TY - JOUR A1 - Heptner, K. A1 - Wollert, Jörg T1 - FML-Report - VDI-Richtlinie 4485 'E-Commerce und Logistik' JF - Logistik für Unternehmen : das Fachmagazin der internen und externen Logistik Y1 - 2005 SN - 0930-7834 N1 - Printausg. in der Bibliothek vorhanden: 43 Z 513 VL - 19 SP - 58 EP - 59 ER - TY - JOUR A1 - Herrmann, Ulf A1 - Nava, P. T1 - Die Strahlung der Sonne einfangen JF - DLR-Nachrichten / Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt Y1 - 2005 SN - 0937-0420 VL - 109 IS - Sonderheft Solarforschung SP - 34 EP - 37 ER - TY - JOUR A1 - Herrmann, Ulf A1 - Schwarzenbart, Marc A1 - Dittmann-Gabriel, Sören T1 - Speicher statt Kohle. Integration thermischer Stromspeicher in vorhandene Kraftwerksstandorte JF - BWK : Das Energie-Fachmagazin Y1 - 2019 SN - 1436-4883 VL - 71 IS - 4 SP - 42 EP - 45 PB - Springer-VDI-Verl. CY - Düsseldorf ER - TY - JOUR A1 - Herrmann, Ulf A1 - Schwarzenbart, Marc A1 - Dittmann-Gabriel, Sören A1 - May, Martin T1 - Hochtemperatur-Wärmespeicher für die Strom- und Wärmewende JF - Solarzeitalter : Politik, Kultur und Ökonomie erneuerbarer Energien Y1 - 2019 SN - 0937-3802 VL - 31 IS - 2 SP - 18 EP - 23 ER - TY - JOUR A1 - Herzwurm, Georg A1 - Fehlmann, Thomas A1 - Pietsch, Wolfram A1 - Schockert, Sixten T1 - Der Qualität ein Haus. Best-Practice-Analyse des Quality Function Deployments JF - Qualität und Zuverlässigkeit : QZ Y1 - 2011 SN - 0720-1214 VL - 56 IS - 8 SP - 23 EP - 27 PB - Hanser CY - München ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - Praezise Streuparametermessungen sind der Schluessel zur Modellierung elektrischer Schaltungen JF - Neues von Rohde & Schwarz (1997) Y1 - 1997 SP - 22 EP - 23 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - Leerläufe als postulierte Kalibrierstandards fuer Messungen auf planaren Schaltungen JF - tm - Technisches Messen. 64. 1997 (1997), H. 6 Y1 - 1997 SP - 230 EP - 237 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten JF - Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH] Y1 - 1995 SN - 3-924651-45-0 N1 - MIOP ; (8, 1995, Sindelfingen) SP - 23 EP - 29 CY - Hagenburg ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger T1 - Fehlerkorrigierte Mehrtormessungen für frequenzumsetzende Komponenten mit NonLin-S JF - HF-Report : Hochfrequenztechnik, Optoelektronik, Mikrowellentechnik, Kommunikationstechnik. 22 (2008), H. 4 Y1 - 2008 SN - 1431-827X SP - 39 EP - 44 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Erkens, H. T1 - EVM- und BER-optimierter differentieller Einseitenbandmodulator / Erkens, H., Heuermann, H. JF - German Microwave Conference - GeMiC 2005 - : conference proceedings ; University of Ulm, April 5 - 7, 2005 [Elektronische Ressource] / ed.: Wolfgang Menzel. IMA, VDE ... Y1 - 2005 SN - 3-00-015423-X N1 - German Microwave Conference <2005, Ulm> PB - Univ CY - Ulm ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Graf, W. T1 - Vergleich mehrerer Naeherungsverfahren zur Berechnung des Wellenwiderstandes von Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Ergebnissen JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996) Y1 - 1996 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Graf, W. T1 - Direkte Messung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 40. 1997 (1997) Y1 - 1997 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Graf, W. T1 - Direkte on-wafer-Messung des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 41. 1998 (1998) Y1 - 1998 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung für systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 35. 1991 (1991) Y1 - 1991 SP - 555 EP - 556 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993) Y1 - 1993 SP - 195 EP - 204 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Schiek, Burkhard T1 - Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994) Y1 - 1994 SP - 611 EP - 622 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Stolle, Reinhard A1 - Schiek, Burkhard T1 - Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich JF - tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2 Y1 - 1995 SP - 66 EP - 73 ER - TY - JOUR A1 - Heuermann, Holger A1 - Stolle, Reinhard A1 - Schiek, Burkhard T1 - Neuartige Algorithmen fuer die Mikrowellen-Entfernungsmessung JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995) Y1 - 1995 SP - 817 EP - 834 ER - TY - JOUR A1 - Hillen, Walter T1 - Bildrestauration in der digitalen Radiographie mit Hilfe parallel arbeitender Signalprozessoren JF - Parallele Datenverarbeitung : Entwurfsmethoden, Bildverarbeitung, Simulation ; Workshop der Arbeitsgemeinschaft "Parallelverarbeitung an Fachhochschulen in NRW" am 19.6.1998 in Bochum / Jörg Krone ... (Hrsg.) Y1 - 1998 SN - 3-18-355310-4 N1 - Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 10, Informatik, Kommunikationstechnik ; 553 SP - 78 EP - 87 PB - VDI-Verl. CY - Düsseldorf ER - TY - JOUR A1 - Hillen, Walter A1 - Fischer, Felix T1 - Farbanalyse von gebackenen oder frittierten Nahrungsmitteln und Vorhersage des Acrylamid-Wertes JF - 10. Workshop Farbbildverarbeitung : Elektronische Ressource : 7.-8. Oktober 2004, Koblenz = 10th Workshop Color Image Processing / Detlev Droege ... Hrsg. Y1 - 2004 SN - 389959245X N1 - Workshop Farbbildverarbeitung <10, 2004, Koblenz> SP - 133 EP - 148 PB - Der Andere Verl. CY - Tönning [u.a.] ER -