ritz, Thomas
T1  - Mobile CRM-Systeme : Customer Relationship Management zur Unterstützung des Vertriebsaußendienstes
JF  - Zeitschrift für wirtschaftlichen Fabrikbetrieb : ZWF ; Organ des VDI-Kompetenzfeldes Informationstechnik (VDI-KfIT)
Y1  - 2003
SN  - 0932-0482 (Print)
SN  - 0947-0085 (Online)
VL  - 99
IS  - 12
SP  - 699
EP  - 702
ER  - 
TY  - THES
A1  - Ritz, Thomas
T1  - Die werkzeuggestützte Produktion von personalisierten Informationsdienstleistungen. - (IPA-IAO Forschung und Praxis ; 389)
Y1  - 2004
SN  - 3-936947-23-6
N1  - Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2003
PB  - Jost-Jetter
CY  - Heimsheim
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Fruth, Bernhard
A1  - Krause, Gregor
A1  - Meurer, D.
T1  - Einfluß der Verarbeitungsverfahren und verarbeitungsbedingter Werkstoffzusätze auf die dielektrischen Eigenschaften von Kunststoffen / B. Fruth, G. Krause, D. Meurer, K. Möller
Y1  - 1988
N1  - Ergebnisbericht 1986-87-88 Sonderforschungsbereich 106 RWTH Aachen: "Korrelation von Fertigung und Bauteileeigenschaften bei Kunststoffen"
CY  - Aachen
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Leerläufe als postulierte Kalibrierstandards fuer Messungen auf planaren Schaltungen
JF  - tm - Technisches Messen. 64. 1997 (1997), H. 6
Y1  - 1997
SP  - 230
EP  - 237
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich
JF  - tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2
Y1  - 1995
SP  - 66
EP  - 73
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung für systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 35. 1991 (1991)
Y1  - 1991
SP  - 555
EP  - 556
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993)
Y1  - 1993
SP  - 195
EP  - 204
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)
Y1  - 1994
SP  - 611
EP  - 622
ER  -