TY  - JOUR
A1  - Kern, Alexander
T1  - Blitz-Schutzzonen mit Schirmungen und Schnittstellen
JF  - Blitzschutz für Gebäude und elektrische Anlagen : Vorträge der VDE/ABB-Fachtagung am 29. Februar und 1. März 1996 in Kassel / Veranst.: Ausschuß Blitzschutz und Blitzforschung (ABB) im VDE-Verband Dt. Elektrotechniker e.V. Wiss. Tagungsleit.: F. Noack. - (Verband Deutscher Elektrotechniker: VDE-Fachbericht ; 49)
Y1  - 1996
SN  - 3-8007-2161-9
N1  - Blitzschutztagung <1, 1996, Kassel> ; Verband Deutscher Elektrotechniker / Ausschuss für Blitzschutz und Blitzforschung
PB  - VDE-Verl.
CY  - Berlin [u.a.]
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kern, Alexander
T1  - Ertüchtigung des Blitzschutzsystems für ein Bürogebäude auf der Basis von VDE V 0185 Teil 100 (ENV 61024-1) und VDE 0185 Teil 103 (IEC 1312-1)
Y1  - 1998
N1  - Forum Verband Deutscher Blitzschutzfirmen e.V. <1998, Köln>
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kern, Alexander
T1  - Aktueller Stand zu Risikoabschätzungen bei Blitzeinschlägen - Was ist neu in der IEC 61662 Edition 2?
Y1  - 2000
N1  - Forum Verband Deutscher Blitzschutzfirmen e.V. <2000, Köln>
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kern, Alexander
A1  - Landers, E.-U.
T1  - Die neuen Blitzschutz-Vornormen der Reihe VDE-V 0185:2002
Y1  - 2002
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kern, Alexander
T1  - Risikomanagement für den Blitzschutz - Abschätzung des Blitzschadensrisikos nach der neuen Vornorm VDE V 0185 Teil 2 : 2002
N2  - Ein vorausschauendes Risikomanagement beinhaltet, Risiken zu kalkulieren. Es liefert Entscheidungsgrundlagen, um diese Risiken zu begrenzen und es macht transparent,welche Risiken sinnvoll über Versicherungen abgedeckt werden sollten. Bei Unternehmen, die mit umfangreichen elektronischenEinrichtungen produzieren oder Dienstleistungen erbringen (und das sind heutzutage wohl die meisten), muss auch das Risiko durch Blitzeinwirkungen besondere Berücksichtigung finden. Dabei ist zu beachten, dass der Schaden aufgrund der Nichtverfügbarkeit der elektronischen Einrichtungen und damit derProduktion bzw. der Dienstleistung und ggf. der Verlust von Daten den Hardwareschaden an der betroffenen Anlage oft bei weitem übersteigt.
KW  - Blitzschutz
KW  - Risikomanagement
KW  - Risikoabschätzung
KW  - Lightning protection
KW  - Risk management
KW  - Risk assessment
Y1  - 2003
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Wettingfeld, Jürgen
A1  - Kern, Alexander
A1  - Krämer, Heinz-Josef
A1  - Thormählen, Reyno
T1  - International anerkannte Blitzschutznormen : Ausgewogener und sicherer Schutz
N2  - Die Einleitung zur Norm DIN EN 62305-3 beschreibt klar und ein - deutig: Der vorliegende Teil der IEC 62305 behandelt den Schutz von baulichen Anlagen gegen materielle Schäden und den Schutz von Personen gegen Verletzungen durch Berührungs- und Schrittspannungen. Als das wesentlichste und effektivste Mittel zum Schutz von baulichen Anlagen gegen materielle Schäden gilt das Blitz - schutzsystem (LPS).
KW  - Blitzschutz
KW  - lightning protection
Y1  - 2009
PB  - Fachhochschule Aachen
CY  - Aachen
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Scheibe, Klaus
A1  - Kern, Alexander
T1  - Aktueller Stand der Normung zum Überspannungschutz
JF  - 9. VDE/ABB-Blitzschutztagung : Vorträge der 9. VDE/ABB-Fachtagung vom 27. bis 28. Oktober 2011 in Neu-Ulm / Veranst.: Ausschuss für Blitzschutz und Blitzforschung (ABB) im VDE Verband der Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik e.V. Wiss. Tagungsleitung: K. Stimper
Y1  - 2011
SN  - 978-3-8007-3380-4
N1  - VDE/ABB-Blitzschutztagung ; (9 ; 2011.10.27-28 ; Neu-Ulm)
SP  - 13
EP  - 17
PB  - VDE-Verl.
CY  - Berlin
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Darmo, J.
A1  - Dubecký, F.
A1  - Kordos, P.
T1  - Annealing characteristics of native defects in low-temperature-grown MBE GaAs / J. Darmo ; F. Dubecky ; P. Kordos ; A. Förster
JF  - Semiconducting and insulating materials 1996 : proceedings of the 9th Conference on Semiconducting and Insulating Materials (SIMC '9), April 29 - May 3, 1996, Toulouse, France / [IEEE]
Y1  - 1996
SN  - 0-7803-3095-1
N1  - 2. ISBN: 0-7803-3179-6 ; Conference on Semiconducting and Insulating Materials <9, 1996, Toulouse> ; Institute of Electrical and Electronics Engineers ; IEEE Cat. No.96CH35881
SP  - 67
EP  - ff.
CY  - Piscataway, NJ [u.a.]
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kern, Alexander
A1  - Klöters, Georg
A1  - Pferdmenges, Jörg
T1  - Blitzschutzoptimierung in der LST an nicht-elektrifizierten Strecken
JF  - Signal und Draht. 101 (2009), H. 4
Y1  - 2009
SN  - 0037-4997
SP  - 17
EP  - 21
PB  - DVV Media Group
CY  - Hamburg
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Kern, Alexander
T1  - Neue deutsche Blitzschutz-Normung. Reihe DIN EN 62305 / VDE 01 85-305-x:2006
JF  - Der Eisenbahningenieur. 58 (2007), H. 8
Y1  - 2007
SN  - 0013-2810
N1  - in der Bereichsbibliothek Bayernallee vorhanden
SP  - 18
EP  - 22
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Tillmann, K.
A1  - Förster, Arnold
T1  - Critical dimensions for the formation of interfacial misfit dislocations of In0.6Ga0.4As islands on GaAs(001)
JF  - Thin Solid Films. 368 (2000), H. 1
Y1  - 2000
SN  - 0040-6090
SP  - 93
EP  - 104
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Vitusevich, S. A.
A1  - Förster, Arnold
A1  - Reetz, W.
A1  - Lüth, H.
A1  - Belyaev, A. E.
A1  - Danylyuk, S. V.
T1  - Spectral Responsivity of single-quantum-well photodetectors
JF  - Applied Physics Letters. 77 (2000), H. 1
Y1  - 2000
SN  - 1077-3118
SP  - 16
EP  - 18
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Rosenauer, A.
A1  - Oberst, W.
A1  - Gerthsen, D.
T1  - Atomic scale analysis of the indium distribution in InGaAs/GaAs (001) heterostructures: segregation, lateral indium redistribution and the effect of growth interruptions. Rosenauer, A. ; Oberst, W. ; Gerthsen, D. ; Förster, A.
JF  - Thin Solid Films. 357 (1999)
Y1  - 1999
SN  - 0040-6090
SP  - 18
EP  - 21
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Zamdmer, N.
A1  - Hu, Qing
A1  - Verghese, S.
T1  - Mode-Discriminating Photoconductor and Coplanar Wave-Guide Circuits for Picosecond Sampling. Zamdmer, N.; Hu, Qing ; Verghese, S. ; Förster, A.
JF  - Applied Physics Letters. 74 (1999), H. 7
Y1  - 1999
SN  - 1077-3118
SP  - 1039
EP  - 1041
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Vitusevich, S. A.
A1  - Förster, Arnold
A1  - Indlekofer, K.-M.
A1  - Lüth, H.
A1  - Belyaev, A. E.
A1  - Glavin, B. A.
A1  - Konakova, R. V.
T1  - Tunneling Through X-Valley-Related Impurity States in GaAs/AlAs Resonant-Tunneling Diodes
JF  - Physical  Review . B. 61 (2000), H. 16
Y1  - 2000
SN  - 1550-235X
SP  - 10898
EP  - 10904
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
T1  - Layer Deposition I
JF  - Fundamentals of nanoelectronics / Stefan Blügel ... (ed.). - (Lecture manuscripts of the ... Spring School of the Department of Solid State Research ; 34). - (Schriften des Forschungszentrums Jülich : Materie und Material ; 14 ; 34)
Y1  - 2003
SN  - 3-89336-319-X
SP  - C2.1
EP  - C2.13
PB  - Forschungszentrum, Zentralbibliothek
CY  - Jülich
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Kiesslich, G.
A1  - Wacker, A.
A1  - Scholl, E.
T1  - Nonlinear charging effect of quantum dots in a p-i-n diode. Kiesslich, G.; Wacker, A.; Scholl, E.; Vitusevich, S.A.; Belyaev, A.E.; Danylyuk, S.V.; Forster, A.; Klein, N.; Henini, M.
JF  - Physical Review B. 68 (2003)
Y1  - 2003
SN  - 1550-235X
N1  - 125331 (6 Seiten)
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Stock, J.
A1  - Indlekofer, K. M.
T1  - Perspectives of resonant tunneling diodes
JF  - Recent research developments in materials science & engineering/ 1,2
Y1  - 2002
SN  - 81-7895-057-X
N1  - Nebent.: Materials science & engineering
SP  - 527
EP  - 556
PB  - Transworld Research Network
CY  - Trivandrum, India
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Förster, Arnold
A1  - Indlekofer, K.M.
A1  - Lüth, H.
T1  - Density-matrix description of a quantum dot system with variable lateral confinement in the single-electron tunneling regime. Indlekofer, K.M.; Förster, A.; Lüth, H.
JF  - Physica B: Condensed Matter. 314 (2002), H. 1-4
Y1  - 2002
SN  - 0921-4526
SP  - 499
EP  - 502
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Schwarzer, Klemens
A1  - Bieger, W.
T1  - Entwicklung eines solaren Kochers
JF  - Erneuerbare Energiequellen : Aktivitäten deutscher Hochschulen / zsgest. von F. A. Peuser ...
Y1  - 1987
SP  - 2
EP  - 3
PB  - Zentralstelle für Solartechnik
CY  - Hilden
ER  -