TY  - JOUR
A1  - Thielemann, Frank
A1  - Lüdtke, C.
T1  - Einfluß des KonTraG im Unternehmensbereich
JF  - Wirtschafts-Nachrichten. 45 (2000), H. 8
Y1  - 2000
SN  - 1436-5588
SP  - 10
EP  - f.
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Thielemann, Frank
A1  - Lüdtke, C.
T1  - Risikomanagement - Aufbau eines Frühwarnsystems
JF  - Wirtschafts-Nachrichten. 45 (2000), H. 12
Y1  - 2000
SN  - 1436-5588
SP  - 14
EP  - ff
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Tillmann, K.
A1  - Förster, Arnold
T1  - Critical dimensions for the formation of interfacial misfit dislocations of In0.6Ga0.4As islands on GaAs(001)
JF  - Thin Solid Films. 368 (2000), H. 1
Y1  - 2000
SN  - 0040-6090
SP  - 93
EP  - 104
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Vitusevich, S. A.
A1  - Förster, Arnold
A1  - Indlekofer, K.-M.
A1  - Lüth, H.
A1  - Belyaev, A. E.
A1  - Glavin, B. A.
A1  - Konakova, R. V.
T1  - Tunneling Through X-Valley-Related Impurity States in GaAs/AlAs Resonant-Tunneling Diodes
JF  - Physical  Review . B. 61 (2000), H. 16
Y1  - 2000
SN  - 1550-235X
SP  - 10898
EP  - 10904
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Vitusevich, S. A.
A1  - Förster, Arnold
A1  - Reetz, W.
A1  - Lüth, H.
A1  - Belyaev, A. E.
A1  - Danylyuk, S. V.
T1  - Spectral Responsivity of single-quantum-well photodetectors
JF  - Applied Physics Letters. 77 (2000), H. 1
Y1  - 2000
SN  - 1077-3118
SP  - 16
EP  - 18
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Vitusevich, S. A.
A1  - Förster, Arnold
A1  - Reetz, W.
A1  - Lüth, H.
A1  - Belyaev, A. E.
A1  - Danylyuk, S. V.
T1  - Fine structure of photoresponse spectra in a double-barrier resonant tunnelling diode
JF  - Nanotechnology. 11 (2000), H. 4
Y1  - 2000
SN  - 1361-6528
SP  - 305
EP  - 308
ER  -