TY - JOUR
A1 - Hagemann, Hans-Jürgen
A1 - Bachmann, P. K.
A1 - Lade, H.
A1 - Leers, D.
T1 - Thermal properties of C/H-, C/H/O-, C/H/N- and C/H/X-grown polycrystalline CVD diamond. P. K. Bachmann, H. J. Hagemann, H. Lade, ...
JF - Diamond and Related Material. Vol 4. (1995), H. Issue 5-6
Y1 - 1995
N1 - abstract online:
SP - 820
EP - 826
PB - Elsevier Science
CY - New York, NY [u.a.]
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Stolle, Reinhard
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - Novel Algorithms for FMCW Range Finding with Microwaves. Stolle, R.; Heuermann, H.; Schiek, B.
Y1 - 1995
N1 - Conference proceedings / IEEE NTC '95, the Microwave Systems Conference; NTC <1995, Orlando, Fla.>
SP - 129
EP - 132
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
T1 - Praezise Streuparametermessungen sind der Schluessel zur Modellierung elektrischer Schaltungen
JF - Neues von Rohde & Schwarz (1997)
Y1 - 1997
SP - 22
EP - 23
ER -
TY - JOUR
A1 - Ritz, Thomas
A1 - Stender, Michael
ED - Weisbecker, Anette
T1 - Ad-hoc Anwendungsintegration mit mobilen CRM-Systement
JF - Electronic Business : Innovationen, Anwendungen und Technologien
Y1 - 2004
SN - 3-8167-6621-8
SP - 92
EP - 97
PB - Fraunhofer-IRB-Verl.
CY - Stuttgart
ER -
TY - JOUR
A1 - Ritz, Thomas
A1 - Benz, Axel
ED - Spath, Dieter
T1 - Informationserfassung im Außendienst
JF - CRM-Systeme in produzierenden Unternehmen. - (IAO-Forum : mit Anwenderberichten)
Y1 - 2004
N1 - Fraunhofer IAO Forum 31. März 2004
VL - 2004
PB - IRB-Verl.
CY - Stuttgart
ER -
TY - JOUR
A1 - Ritz, Thomas
T1 - Mobile CRM-Systeme : Customer Relationship Management zur Unterstützung des Vertriebsaußendienstes
JF - Zeitschrift für wirtschaftlichen Fabrikbetrieb : ZWF ; Organ des VDI-Kompetenzfeldes Informationstechnik (VDI-KfIT)
Y1 - 2003
SN - 0932-0482 (Print)
SN - 0947-0085 (Online)
VL - 99
IS - 12
SP - 699
EP - 702
ER -
TY - JOUR
A1 - Schürmann, Wilhelm
T1 - Wilhelm Schürmann
JF - Kunstforum International
N2 - Geboren 1946, lebt und arbeitet in Aachen. Studium der Chemie an der Technischen Hochschule Aachen. Danach als freiberuflicher Photograph tätig für verschiedene Tageszeitungen. Seit 1972 Lehrer für Photographie am Reiff Museum der TH-Aachen, Institut für Architektur. Seit 1973 Dozent für Photographie an der Volkshochschule Aachen. Ende 1973 Gründung der Galerie Lichttropfen in Aachen. Organisator zahlreicher Ausstellungen historischer und zeitgenössischer Photographie im In- und Ausland.
Y1 - 1976
N1 - Fotografien
VL - 1976
IS - 18
SP - 151
EP - 156
PB - Kunstforum International
CY - Köln
ER -
TY - JOUR
A1 - Schürmann, Wilhelm
T1 - v.l.n.r. - 17 Fotografien von Wilhelm Schürmann
JF - Kunstforum International (1983)
Y1 - 1983
N1 - Fotografien
SP - 222
ER -
TY - JOUR
A1 - Krause, Gregor
A1 - Fruth, B.
T1 - Dielectric Properties of Polyolefins Stressed by High Electrical Fields / Fruth, B. ; Krause, G.
JF - Plenary lectures and contributions presented at the International Symposium on Polymer Materials : held in San Sebastian (Donostia), Spain, 31 August - 4 September, 1987 / symposium ed. G. M. Guzmán ; A. Santamaria
Y1 - 1988
SN - 3-85739-220-7
N1 - International Symposium on Polymer Materials <1987, San Sebastián, Golfo de Vizcaya>
PB - Huethig & Wepf
CY - Basel
ER -
TY - JOUR
A1 - Grundmann, Reinhard
A1 - Bommes, Leonhard
T1 - Analyse von Kennfeldern drallgesteuerter Radialventilatoren
JF - HLH - Zeitschrift für Heizung, Lüftung, Klimatechnik, Haustechnik. 55 (2004), H. 8
Y1 - 2004
SN - 0017-9906
SP - 54
EP - 62
ER -
TY - JOUR
A1 - Krause, Gregor
A1 - Schuppe, W.D.
A1 - Saure, M.
A1 - Andress, H.
T1 - Sensitive Analytical and Physical Methods for Diagnosis of Variations in Polyolefin Plaques and Cable Insulations / W.D. Schuppe, M. Saure, H. Andress, K. Möller, D. Meurer, G. Krause
JF - Proceedings of the 32nd session : 28th August - 3rd September.
Y1 - 1988
N1 - International Conference on Large Electric Systems, CIGRÉ <32, Paris, 1988>
ER -
TY - JOUR
A1 - Krause, Gregor
A1 - Meurer, D.
A1 - Klee, D.
T1 - Space Charge Formation Related to the Morphology of Polymers
JF - ISE 6 : 6th International symposium on electrets : Papers
Y1 - 1988
N1 - International Symposium on Electrets <6, 1988, Oxford>
PB - IEEE
CY - Piscataway, NY
ER -
TY - JOUR
A1 - Krause, Gregor
A1 - Fruth, Bernhard
A1 - Krause, Gregor
A1 - Meurer, D.
T1 - Einfluß der Verarbeitungsverfahren und verarbeitungsbedingter Werkstoffzusätze auf die dielektrischen Eigenschaften von Kunststoffen / B. Fruth, G. Krause, D. Meurer, K. Möller
Y1 - 1988
N1 - Ergebnisbericht 1986-87-88 Sonderforschungsbereich 106 RWTH Aachen: "Korrelation von Fertigung und Bauteileeigenschaften bei Kunststoffen"
CY - Aachen
ER -
TY - JOUR
A1 - Krause, Gregor
A1 - Möller, K.
A1 - Meurer, D.
T1 - Dielectric phenomena in semicrystalline polymers
JF - IEEE Transaction on Electrical Insulation. Vol. 24 (1989), H. No. 2
Y1 - 1989
N1 - Digital Object Identifier 10.1109/14.90276
SP - 215
EP - 222
ER -
TY - JOUR
A1 - Krause, Gregor
A1 - Meurer, D.
A1 - Klee, D.
T1 - Space charge formation related to the morphology of polymers
JF - IEEE Transaction on Electrical Insulation. Vol. 24 (1989), H. No. 3
Y1 - 1989
N1 - Digital Object Identifier 10.1109/14.30883
SP - 215
EP - 222
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, B.
T1 - Robust Algorithms for Txx Network Analyzer Self-Calibration Procedures
JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 43 (1994), H. 1
Y1 - 1994
SN - 0018-9456
SP - 18
EP - 23
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, B.
T1 - Error corrected impedance measurements with a network analyzer
JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 44 (1995), H. 2
Y1 - 1995
SN - 0018-9456
SP - 295
EP - 299
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, B.
T1 - Results of network analyzer measurements with leakage errors-corrected with direct calibration techniques
JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5
Y1 - 1997
SN - 0018-9456
SP - 1120
EP - 1127
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, B.
T1 - 15-term self-calibration methods for the error-correction of on-wafer measurements
JF - IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM / Institute of Electrical and Electronics Engineers, Instrumentation and Measurement Group. 46 (1997), H. 5
Y1 - 1997
SN - 0018-9456
SP - 1105
EP - 1110
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - Line Network Network (LNN): an alternative in-fixture calibration procedure
JF - IEEE transactions on microwave theory and techniques : MTT ; a publication of the IEEE Microwave Theory and Techniques Society. 45 (1997), H. 3
Y1 - 1997
SN - 0018-9480
SP - 408
EP - 413
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
T1 - Calibration procedures with series impedances and unknown lines simplify on-wafer measurements
JF - IEEE transactions on microwave theory and techniques : MTT ; a publication of the IEEE Microwave Theory and Techniques Society. 47 (1999), H. 1
Y1 - 1999
SN - 0018-9480
SP - 1
EP - 5
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - Calibration of network analyser measurements with leakage errors
JF - Electronics letters. 30 (1994), H. 1
Y1 - 1994
SN - 0013-5194
SP - 52
EP - 53
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
T1 - Leerläufe als postulierte Kalibrierstandards fuer Messungen auf planaren Schaltungen
JF - tm - Technisches Messen. 64. 1997 (1997), H. 6
Y1 - 1997
SP - 230
EP - 237
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Stolle, Reinhard
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - Auswertemethoden zur Praezisions-Entfernungsmessung mit FMCW-Systemen und deren Anwendung im Mikrowellenbereich
JF - tm - Technisches Messen. 62. 1995 (1995), H. 2
Y1 - 1995
SP - 66
EP - 73
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - Robuster Algorithmus zur Streuparameterbestimmung für systemfehlerkorrigierte Netzwerkanalysatoren
JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 35. 1991 (1991)
Y1 - 1991
SP - 555
EP - 556
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - Error Corrected Impedance Measurements with a Network Analyzer
Y1 - 1994
N1 - 1994 Conference on Precision Electromagnetic Measurements digest : 27 June - 1 July 1994, Boulder, Colorado, USA / Organized by National Institute of Standards and Technology. Ed. by Edie DeWeese
SP - 125
EP - 126
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - A Generalization of the Txx Network Analyzer Self-Calibration Procedure
JF - Conference proceedings : monday 24th to thursday 27th august 1992, Helsinki University of Technology, Espoo, Finland ; [the international conference and exhibition designed for the Microwave Community]. Vol. 2
Y1 - 1992
SN - 0-946821-77-1
N1 - European Microwave Conference <22, 1992, Espoo> ; Teknillinen Korkeakoulu
SP - 907
EP - 912
PB - Microwave Exhibitions and Publishers
CY - Tunbridge Wells
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - The In-Fixture Calibration Procedure Line-Network-Network-LNN
JF - Conference proceedings : monday 6th to thursday 9th september 1993, Palacio de Congresos, Madrid, Spain ; [the international conference and exhibition designed for the Microwave Community]
Y1 - 1992
SN - 0-946821-23-2
N1 - European Microwave Conference <23, 1993, Madrid>
SP - 500
EP - 505
PB - Reed Exhibition Companies
CY - Tunbridge Wells
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - Scattering Parameter Measurements of Microstrip Devices using the Double-LNN Calibration Technique
JF - Conference proceedings : [Palais des Festivals et des Congrès Cannes, France, 5 - 8 September 1994]
Y1 - 1994
SN - 0-9518032-5-5
N1 - European Microwave Conference <24, 1994, Cannes>
PB - Nexus Business Communications
CY - Swanley
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - The double-LNN Calibration technique for scattering parameter measurements of microstrip devices
JF - Conference proceedings
Y1 - 1995
N1 - European Microwave Conference <25, 1995, Bologna>
SP - 343
EP - 347
PB - NEXUS House
CY - Kent
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
T1 - LZY: A Self-Calibration Approach in Competition to the LRM Method for On-Wafer Measurements
Y1 - 1995
N1 - 45th ARFTG Conference digest, Spring 1995 : [conference topic: Testing and design of RFIC'S], May 19, 1995, Orange County Convention Center, Orlando, Florida / Automatic RF Techniques Group. Publications chairman: Ed Godshalk; ARFTG Conference digest ; 4
SP - 129
EP - 136
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
T1 - Sure Methods of On-Wafer Scattering Parameter Measurements with Self-Calibration Procedures
Y1 - 1996
N1 - 46th ARFTG conference digest : November 30 - December 1. 1995, Safari Resort, Scottsdale, Arizona / Automatic RF Techniques Group. [Publ. chairman: Ed. Godshalk]
SP - 136
EP - 145
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
T1 - Microwave On-Wafer Measurements with Activ Needle Probe Tips
Y1 - 1997
N1 - 47th ARFTG Conference digest : June 20 - 21, 1996, Moscone Convention Center, San Francisco, California / Automatic RF Techniques Group. [Publication chair: Ed Godshalk
SP - 208
EP - 214
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - Results of Network Analyzer Measurements with Leakage Errors Corrected with the TMS-15-Term Procedure
Y1 - 1994
N1 - 1994 IEEE MTT-S International Microwave Symposium digest : May 23 - 27, 1994, San Diego Convention Center, San Diego, California / H. J. Kuno, ed.
SP - 1361
EP - 1364
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Baumann, F.-M.
A1 - Fauth, G.
A1 - Albert, M.
T1 - Results of Network Analyzer Measurements with Leakage Errors Corrected with the TMS-15-Term Procedure
JF - On-Line Moisture Analysis of Raw Coal
Y1 - 1994
N1 - 1993 International Symposium on On-Line Analysis of Coal : Vienna ; [proceedings].
SP - 1361
EP - 1364
ER -
TY - JOUR
A1 - Fabo, Sabine
T1 - Über Nahtgenossen und andere Verdächtige : Parasitenmode
JF - Spex : das Magazin für Popkultur (2003)
Y1 - 2003
SN - 0178-6830
SP - 64
EP - 65
ER -
TY - JOUR
A1 - Fabo, Sabine
ED - Könches, Barbara
T1 - Welcome to the training: Actionist Respoke interaktiv by Michael Jonoschek und Rüdiger Schlömer
JF - Bilder-Codes : Internationaler Medienkunstpreis 2002
Y1 - 2002
SN - 3-928201-28-X
SP - 41
EP - 48
PB - ZKM
CY - Karlsruhe
ER -
TY - JOUR
A1 - Fabo, Sabine
T1 - Ephemeriden : Mode, Kunst, Medien ; Strategien des Flüchtigen
JF - Kunstforum international
Y1 - 1998
SN - 0177-3674
VL - 1998
IS - 141
SP - 162
EP - 171
ER -
TY - JOUR
A1 - Fabo, Sabine
T1 - Parallelprozess Literatur : Joseph Beuys’ Zeichnungen zum Ulysses
JF - Kunstforum international
Y1 - 1998
SN - 0177-3674
VL - 1998
IS - 140
SP - 84
EP - 95
ER -
TY - JOUR
A1 - Wrede, Oliver
T1 - Mnemotechnik in graphischen Benutzeroberflächen
JF - Form / Form-Diskurs : Zeitschrift für Design und Theorie. 1 (1996), H. 2
Y1 - 1996
ER -
TY - JOUR
A1 - Schürmann, Wilhelm
T1 - Bilder aus meiner Straße : Dortmund 1979/80
JF - Kunstforum International (1980)
Y1 - 1980
N1 - Fotografien
SP - 86
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - LNN (Line-Network-Network): Verfahren zur Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren
JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 36. 1992 (1992)
Y1 - 1992
SP - 327
EP - 335
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - Neue Kalibrierverfahren fuer on-wafer-Messungen
JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 37. 1993 (1993)
Y1 - 1993
SP - 195
EP - 204
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - Sichere on-wafer-Streuparameter-Messungen mit Selbstkalibrierverfahren
JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1994 (1994)
Y1 - 1994
SP - 611
EP - 622
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Graf, W.
T1 - Vergleich mehrerer Naeherungsverfahren zur Berechnung des Wellenwiderstandes von Mikrostreifenleitungen mit experimentellen Ergebnissen
JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 39. 1996 (1996)
Y1 - 1996
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Graf, W.
T1 - Direkte Messung der Dispersion des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung
JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 40. 1997 (1997)
Y1 - 1997
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Graf, W.
T1 - Direkte on-wafer-Messung des Wellenwiderstandes einer Mikrostreifenleitung
JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 41. 1998 (1998)
Y1 - 1998
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Stolle, Reinhard
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - Neuartige Algorithmen fuer die Mikrowellen-Entfernungsmessung
JF - Kleinheubacher Berichte : Vorträge und Berichte der gemeinsamen Tagung des U.R.S.I.-Landesausschusses in der Bundesrepublik Deutschland / Hrsg.: Deutsche Telekom AG. 38. 1995 (1995)
Y1 - 1995
SP - 817
EP - 834
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
T1 - Selbstkalibrierverfahren zur Systemfehlerkorrektur von Streuparametermessungen auf Halbleitersubstraten
JF - Mikrowellen und Optronik : Kongreßunterlagen = Microwaves and optronics / MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik, Messehalle Sindelfingen, 30. Mai - 1. Juni 1995. [Hrsg.: Network GmbH]
Y1 - 1995
SN - 3-924651-45-0
N1 - MIOP ; (8, 1995, Sindelfingen)
SP - 23
EP - 29
CY - Hagenburg
ER -
TY - JOUR
A1 - Heuermann, Holger
A1 - Schiek, Burkhard
T1 - LNN( Line-Network-Network): The In-Fixture Calibration Procedure
Y1 - 1993
N1 - XXIVth General Assembly of the International URSI, Kyoto
SP - 149
EP - 149
ER -