TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)
Y1  - 1994
SP  - 611
EP  - 622
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich
JF  - tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2
Y1  - 1995
SP  - 66
EP  - 73
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Neuartige Algorithmen fuer die Mikrowellen-Entfernungsmessung
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995)
Y1  - 1995
SP  - 817
EP  - 834
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Hillgärtner, Michael
A1  - Peier, Dirk
T1  - Einflussgrößen bei der Gütebestimmung von Modenverwirbelungskammern
JF  - HF-Report : Hochfrequenztechnik, Optoelektronik, EMV, Mikrowellentechnik, Kommunikationstechnik. 19 (2005), H. Februar-März
Y1  - 2005
SN  - 1431-827X
SP  - 33
EP  - 36
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Hillgärtner, Michael
A1  - Peier, Dirk
T1  - Effiziente Bestimmung der Kabelschirmdämpfung bei hohen Frequenzen in Modenverwirbelungskammern
JF  - Elektromagnetische Verträglichkeit : EMV 2006 ; Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, 7. - 9. März 2006, Messe Düsseldorf / Karl-Heinz Gonschorek. Veranst.: MESAGO-Messe-Frankfurt GmbH, Stuttgart
Y1  - 2006
SN  - 978-3-8007-2933-3
N1  - EMV <2006, Stuttgart> ; Mesago-Messe-Frankfurt <2006, Stuttgart>
SP  - 261
EP  - 268
PB  - VDE-Verl.
CY  - Berlin [u.a.]
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Hillgärtner, Michael
A1  - Peier, Dirk
T1  - Einflussgrössen bei der Gütebestimmung von Modenverwirbelungskammern
JF  - Elektromagnetische Verträglichkeit : EMV 2004, 12. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, 10. - 12. Februar 2004, Messe Düsseldorf ; [mit CD-ROM] / Veranst.: MESAGO-Messe-Frankfurt GmbH, Stuttgart. Hrsg.: Kurt Feser
Y1  - 2004
SN  - 3-8007-2810-9
N1  - EMV <2004, Stuttgart> ; Mesago-Messe-Frankfurt <2004, Stuttgart>
SP  - 79
EP  - 86
PB  - VDE-Verl.
CY  - Berlin [u.a.]
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Hillgärtner, Michael
A1  - Peier, Dirk
T1  - Nutzbarkeit bestehender, geschirmter Labore als Modenverwirbelungskammer
JF  - Elektromagnetische Verträglichkeit : EMV 2008, Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, 19. - 21. Februar 2008, Messe Düsseldorf / Gonschorek, Karl-Heinz
Y1  - 2008
SN  - 978-3-8007-3075-9
N1  - EMV <2008, Stuttgart> ; Mesago-Messe-Frankfurt <2008, Stuttgart>
SP  - 579
EP  - 586
PB  - VDE-Verl.
CY  - Berlin [u.a.]
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Hillgärtner, Michael
A1  - Rinkleff, T
T1  - Untersuchung eines hybriden EMV-Simulationsverfahrens anhand eines virtuellen Komponententests
JF  - Technisches Messen. 70 (2003), H. 3
Y1  - 2003
SN  - 0340-837X
N1  - 2. ISSN: 0178-2312; 3. ISSN: 0171-8096
SP  - 133
EP  - 140
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Hoffmann, Ulrich
T1  - Neue Wege in die Hochschule – Beispiel des berufsbegleitenden Studienganges Prozesstechnik der FH Aachen und der Rhein-Erft Akademie
JF  - HIS: Forum Hochschule. 2008 (2008), H. F14
Y1  - 2008
SN  - 1863-5563
SP  - 130
EP  - 138
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Hoffmann, Ulrich
A1  - Schermutzki, Margret
A1  - Winckelmann-Schlieper, Katja
T1  - Kompetenzbasierte Verzahnung von berufspraktischem und wissenschaftlichem Lernen : Der Studiengang Prozesstechnik der FH Aachen
JF  - Berufsbildung in Wissenschaft und Praxis (BWP). 39 (2010), H. 2
Y1  - 2010
SN  - 0341-4515
SP  - 32
EP  - 36
ER  -