TY  - JOUR
A1  - Ritz, Thomas
T1  - Mobile CRM-Systeme : Customer Relationship Management zur Unterstützung des Vertriebsaußendienstes
JF  - Zeitschrift für wirtschaftlichen Fabrikbetrieb : ZWF ; Organ des VDI-Kompetenzfeldes Informationstechnik (VDI-KfIT)
Y1  - 2003
SN  - 0932-0482 (Print)
SN  - 0947-0085 (Online)
VL  - 99
IS  - 12
SP  - 699
EP  - 702
ER  - 
TY  - THES
A1  - Ritz, Thomas
T1  - Die werkzeuggestützte Produktion von personalisierten Informationsdienstleistungen. - (IPA-IAO Forschung und Praxis ; 389)
Y1  - 2004
SN  - 3-936947-23-6
N1  - Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2003
PB  - Jost-Jetter
CY  - Heimsheim
ER  - 
TY  - CHAP
A1  - Ritz, Thomas
T1  - Production and distribution of personalized information services employing mass customization
T2  - 2nd Interdisciplinary World Congress on Mass Customization and Personalization : MCPC'03, October 6 - 8, 2003, Technische Universität München, Munic, Germany
Y1  - 2003
SP  - Part IV
PB  - Techn. Univ. (TUM)
CY  - München
ET  - CD-Ausg.
ER  - 
TY  - CHAP
A1  - Stender, Michael
A1  - Ritz, Thomas
T1  - Modeling of business-to-business mobile commerce processes
T2  - Electronic proceedings / ICPR 17, 17th International Conference on Production Research [Blacksburg, Virginia, USA, August 3 - 7, 2003]
Y1  - 2003
SN  - 0-9721257-3-6
CY  - Blacksburg, Va.
ET  - CD-ROM-Ausg.
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Fruth, B.
T1  - Dielectric Properties of Polyolefins Stressed by High Electrical Fields / Fruth, B. ; Krause, G.
JF  - Plenary lectures and contributions presented at the International Symposium on Polymer Materials : held in San Sebastian (Donostia), Spain, 31 August - 4 September, 1987 / symposium ed. G. M. Guzmán ; A. Santamaria
Y1  - 1988
SN  - 3-85739-220-7
N1  - International Symposium on Polymer Materials <1987, San Sebastián, Golfo de Vizcaya>
PB  - Huethig & Wepf
CY  - Basel
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Schuppe, W.D.
A1  - Saure, M.
A1  - Andress, H.
T1  - Sensitive Analytical and Physical Methods for Diagnosis of Variations in Polyolefin Plaques and Cable Insulations / W.D. Schuppe, M. Saure, H. Andress, K. Möller, D. Meurer, G. Krause
JF  - Proceedings of the 32nd session : 28th August - 3rd September.
Y1  - 1988
N1  - International Conference on Large Electric Systems, CIGRÉ <32, Paris, 1988>
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Meurer, D.
A1  - Klee, D.
T1  - Space Charge Formation Related to the Morphology of Polymers
JF  - ISE 6 : 6th International symposium on electrets : Papers
Y1  - 1988
N1  - International Symposium on Electrets <6, 1988, Oxford>
PB  - IEEE
CY  - Piscataway, NY
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Fruth, Bernhard
A1  - Krause, Gregor
A1  - Meurer, D.
T1  - Einfluß der Verarbeitungsverfahren und verarbeitungsbedingter Werkstoffzusätze auf die dielektrischen Eigenschaften von Kunststoffen / B. Fruth, G. Krause, D. Meurer, K. Möller
Y1  - 1988
N1  - Ergebnisbericht 1986-87-88 Sonderforschungsbereich 106 RWTH Aachen: "Korrelation von Fertigung und Bauteileeigenschaften bei Kunststoffen"
CY  - Aachen
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Möller, K.
A1  - Meurer, D.
T1  - Dielectric phenomena in semicrystalline polymers
JF  - IEEE Transaction on Electrical Insulation. Vol. 24 (1989), H. No. 2
Y1  - 1989
N1  - Digital Object Identifier 10.1109/14.90276
SP  - 215
EP  - 222
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Krause, Gregor
A1  - Meurer, D.
A1  - Klee, D.
T1  - Space charge formation related to the morphology of polymers
JF  - IEEE Transaction on Electrical Insulation. Vol. 24 (1989), H. No. 3
Y1  - 1989
N1  - Digital Object Identifier 10.1109/14.30883
SP  - 215
EP  - 222
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - Robust Algorithms for Txx Network Analyzer Self-Calibration Procedures
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 43 (1994), H. 1
Y1  - 1994
SN  - 0018-9456
SP  - 18
EP  - 23
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - Error corrected impedance measurements with a network analyzer
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 44 (1995), H. 2
Y1  - 1995
SN  - 0018-9456
SP  - 295
EP  - 299
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - Results of network analyzer measurements with leakage errors-corrected with direct calibration techniques
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5
Y1  - 1997
SN  - 0018-9456
SP  - 1120
EP  - 1127
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, B.
T1  - 15-term self-calibration methods for the error-correction of on-wafer measurements
JF  - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5
Y1  - 1997
SN  - 0018-9456
SP  - 1105
EP  - 1110
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Line Network Network (LNN): an alternative in-fixture calibration procedure
JF  - IEEE transactions on microwave theory and techniques : MTT ; a publication of the IEEE Microwave Theory and Techniques Society. 45 (1997), H. 3
Y1  - 1997
SN  - 0018-9480
SP  - 408
EP  - 413
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Calibration procedures with series impedances and unknown lines simplify on-wafer measurements
JF  - IEEE transactions on microwave theory and techniques : MTT ; a publication of the IEEE Microwave Theory and Techniques Society. 47 (1999), H. 1
Y1  - 1999
SN  - 0018-9480
SP  - 1
EP  - 5
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Calibration of network analyser measurements with leakage errors
JF  - Electronics letters. 30 (1994), H. 1
Y1  - 1994
SN  - 0013-5194
SP  - 52
EP  - 53
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
T1  - Leerläufe als postulierte Kalibrierstandards fuer Messungen auf planaren Schaltungen
JF  - tm - Technisches Messen. 64. 1997 (1997), H. 6
Y1  - 1997
SP  - 230
EP  - 237
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Stolle, Reinhard
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich
JF  - tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2
Y1  - 1995
SP  - 66
EP  - 73
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Heuermann, Holger
A1  - Schiek, Burkhard
T1  - Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung für systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren
JF  - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 35. 1991 (1991)
Y1  - 1991
SP  - 555
EP  - 556
ER  -